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ADI新型Easy Drive SAR ADC 簡化設(shè)計并提供領(lǐng)先性能

作者: 時間:2022-05-04 來源: 收藏

亞德諾半導(dǎo)體(Analog Devices,)推出新一代16至24位超高精度逐次漸近緩存器(SAR)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器()系列產(chǎn)品,可簡化在儀器儀表、工業(yè)和醫(yī)療健康應(yīng)用領(lǐng)域中復(fù)雜的設(shè)計。新型高性能SAR 系列采用專利的Easy Drive技術(shù)和通用Flexi-SPI串行周邊接口(SPI),可因應(yīng)系統(tǒng)設(shè)計挑戰(zhàn)并擴大直接兼容的配套產(chǎn)品選擇范圍。
的Easy Drive技術(shù)在保持組件性能的同時亦克服傳統(tǒng)系統(tǒng)級設(shè)計挑戰(zhàn),例如嚴格的布局指南及數(shù)字接口時序要求,以及復(fù)雜的配套產(chǎn)品選擇。通用的Flexi-SPI數(shù)字接口提供易于滿足的時序要求,簡化主機處理器和ADC整合。結(jié)合高性能與重新構(gòu)想的數(shù)字接口提供更好的整體設(shè)計體驗,同時加快系統(tǒng)設(shè)計周期。
該接腳兼容的SAR ADC系列具有6款產(chǎn)品,第一款是24位雙信道同步采樣、每通道2 Msps的AD4630-24,其擁有領(lǐng)先的精度(INL)額定值為0.9 ppm,高出其他解決方案4倍。AD4630-24將基準緩沖器和所有關(guān)鍵解耦組件整合至單一芯片中,與其他解決方案相比密度提升了2倍。
ADI電子測試與測量部門總經(jīng)理Ray Goggin表示,性能和速度的結(jié)合將帶來更精準、更穩(wěn)定的數(shù)字控制回路,能以更低的延遲穩(wěn)定于其最終設(shè)定點。該ADC系列體現(xiàn)了ADI的技術(shù)演進,其進一步簡化設(shè)計、評估流程,并使數(shù)控精密儀器產(chǎn)品更快上市。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/202205/433709.htm


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