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RTD傳感器信號調理電路簡介

作者: 時間:2024-08-12 來源:EEPW編譯 收藏

了解用于RTD應用的不同電路的基礎知識,包括分壓器、惠斯通電橋電路和ΔΣ轉換器。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/202408/461914.htm

在本系列的前幾篇文章中,我們討論了電阻溫度檢測器(RTD)的基本原理以及它們的響應特征。本文將討論RTD應用中不同電路的基礎知識。

使用分壓器進行RTD測量

可以使用簡單的電阻分壓器將RTD電阻的變化轉換為電壓信號。圖1顯示了鉑RTD的典型電路圖。圖中的Pt1000表示鉑RTD,在0℃時的標稱電阻為1000Ω。

鉑電阻溫度檢測器(RTD)的電路圖示例。

 

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圖1. 鉑電阻溫度檢測器電路圖示例。

與大多數電阻式傳感器一樣,在測量物理量變化時的響應變化相對較小??紤]到這一點,Pt1000的溫度系數約為3.85Ω/°C。讓我們看看節(jié)點A的電壓變化有多大。

假設我們需要以0.2°C的分辨率測量溫度,這可能是一個相對苛刻的要求。如果溫度從0°C變化到0.2°C,傳感器電阻將從1000Ω增加到1000.77Ω。因此,節(jié)點A的電壓將從1.5V變化到1.500577V,計算如下:

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因此,溫度變化0.2℃會使節(jié)點A的電壓變化約577μV。我們可以直接測量VA以確定RTD電阻值和溫度;但是,我們的測量系統(tǒng)應具有足夠的分辨率,以檢測1.5V信號中毫伏級的變化。將1.5V除以所需的最小步長(577μV),我們可以估算出模數轉換器的無噪聲計數,結果為:

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這相當于無噪聲分辨率約為log2(2600) = 11.34位。請注意,這僅給出了A/D分辨率的近似值。實際要求更為嚴格,并且取決于溫度計設計的溫度范圍。此外,我們模擬的RTD具有3.85Ω/°C的恒定溫度系數,而RTD實際上是非線性設備。

當今的ΔΣ轉換器可以輕松實現11位無噪聲分辨率。因此,我們可以使用圖1中的電路以及ΔΣ轉換器直接對RTD上的電壓進行數字化。

然而,幾十年前,這種高性能的數據轉換器既不可用也不經濟實惠;電路設計人員使用諸如惠斯通電橋電路等技術進行RTD測量。雖然電橋電路在其他領域(如力和壓力傳感應用)仍被廣泛使用,但很少用于RTD測量。盡管如此,為了完整性,我們將在下面簡要討論電橋電路如何放寬模數轉換器(ADC)的要求。

傳統(tǒng)方法:使用惠斯通電橋進行Pt1000測量

圖2顯示了用于Pt1000測量的基本惠斯通電橋。

pt1000的惠斯通電橋測量示例。

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圖2:Pt1000的惠斯通電橋測量示例。

輸出電壓是兩個分支之間的電壓差。實際上,橋式電路將單端測量從簡單的分壓器分支轉變?yōu)椴罘譁y量。在這種情況下,當電橋平衡時(在0°C時),輸出為0 V。如果溫度增加0.2°C,輸出將增加到577 μV,計算如下:

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在這種情況下,反映RTD電阻變化的所需信號并不疊加在較大的直流信號上。輸出僅包含我們想要測量的信號。為了確定ADC的無噪聲分辨率,我們應該考慮溫度計整個溫度范圍內VOUT的最大值和最小值。假設我們需要測量-40°C至150°C的范圍。在此溫度范圍內,RTD電阻從842.47Ω變化到1573.25Ω。我們可以利用這些信息來確定VOUT的最大值和最小值,如下表1所示:

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表1。

由于應檢測的最小變化為577 μV,因此系統(tǒng)的無噪聲計數可按以下公式計算:

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這相當于無噪聲分辨率為9.65位。正如您所看到的,對于基于電橋的測量的整個190°C溫度范圍獲得的ADC分辨率仍然比對于分壓器方法的單次測量獲得的分辨率更加寬松。

RTD應用的橋式電路限制

雖然橋式電路可以降低ADC的要求,但這種方法有一些缺點。橋式電路的輸出取決于橋式配置中使用的電阻值。這一限制是為什么需要三個精密電阻來完成橋式電路的原因。除了這一點,具有單個傳感元件的橋式電路是非線性的。因此,除了RTD的非線性外,設計人員還必須補償橋式電路的非線性響應??梢允褂密浖蚰M技術來線性化橋式電路,這增加了系統(tǒng)的復雜性。在使用橋式電路時,我們還需要具有大共模抑制比的儀表放大器,它可以提供高且相等的輸入阻抗。

由于這些限制,并且注意到現代delta-sigma轉換器可以輕松滿足并擊敗RTD應用的要求,電路設計人員通常不會使用橋式電路進行RTD測量。

使用Δ-Σ轉換器的測量

圖3顯示了與ΔΣ ADC接口的簡化圖。

與RTD傳感器和ΔΣ ADC接口的簡化圖

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圖3. RTD傳感器和ΔΣ ADC接口的簡化圖

使用22位ADC和3V參考電壓時,LSB(最低有效位)等于

  32220.72μV3222≈0.72μV

使用這些高分辨率ADC,最小可檢測信號通常受ADC內部電子噪聲(例如內部電路產生的熱噪聲和閃爍噪聲)的限制,而不是ADC的量化噪聲。如果您需要了解ΔΣ ADC的噪聲性能,可以參考德州儀器(Texas Instruments)的這篇由十二部分組成的優(yōu)秀文章系列。

ΔΣ ADC的峰對峰輸入相關噪聲可能達到微伏級或更低。假設ADC的輸入相關噪聲為3 μVp-p。對于圖3中的電路,我們可以找到RTD電壓Vrtd的最大值和最小值,如下表2所示:

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表2。

利用這些信息,我們可以計算出-40°C至150°C溫度范圍內系統(tǒng)的無噪聲計數,如下所示:

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將溫度范圍除以無噪聲計數,我們就可以得到溫度測量的分辨率:

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雖然這種精度水平實際上令人興奮,但應注意,其他幾個誤差源阻礙了我們實現如此高的性能。R1的初始容差和溫度漂移以及ADC偏移電壓和偏移漂移就是這些誤差源中的幾個。然而,上述計算證實,現代ADC的噪聲性能和分辨率足以進行精確測溫;但是,設計人員需要消除其他主要誤差因素以保持系統(tǒng)精度。

請注意,在上述示例中,為偏置電阻器R1選擇了一個相對較小的值。實際上,可能需要一個較大的電阻器來限制RTD自熱效應。

RTD應用的比率測量

雖然本文中的不同圖表使用電壓源來激勵RTD,但許多RTD應用使用電流源進行傳感器激勵。此外,RTD應用通常從激勵傳感器的同一源獲取ADC參考電壓。這種技術稱為比率測量,可最大限度地減少由傳感器激勵源或ADC電壓參考中的不期望變化引起的誤差。在下一篇文章中,我們將繼續(xù)討論并了解RTD應用如何從比率測量中受益。



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