IBIS建?!?部分:為何以及如何創(chuàng)建您自己的IBIS模型
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/202204/433293.htm
簡介
在構(gòu)建任何系統(tǒng)時(shí),仿真都發(fā)揮著關(guān)鍵作用。它幫助設(shè)計(jì)人員預(yù)見問題,進(jìn)而避免費(fèi)時(shí)且成本高昂的修改。我們的目標(biāo)始終是一次就成功!在仿真高速數(shù)字接口時(shí),如果設(shè)計(jì)不當(dāng),簡單的PCB走線可能會(huì)影響信號質(zhì)量。在信號完整性仿真中,IBIS(輸入/輸出緩沖器信息規(guī)范)模型用來表示器件的數(shù)字接口。
如IBIS系列文章的第1部分所述,IBIS是一個(gè)行為模型,通過以表格形式列出的電流與電壓(I-V)和電壓與時(shí)間(V-T)數(shù)據(jù)來描述器件的數(shù)字接口的電氣特征。IBIS模型應(yīng)盡量準(zhǔn)確,且不含任何解析錯(cuò)誤,避免在之后使用時(shí)出現(xiàn)問題。此外,對于具有數(shù)字接口的每個(gè)部件或器件,都應(yīng)該提供可用的IBIS模型。這樣客戶需要時(shí),可直接從制造商的網(wǎng)頁上下載。但是,事實(shí)并非總是如此。對于IBIS模型用戶,他們常遇到的一個(gè)問題就是模型的可用性。當(dāng)他們在設(shè)計(jì)中選用的部件沒有IBIS模型時(shí),其產(chǎn)品開發(fā)可能受阻。
IBIS模型最好是由其制造商提供;但是,用戶也可以創(chuàng)建IBIS模型。本文介紹如何使用LTspice,基于SPICE模型創(chuàng)建最基礎(chǔ)的IBIS模型。下文使用IBIS建模手冊(IBIS 4.0版)中的規(guī)格來介紹LTspice仿真設(shè)置。還要介紹如何使用定性和定量品質(zhì)因數(shù)來驗(yàn)證IBIS模型。
何謂“最基本的”IBIS模型?
為了幫助客戶使用LTspice創(chuàng)建基本的IBIS模型,需要先定義“基本”一詞?;镜腎BIS模型不僅取決于I/O模型關(guān)鍵字,還取決于需要建模的數(shù)字緩沖器的類型。這意味著需要重新審視IBIS的早期版本,以定義建立緩沖器模型需要滿足的最低要求,以及當(dāng)時(shí)建模的數(shù)字接口的類型。事實(shí)證明,單端CMOS緩沖器是可以使用IBIS建模的最簡單的數(shù)字IO之一,本文將予以介紹。
圖1 3態(tài)CMOS緩沖器的IBIS模型
表1 基于Model_type的IBIS模型組件匯總
Model_type | [封裝] | C_comp | [GND_ Clamp] | [Power_ Clamp] | [下拉] | [上拉] | V-T表 | [斜坡] |
輸入 | ? | ? | ? | ? | — | — | — | — |
3態(tài) | ? | ? | ? | ? | ? | ? | ? | ? |
I/O | ? | ? | ? | ? | ? | ? | ? | ? |
圖1顯示3態(tài)CMOS緩沖器IBIS模型的結(jié)構(gòu)。如第1部分所述,IBIS模型中的組件或關(guān)鍵字取決于模型類型。表1匯總列出基本的IBIS模型的組件,具體由Model_type決定。
應(yīng)用案例
在本文中,我們將使用一個(gè)假設(shè)的ADxxxx器件的LTspice模型來創(chuàng)建IBIS模型。它是一個(gè)帶有使能引腳的單輸入和單輸出數(shù)字緩沖器。因此,得到的IBIS模型將具有兩個(gè)輸入(DIN1和EN)、一個(gè)三態(tài)輸出(DOUT1)。
