測試LTE從哪里開始？

　　表2：UE接收器測量指標

　　表2中的兩個測試用于驗證接收性能。有了以上測量的組合，挑戰(zhàn)現(xiàn)在變成如何將它們應用到幾乎無限多種可能的移動設備配置中。

　　LTE測試計劃開發(fā)

　　測試計劃開發(fā)有很多種方法，其中包括：尋找設計中可能的故障模式；采用標準機構的建議；集成電路制造商的建議；生產(chǎn)中類似設備過去的歷史。

　　不幸的是，就LTE之類的新技術而言，可作為建立測試計劃基礎的經(jīng)驗可能非常有限。各種器件制造商可能沒有披露設計內(nèi)部的詳細情況，而且對相對較新的設計而言，制造商本身也可能會經(jīng)驗有限。

　　因此，制造商經(jīng)常自行開發(fā)測試計劃，并且有可能退而采用標準機構的測試規(guī)范，將其作為基準。

　　表3代表了一個為LTE用戶設備發(fā)送器開發(fā)的測試計劃。雖然我們還想進行另外幾項測試，再宣布被測設備（DUT）在生產(chǎn)測試方面“合格”，但是對于本討論來說，這個子集非常有用。

　　表3的每一列從左至右代表一個測試配置，每種配置分別由每列頂部的參數(shù)指定。一般情況下，在討論測試配置時，我們討論的是DUT所處的穩(wěn)態(tài)，例如恒定調(diào)制率和恒定功率電平等。每列的下半部分表示要對每種配置進行的測量。

　　表3：源于3GPP的測試規(guī)范

　　在表4中，我們將沿著這個測試計劃的開發(fā)一節(jié)一節(jié)地瀏覽。本案中的測試開發(fā)人員擁有豐富的LTE知識，對用于LTE的3GPP測試規(guī)范有很好的了解——他被認為是測試其他技術移動設備的專家。

　　表4：對源于3GPP的測試規(guī)范的討論

　　請注意，該作者對所有測試都使用了-57dBm的RX功率電平。因為RX功率與TX測量沒有直接聯(lián)系，所以不管它設在什么電平都沒有問題。

　　注：一般假定該測試計劃將按照DUT的能力被一致地應用到各種頻帶/信道上。3GPP建議采用每個頻帶的低、中和高信道對設備進行測試。按照某些信道配額，這可能意味著只有單個信道得到測試。

　　從測試覆蓋范圍的角度來說，該測試計劃的作者做了一項很好的工作：測試了DUT的性能邊界。他測試了最大和最小RB（資源塊）分配、最大和最小調(diào)制率以及最大和最小功率電平。他按照RB分配考察了整個信道的變化。該測試引自3GPP測試規(guī)范的建議，并與之完全相符。生產(chǎn)中的這種測試計劃不大可能漏掉很多問題（如果有的話）。

　　讓我們在測試處理量的方面檢查一下這個測試計劃，因為我們的目標畢竟是盡可能快地有效測試DUT。當您看這個計劃時，有兩件事非常突出。表格非常稀疏，但配置數(shù)卻非常多。

　　鑒于Iqxstream支持數(shù)據(jù)捕獲與分析分離的方法，測試時間很大程度上由配置捕獲周期決定，而不是由每次捕獲計算的測量數(shù)決定。這就表明，針對處理量優(yōu)化的測試計劃要盡量減少配置數(shù)，同時增加測量數(shù)。這更傾向于測量密度更大的更窄表格。

　　讓我們同樣檢查一下測試工程師是如何選擇不同配置的。在上例中，測試完整考察了一組參數(shù)，然后正交轉入下一組。測試1~3完整考察了RB偏移方面的變化，然后改變RB塊大小，再次考察了不同偏移的影響。在實驗室環(huán)境中，這種控制對于追蹤設計中不合格變化的源頭來說至關重要，但是在制造測試環(huán)境中，這種正交性卻不太重要。

　　簡單缺陷示例

　　用一個簡單的示例來看一下模擬性能中的缺陷是如何發(fā)生的。假定后調(diào)制模擬濾波器發(fā)生頻偏，截止頻率侵入信道的上邊緣。其結果將是功率輸出將在信道的上邊緣處偏低。這個故障在頻帶上側的1RB測試和12RB測試中都會顯示出來，也就是測試配置3和8中的功率測量。故障在50RB塊的EVM平坦度測量中也可以顯示出來。