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電子可靠性技術:最壞情況分析方法(一)

作者: 時間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡 收藏
的所有參數(shù)都處在最大偏移值時,器件都是可靠的,那么就可以保證器件參數(shù)在一定偏移組合情況下,器件也是可靠的。計算最壞情況下的電路性能,如果沒有超過規(guī)格要求,那么就可以保證整個設計對于器件參數(shù)的偏移都是可靠的。

  開發(fā)最壞情況器件數(shù)據(jù)庫是WCCA的一個重要工作,也是主要的成本所在。此工作的目標是開發(fā)一個最壞情況數(shù)據(jù)庫的表格,給出器件關鍵參數(shù)變化的最大最小值。這個表格也給出了影響參數(shù)變化的因素,如環(huán)境、初始容差、溫度、壽命和輻射等。表格還會注明這些因素是偏置型的,還是隨機型的變量。此外,表格中還必須包括數(shù)據(jù)來源(美軍標、供應商數(shù)據(jù)手冊等),以備跟蹤??傊?,這個表格體現(xiàn)了器件工作的各種環(huán)境因素和壽命因素對器件參數(shù)影響的一個量化評估。


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關鍵詞: 電子 可靠性

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