一般來說,生成IBIS模型有五個(gè)基本步驟:
■ 建立預(yù)建模程序。
■ 對從SPICE模型中提取的C_comp、V-I和V-T數(shù)據(jù)進(jìn)行LTspice仿真。
■ 格式化IBIS文件。
■ 使用IBIS解析器測試檢查文件。
■ 比較IBIS模型與SPICE模型在相同加載條件下的仿真結(jié)果。
IBIS模型提供典型數(shù)據(jù)、最小數(shù)據(jù)和最大數(shù)據(jù)。它們通過工作電源電壓范圍、溫度和工藝來確定[HA1]。為簡潔起見,本文只討論典型條件。
Ibischk Golden Parser系列可用于檢查IBIS模型是否符合IBIS規(guī)范。ibischk可執(zhí)行文件可從IBIS.ORG網(wǎng)頁免費(fèi)獲取。本文使用集成ibischk的第三方IBIS模型編輯軟件。
預(yù)建模程序
在開始仿真之前,用戶應(yīng)該下載器件的數(shù)據(jù)手冊,并安裝SPICE模型和LTspice文件。通過確定部件具備的數(shù)字接口數(shù)量和類型(例如,輸入、開漏、三態(tài)等),對部件進(jìn)行初始評估。
根據(jù)器件數(shù)據(jù)手冊,確定工作電源電壓、工作溫度、集成電路(IC)封裝類型、器件引腳排列、數(shù)字輸出時(shí)序規(guī)格的加載條件(RLoad和/或CLoad),以及數(shù)字輸入的低電平輸入電壓(VINL)和高電平輸入電壓(VINH)。ADxxx SPICE模型如圖1所示,其指標(biāo)參數(shù)列在表2。
通過使用關(guān)鍵字,將有關(guān)器件數(shù)字接口的所有信息匯集到一個(gè)IBIS文件中。關(guān)鍵字是IBIS模型中用括號括起來的標(biāo)識符,如第1部分所述。更多詳細(xì)信息請參閱此部分內(nèi)容。
圖2 Adxxxx 3態(tài)數(shù)字緩沖器SPICE模型
表2 ADxxxx數(shù)據(jù)手冊參數(shù)
數(shù)據(jù)手冊參數(shù) | 值 |
VDD | 1.8 V(典型值) |
工作溫度 | 25°C |
VINL | 0.3 × VDD |
VINH | 0.7 × VDD |
IC封裝 | 6引腳SOT-23 |
CLoad | 15 pF |
與IC封裝模型相關(guān)的關(guān)鍵字是[Package]。它包含RLC(電阻-電感-電容)寄生參數(shù),代表從芯片焊盤到IC焊盤/引腳的連接。此信息可從制造商處獲得。也可以查找另一個(gè)IBIS文件的[Package]數(shù)據(jù),只要該器件采用的封裝與正在評估的器件完全相同,并且來自同一制造商。6引腳SOT-23封裝的器件封裝寄生參數(shù)如表3所示。
表3 6引腳SOT-23封裝寄生參數(shù)
[封裝] | |||
變量 | 典型值 | 最小值 | 最大值 |
R_pkg | 1.595E-01 | NA | NA |
L_pkg | 4.455E-09 | NA | NA |
C_pkg | 0.370E-12 | NA | NA |
器件引腳排列如表4所示。關(guān)鍵字[Pin]用于描述引腳及其對應(yīng)的模型名稱。[Pin]一般為3列格式。第一列是引腳編號,第二列是引腳描述,第三列是模型名稱。有些封裝包含[HA2]類似的引腳(VCC、GND)。這些引腳可以按模型分組和描述。在這種情況下,由于SPICE模型沒有給出有關(guān)內(nèi)部晶體管級原理圖的信息,因此最好為每個(gè)數(shù)字接口創(chuàng)建單獨(dú)的模型。在IBIS文件中,模型名稱“Power”和“GND”用于命名電源和接地引腳。非數(shù)字接口和“請勿連接”引腳則描述為“NC”或無連接。請注意,模型名稱是區(qū)分大小寫的。由于在稍后的建模程序中還會(huì)用到,所以需給出具體的模型名稱。
