測試LTE從哪里開始？

　　請記住，在生產(chǎn)中我們僅僅想要確定的是DUT是“好”還是“壞”。一旦識別它是“壞”的，可以將這個DUT放在一邊，進(jìn)行進(jìn)一步的檢查和修理。如果隔離問題會顯著增加測試時間，那么就不需要也不應(yīng)該讓生產(chǎn)線去采用這些隔離問題所需的測試。

　　然后，可以合乎邏輯地刪除測試表中的配置3或8，因?yàn)樗鼈兲峁┑臏y試范圍相似。這些類型的重復(fù)在整個測試計(jì)劃中經(jīng)常出現(xiàn)。雖然有些重復(fù)可能是需要或是必要的，但卻不應(yīng)造成浪費(fèi)。
　

　　壓縮測試計(jì)劃

　　看到原始的測試計(jì)劃時，壓縮就是用來將其改進(jìn)以供在Iqxstream上執(zhí)行的一個合適術(shù)語?？倻y試時間將很大程度上由測試配置數(shù)決定。并且，通過將分析部分與數(shù)據(jù)捕獲分開，我們能夠以最小的成本完成比給定捕獲多得多的測量。因此，我們的目標(biāo)應(yīng)該是在減少測試配置數(shù)的同時，針對每次捕獲完成更多的測量。讓我們?yōu)g覽一下這種壓縮操作（表5）。

　　表5：LTE測試計(jì)劃縮減

　　手機(jī)中的各種調(diào)制方案在電路上一般采用不同的數(shù)據(jù)通路。因此，盡管我們想要在手機(jī)中檢查所有的調(diào)制方案，但很可能卻不需要驗(yàn)證所有的變化。其原因是它們一般在數(shù)字域中產(chǎn)生，且不受模擬量變化的影響。

　　讓我們從挑選絕對想要保存的配置開始。配置1、12和20考察了調(diào)制和RB分配的極端情況，配置4提供了一種適中且可能典型的RB分配測試。這4個配置是符合邏輯的候選項(xiàng)，應(yīng)予以保留。

　　對于TX質(zhì)量測量，重點(diǎn)一般應(yīng)放在最大功率的測量上，因?yàn)檫@些測量一般對大功率電路是最大的挑戰(zhàn)。如果從頻帶/信道的一個邊緣到另一邊緣會有輸出功率的變化，它們就會在單RB配額測量中顯示出來。因此，具有最大RB偏移的配置3也應(yīng)作為配置1的最小RB偏移的補(bǔ)充而加以保留。

　　配置2是需要被削減的候選項(xiàng)，因?yàn)樗鼉H測試了信道的中間RB偏移。因?yàn)槟M問題本身通常將在整個頻帶或在頻帶邊緣顯示出來，所以這種中間測量幾乎沒有什么價值。

　　采用配置1和3在不同RB偏移的頻帶邊緣測試了模擬量的變化。因此，我們可以安全地取消配置8到11，因?yàn)樗鼈兣c配置4到7只是在RB偏移上有所差異。

　　配置20代表了PA和其他大功率電路上壓力測試的一種形式，而配置21實(shí)際上代表了最高速率運(yùn)行的最現(xiàn)實(shí)的情況。最高速率運(yùn)行只有在靠近基站時才有可能發(fā)生，因此，一般情況下PA會設(shè)定在低功率設(shè)置。我們應(yīng)至少在低功率狀態(tài)下完成一次TX質(zhì)量測量，因?yàn)楣β史糯笃髟谄渥畲蠊β试O(shè)置以下的 63dB將會以非常不同的模式運(yùn)行。因此，配置21仍然是一種很有價值的測試配置。

　　配置14和15可用來測試特定的絕對功率設(shè)置能力，但前提是這種能力應(yīng)當(dāng)在任何中間功率測量都可能進(jìn)行的整個運(yùn)行范圍內(nèi)始終適用。因此，我們將保留配置5作為設(shè)置中間功率電平能力的測量，而刪除配置14和15。

　　讓我們?yōu)g覽一下余下的配置，看看還剩下哪些。

　　配置6和7分別將功率降低到-30dBm和-40dBm，但是沒有理由相信這些測試的更簡單調(diào)制和更低RB配額，會揭示出任何配置21的更復(fù)雜波形沒有發(fā)現(xiàn)的問題，并且-30dBm和-40dBm之間也不會有很大的差異。所以這些測試可以被去除。

　　測試配置13也有同樣的理由。這也是比測試21更簡單的配置。

　　測試配置16、17、18和19也是相同情況。這些測試針對在16QAM運(yùn)行的更簡單的12RB配額，驗(yàn)證了RB偏移和功率變化下的運(yùn)行。在前文已經(jīng)驗(yàn)證了配置1和3中不同的RB偏移，而調(diào)制方案在配置20和21中得到證實(shí)。所以這四種測試成為了刪除的候選項(xiàng)。

　　在這個過程中，我們?nèi)コ舜罅康臏y試配置，但是如前文所述，我們看到的是一個稀疏的測試矩陣。由于向特定測試配置增加測量幾乎或根本不會產(chǎn)生任何相關(guān)成本，那么就讓我們來填補(bǔ)其中的一些空白。

　　測試計(jì)劃表（表6）中加入了更多的測試并進(jìn)行了少許進(jìn)一步調(diào)整。

　　表6：壓縮測試計(jì)劃調(diào)整

　　本文小結(jié)

　　生產(chǎn)測試的主要目標(biāo)是盡可能多地測試移動設(shè)備，發(fā)現(xiàn)制造缺陷，同時最大程度地縮短測試時間。為達(dá)到這一點(diǎn)，利用IQxstream的“捕獲一次，測量多個”能力，可以獲得測試速度以及整體測試范圍的顯著優(yōu)勢。

　　相比以3GPP測試規(guī)范為中心的計(jì)劃，具有類似測試范圍的壓縮計(jì)劃的運(yùn)行時間僅為其1/3。

　　就LTE等復(fù)雜的空中接口而言，在測試計(jì)劃開發(fā)中縮小每個參數(shù)的范圍，確認(rèn)什么參數(shù)將對DUT造成壓力，并確定IC測試和實(shí)驗(yàn)室測試已經(jīng)證實(shí)鎖定到數(shù)字設(shè)計(jì)中的參數(shù)非常重要。

　　IQxstream在對比討論生產(chǎn)測試與更加常見的實(shí)驗(yàn)室測試環(huán)境時，代表著全新的價值主張。其多DUT功能和“捕獲一次，測量多個”能力結(jié)合將數(shù)據(jù)捕獲與分析相分離的架構(gòu)，令制造環(huán)境的處理量和靈活度達(dá)到了前所未有的水平。