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測試LTE從哪里開始?

作者: 時間:2017-02-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  使用任何新技術(shù)時,生產(chǎn)工程師面臨的最大挑戰(zhàn)就是要測試哪些內(nèi)容以及為什么要測試它們。對于現(xiàn)代化智能手機(jī)或平板電腦這樣復(fù)雜的設(shè)備來說,這一點尤其棘手。至于LTE,其復(fù)雜程度前所未有,完全測試下來就需要將設(shè)備整天放在測試儀上。

  生產(chǎn)中的基本假設(shè)必須是,工程部門交付的設(shè)計能夠滿足客戶的所有需求并且在正確組裝以后能夠?qū)崿F(xiàn)一致的功能。盡管支持這一假設(shè)會為設(shè)計團(tuán)隊及其流程增加負(fù)擔(dān),但如果沒有這一保證,對于當(dāng)今極其復(fù)雜的設(shè)備,測試范圍將會過大而無法檢查出所有的可能性。生產(chǎn)車間不是檢驗數(shù)百萬固件生產(chǎn)線或是檢驗與數(shù)百萬門級數(shù)字信號處理(DSP)/專用集成電路(ASIC)設(shè)計相關(guān)的硬件功能的地方。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201702/338243.htm

  生產(chǎn)測試的主要目標(biāo)是測試盡可能多的移動設(shè)備,發(fā)現(xiàn)制造缺陷,同時最大程度地縮短測試時間。軟件和數(shù)字設(shè)計已在工程和一致性測試中經(jīng)過了驗證。數(shù)字集成電路在其生產(chǎn)過程中已進(jìn)行了廣泛測試。一旦出現(xiàn)數(shù)字故障,通常會導(dǎo)致手機(jī)出現(xiàn)無法開機(jī)、不能產(chǎn)生輸出或不能接收信號等災(zāi)難性后果。這些故障通常最好是在根本沒有任何測試儀介入的情況下,通過內(nèi)部上電測試這樣的簡單技術(shù)和通過使用校驗和來發(fā)現(xiàn)。因此,最優(yōu)的生產(chǎn)測試注重于物理層測量,該領(lǐng)域展現(xiàn)了與制造過程相關(guān)的最大程度的可變性。

  以下各節(jié)討論了LTE的測試以及如何對物理層測試儀(如LitePoint公司的Iqxstream,見圖)的測試進(jìn)行優(yōu)化。

  物理層測量

  物理層測試關(guān)注空中接口的最底層。其目標(biāo)是確定成功傳輸無線信號必不可少的重要參數(shù)的一致性。發(fā)射功率、發(fā)射波形質(zhì)量和發(fā)射頻率精度對移動電臺的性能都至關(guān)重要。在接收端,移動設(shè)備在最低和最高信號電平成功解碼所接收信號的能力,是其在網(wǎng)絡(luò)中成功操作的關(guān)鍵。

  LTE的3GPP測試規(guī)范包含大量不同的測試手段,用來確定LTE規(guī)范的符合性。這些測試中有很多存在一定程度的重疊。鑒于數(shù)字域內(nèi)的實現(xiàn)程度,在一臺移動設(shè)備和另一臺之間的很多測量不會有所差異。一般認(rèn)為用戶設(shè)備(UE)發(fā)送器(表1)測試足以檢測到生產(chǎn)環(huán)境中的問題。

表1:UE發(fā)送器測量指標(biāo)

  在很大程度上,鄰頻道泄漏功率比(ACLR)、占用帶寬和頻譜發(fā)射模板(SEM)都在解決相同的問題。一般在模擬輸出鏈路的最終部分都存在某種劣化,或者在DUT內(nèi)有產(chǎn)生偽信號的噪聲源。因此,將只會指定這些測量的一種作為測試計劃的一部分。

  與最終輸出位于天線連接器以供評估的發(fā)射鏈路不同,接收信號在被完全解碼之前始終處于DUT內(nèi)部。幸運的是,雖然在接收鏈路中有許多可能劣化的器件,但幾乎所有的劣化都將在接收閾值或其附近的接收誤碼率測量中顯示出來。物理層測試儀通常依賴于DUT報告接收測試結(jié)果的能力。由于接收質(zhì)量監(jiān)測是現(xiàn)代空中接口操作的一個重要部分,所以將此數(shù)據(jù)路由至外部終端接口是一個簡單明了的方法。大部分(如果不是全部的話)集成電路制造商都支持某種或其他形式的誤碼率測試。


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