表4 ADxxxx引腳列表
[Pin] | Signal_name | Model_name |
1 | VDD | Power |
2 | DIN1 | cmos_di1 |
3 | EN | cmos_en |
4 | DOUT1 | cmos_out1 |
5 | GND | GND |
6 | NC | NC |
ADxxxx真值表如表5所示。這在建立LTspice仿真時(shí)非常有用。還必須要知道如何將DOUT1引腳設(shè)置為高阻抗(高阻)模式、邏輯1和邏輯0。
表5 ADxxxx真值表
EN | DIN1 | DOUT1 |
0 | 0 | 高阻 |
0 | 1 | 高阻 |
1 | 0 | 0 |
1 | 1 | 1 |
LTspice設(shè)置和仿真
一般來說,IBIS模型通過前面提到的I-V(電流與電壓)和V-T(電壓與時(shí)間)數(shù)據(jù)描述數(shù)字緩沖器的行為。進(jìn)行IBIS建模時(shí),每種類型的數(shù)字接口都擁有[HA3]一組自己的I-V和/或V-T數(shù)據(jù),如表1所示。表6更加詳細(xì)地列出了這些數(shù)據(jù)集。注意查看每個(gè)數(shù)據(jù)集的注釋。那些標(biāo)記為“推薦”的數(shù)據(jù),表示這些數(shù)據(jù)缺失不會(huì)在ibischk解析器測試中導(dǎo)致誤差。但是,這些數(shù)據(jù)集對通道仿真有一定的作用。例如,鉗位數(shù)據(jù)有助于分析信號反射。
表6 輸入和3態(tài)接口的I-V和V-T數(shù)據(jù)集
IBIS關(guān)鍵字 | 輸入 | 3態(tài) | ||
V-I數(shù)據(jù) | C_comp | 必需 | 必需 | |
[Power_Clamp] | 推薦 | 推薦 | ||
[GND_Clamp] | 推薦 | 推薦 | ||
[上拉] | — | 必需 | ||
[下拉] | — | 必需 | ||
V-T數(shù)據(jù) | [上升波形] | 加載至VDD | — | 推薦 |
加載至GND | — | 推薦 | ||
[下降波形] | 加載至VDD | — | 推薦 | |
加載至GND | — | 推薦 | ||
[斜坡] | — | 必需 |
[Power_Clamp]和[GND_Clamp]
圖3 [Power_Clamp]和[GND_Clamp]關(guān)鍵字結(jié)構(gòu)的概念圖
[GND_Clamp]和[Power_Clamp]通過以表格形式列出的I-V數(shù)據(jù)顯示數(shù)字緩沖器的靜電放電(ESD)器件的行為。[Power_Clamp]表示以VDD為基準(zhǔn)的ESD器件的整體行為,接地箝位表示以GND為基準(zhǔn)的ESD器件的整體行為。
在LTspice中,I-V數(shù)據(jù)可以使用.DC SPICE命令/指令進(jìn)行測量。DOUT1的接地箝位用圖4所示設(shè)置進(jìn)行測量。在該設(shè)置中,使用適當(dāng)?shù)碾娫措妷簩⒃撈骷渲脼楦咦钁B(tài)模式(請參見表5)。這可以確保將ESD器件與核心電路隔離。VSWEEP是以GND為基準(zhǔn)的掃描電壓。使VSWEEP基準(zhǔn)電壓接地,確保只顯示GND箝位ESD器件的特征。
