胡為東系列文章之六--小電壓電源噪聲的測量
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影響電源噪聲測試結(jié)果的主要因素有：在電源噪聲測試中，通常有如下幾個問題導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確：
l是否需要增加20MHZ的濾波
l示波器的量化誤差
l使用衰減因子大的探頭測量小電壓
l探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大
1、是否需要增加20MHZ的濾波
過去我們在進(jìn)行電源紋波測試過程中，由于電源導(dǎo)致的噪聲頻率通常比較低，因此通常默認(rèn)需要加20MHZ的濾波，目的是濾除高于20MHZ以上的噪聲，來驗證主要由于電源因素引起的噪聲大小。但是在實際情況下，往往還需要驗證在所有頻段上電源上的噪聲情況如何，因此我們需要提前弄清楚是否需要增加20MHZ的濾波。如下圖所示為某DDR2/DDR3對電源紋波的要求：
圖1某DDR2的手冊對電源噪聲的要求
圖2某DDR3的手冊對電源噪聲的要求
2、量化誤差
示波器存在量化誤差，通常實時示波器的ADC為8位，把模擬信號轉(zhuǎn)化為2的8次方（即256個）量化的級別，當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時，則增大了量化的間隔，減小了精度，準(zhǔn)確的測量需要調(diào)節(jié)示波器的垂直刻度（必要時使用可變增益），盡量讓波形占滿屏幕，充分利用ADC的垂直動態(tài)范圍。在圖3中藍(lán)色波形信號（C3）的垂直刻度是紅色波形（C2）四分之一，對兩個波形的上升沿進(jìn)行放大（F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)），然后對放大的波形作長余輝顯示，可以看到，右上部分的波形F1有較多的階梯（即量化級別），而右下部分波形F2的階梯較少（即量化級別更少）。如果對C2和C3兩個波形測量一些垂直或水平參數(shù)，可以發(fā)現(xiàn)占滿屏幕的信號C2的測量參數(shù)統(tǒng)計值的標(biāo)準(zhǔn)偏差小于后者的。說明了前者測量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。
另外為了更加精確的測量小電壓的電源噪聲，可以選擇使用具有更高ADC位數(shù)的示波器，如力科新推出的12位HRO系列的示波器。
3、避免使用衰減因子大的探頭測量小電壓
通常測量電源噪聲，使用有源或者無源探頭，探測某芯片的電源引腳和地引腳，然后示波器設(shè)置為長余輝模式，最后用兩個水平游標(biāo)來測量電源噪聲的峰峰值。這種方法有一個問題是，常規(guī)的無源探頭或有源探頭，其衰減因子為10，和示波器連接后，垂直刻度的最小檔位為20mV，在不使用DSP濾波算法時，探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例，如果按5％來算，其允許的電源噪聲為90mV，探頭的噪聲已經(jīng)接近待測試信號的1/3，所以，用10倍衰減的探頭是無法準(zhǔn)確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實際測試1.8V噪聲時，垂直刻度通常為5-10mV/div之間。
對于小電源的電壓測試，我們推薦衰減因子為1的無源傳輸線探頭。使用這類探頭時，示波器的最小刻度可達(dá)2mV/div，不過其動態(tài)范圍有限，偏移的可調(diào)范圍限制在+/-750mV之間，所以，在測量常見的1.5V、1.8V電源時，需要隔直電路（DC-Block）后再輸入到示波器。如圖4為力科的PP066傳輸線探頭，該探頭的地與信號的間距可調(diào)節(jié)，探頭的地針可彈性收縮，操作起來非常方便。通過同軸電纜加隔直模塊后連接到示波器通道上。
在電源噪聲測試中，還存在示波器通道輸入阻抗選擇的爭議。示波器的通道有DC50/DC1M/AC1M三個選項可選（對于高端示波器，可能只有DC50一個選項）。一些工程師認(rèn)為應(yīng)該使用1M歐的輸入阻抗，另一些認(rèn)為50歐的輸入阻抗更合適。
在測試中我們發(fā)現(xiàn)：如果使用1倍衰減的探頭測試，當(dāng)示波器通道輸入為1M歐時，通常其測量出的電源噪聲大于50歐輸入阻抗的。原因是：高頻電源噪聲從同軸電纜傳輸?shù)绞静ㄆ魍ǖ篮?，?dāng)示波器輸入阻抗是50歐時，同軸電纜的特性阻抗50歐與通道的完全匹配，沒有反射；而通道輸入阻抗為1M歐時，相當(dāng)于是高阻，根據(jù)傳輸線理論，電源噪聲發(fā)生反射，這樣，導(dǎo)致1M歐輸入阻抗是測試的電源噪聲高于50歐的。所以，測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗。
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