根據(jù)IBIS規(guī)格,應(yīng)掃描電壓軌以外(最好從-VDD到2 × VDD)的I-V數(shù)據(jù),本例中是從–1.8 V到+3.6 V。通過直接執(zhí)行此操作,掃描VDD以外的電壓將會(huì)開啟電源箝位ESD器件。為了避免這種情況,首先在–1.8 V至+1.8 V范圍內(nèi)掃描VSWEEP,并使用外推方法添加3.6 V數(shù)據(jù)點(diǎn)。此方法適用于所有I-V數(shù)據(jù)集。
另外,請注意所有I-V數(shù)據(jù)集最多只接受100個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。如果數(shù)據(jù)點(diǎn)超過這個(gè)數(shù)目,在ibischk解析器測試中會(huì)提示錯(cuò)誤。設(shè)置.DC命令的增量,使得到的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)量小于或等于99。這是為了容納用于2 × VDD外推的一個(gè)額外數(shù)據(jù)點(diǎn)。
進(jìn)行直流掃描時(shí),仿真中可能出現(xiàn)非常大的反向電流。要解決這個(gè)問題,將起始掃描從近似二極管勢壘電位(-0.7 V)設(shè)置為VDD (+1.8 V)。然后將數(shù)據(jù)外推至符合–VDD至2 × VDD I-V數(shù)據(jù)。另一種方法是將一個(gè)小電阻Rser與VSWEEP串聯(lián),以限制極端電流。
圖4 ADxxxx DOUT1接地箝位設(shè)置
單擊運(yùn)行按鈕,LTspice開始運(yùn)行仿真。由于正在評估DOUT1,所以目標(biāo)節(jié)點(diǎn)為Ix(U1:DOUT1)。雖然從技術(shù)角度來看I(VSWEEP)也是正確的,但I(xiàn)BIS模型需要Ix(U1:DOUT1)上的電流極性。這是為了最大限度減少I(VSWEEP)數(shù)據(jù)的進(jìn)一步格式化,使其適合模型。結(jié)果應(yīng)該如圖5所示。仿真完成后,先單擊結(jié)果窗口保存數(shù)據(jù),然后單擊文件 -> 將數(shù)據(jù)導(dǎo)出為文本。導(dǎo)航至要保存的目錄,單擊受測節(jié)點(diǎn),然后單擊OK(如圖6所示)。
圖5 接地箝位仿真結(jié)果
圖6 將仿真數(shù)據(jù)導(dǎo)出為文本
[Power_Clamp]數(shù)據(jù)提取與接地箝位設(shè)置類似,因此掃描電壓VSWEEP以VDD為基準(zhǔn)。設(shè)置和結(jié)果如圖7所示。
圖7 ADxxxx OUT1電源箝位設(shè)置和結(jié)果
[下拉]和[上拉]
圖8 I-V關(guān)鍵字結(jié)構(gòu)的概念圖
圖8顯示了I-V關(guān)鍵字結(jié)構(gòu)的概念圖。[下拉]和[上拉]表示緩沖器中上拉和下拉元素的行為。如果以圖表形式表示,它們看起來就像MOSFET的I-V特征曲線。在提取[下拉]和[上拉]數(shù)據(jù)時(shí),了解如何通過器件的真值表操控從輸出引腳輸出的信號非常重要。提取[下拉]和[上拉]數(shù)據(jù)的設(shè)置與[GND_Clamp]和[Power_Clamp]類似,即DOUT1引腳使能,且不處于高阻模式。
要提取[下拉]數(shù)據(jù),DOUT1引腳應(yīng)設(shè)置為邏輯0輸出或0 V。所以,必須設(shè)置適當(dāng)?shù)碾娫措妷?,如圖9所示。對EN引腳施加1.8 V的等效邏輯高壓,以使能DOUT1引腳,對DIN1引腳施加邏輯0或0 V,將DOUT1引腳設(shè)置為邏輯0輸出??梢酝ㄟ^真值表(表5)進(jìn)行確認(rèn)。結(jié)果如圖10所示。
圖9 ADxxxx OUT1下拉設(shè)置
圖10 ADxxxx OUT1下拉圖
放大[下拉]數(shù)據(jù),它類似于MOSFET的I-V特征曲線,如圖11所示。
圖11 ADxxxx DOUT1下拉圖(縮放視圖)
在保存下拉數(shù)據(jù)時(shí),請注意它構(gòu)成了[GND_Clamp]和[下拉]的總電流。圖12可以更好地說明這一點(diǎn)。要移除[GND_Clamp]組件,只需從[下拉]保存數(shù)據(jù)中逐點(diǎn)減去它。為了簡化這一操作,[GND_Clamp]和[下拉]直流分析的電壓增量、開始電壓和結(jié)束電壓必須相同。
圖12 來自下拉保存數(shù)據(jù)的實(shí)際電流
獲取上拉數(shù)據(jù)的設(shè)置如圖13所示。提供適當(dāng)?shù)碾娫措妷?,以將DOUT1設(shè)置為邏輯1 (1.8 V)。這將確保上拉元件激活/開啟。然后,VSWEEP也在–1.8 V至+1.8 V范圍內(nèi)掃描,并且以VDD為基準(zhǔn)。以這種方式連接VSWEEP,可以防止用戶格式化數(shù)據(jù)以符合IBIS規(guī)范。
圖13 ADxxxx DOUT1上拉設(shè)置和結(jié)果
與[下拉]一樣,保存的[上拉]數(shù)據(jù)是從[Power_ Clamp]和[上拉]總電流得出的結(jié)果。因此,用戶需要從保存的[上拉]數(shù)據(jù)中逐點(diǎn)減去數(shù)據(jù),以去除[Power_Clamp]組件,如果它們的直流掃描參數(shù)相同,這很容易完成。提醒大家,對所有的I-V數(shù)據(jù)測量使用相同的直流掃描參數(shù)。
圖14 來自保存的[上拉]數(shù)據(jù)的實(shí)際電流
[C_comp]
[C_comp]關(guān)鍵字代表緩沖器的電容,其最小、典型和最大拐角的值各不相同。它是晶體管和裸片的電容,與封裝電容不同??梢圆捎脙煞N方式提取[C_comp]。當(dāng)引腳由交流電壓供電時(shí),可以使用方程1中的公式來得出近似值,也可以使用方程2中的公式進(jìn)行計(jì)算。
其中:
■ ImIac:被測電流的虛值
■ F:交流電源的頻率
■ VAC:交流電源的幅度
使用LTspice進(jìn)行C_Comp提取
如圖15所示,可以通過提供交流電壓和頻率掃描來提取緩沖器電容。由于提供的是交流電壓,所以要測量電流的實(shí)部和虛部部分。當(dāng)用交流電壓供電時(shí),必須反轉(zhuǎn)電流的極性,以測量緩沖器的輸入電流值。測量輸出緩沖器電容時(shí),對于圖15所示的圖,唯一要做的更改就是必須將交流電源連接至輸出引腳。
圖15 ADxxxx C_comp提取設(shè)置
交流電壓的幅值可以是任意值,但通常設(shè)置為1 V。它將按照SPICE指令進(jìn)行頻率掃描。使用.AC命令繪制波形時(shí),默認(rèn)設(shè)置為以波特模式顯示,單位為dB。必須將其設(shè)置為笛卡爾模式才能查看電流值,這樣可以直接使用緩沖器電容公式進(jìn)行處理。要查看緩沖器電容波形,用戶必須先右鍵單擊波形窗口,然后單擊添加走線,再選擇被測量的引腳。波形圖窗口將顯示兩條線。
實(shí)線表示被測電流的實(shí)部,虛線表示被測電流的虛部。
圖16 向圖中添加走線對話框
若要將圖形設(shè)置從波特改為笛卡爾,右鍵單擊波形窗口左側(cè)的y軸,以打開左縱軸—幅度對話框。然后將圖示方式從波特改為笛卡爾。
圖17 將圖設(shè)置從波特改成笛卡爾
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