通過引入加強(qiáng)型隔離器增強(qiáng)電池充電系統(tǒng)防觸電保護(hù)

　　圖2 沿面距離與空隙範(fàn)例圖

　　此外，對(duì)于元件內(nèi)部屬性的方案則是絕緣的品質(zhì)遠(yuǎn)比所需的絕緣厚度更加重要。因此生產(chǎn)廠商可能會(huì)展示該元件具有能夠承受長(zhǎng)期與短期電壓應(yīng)力的所需電氣屬性。IEC60950標(biāo)準(zhǔn)的要求乃是針對(duì)辦公室與電信設(shè)備，以及很大的程度是針對(duì)醫(yī)療裝置所設(shè)定。外形尺寸與材料可以很容易的經(jīng)由微測(cè)計(jì)以及某些使用于電痕指數(shù)的散裝材料測(cè)試加以驗(yàn)證。

　　對(duì)于外部的需求，目前有叁個(gè)方案可對(duì)元件進(jìn)行驗(yàn)證。首先是該元件可以被當(dāng)成只具有固態(tài)絕緣而進(jìn)行評(píng)估，這是最簡(jiǎn)單的方案。因?yàn)槠渲恍枰写┩附^緣或是沿著膠合接點(diǎn)的內(nèi)部距離大過0.4毫米（mm）即可。然而，想要建構(gòu)一個(gè)可符合這些需求的高性能資料耦合器是很困難的，一般普遍認(rèn)為0.4毫米的最小絕緣厚度可應(yīng)用到所有的加強(qiáng)型隔離元件上；但其實(shí)并非如此，而且這是一個(gè)會(huì)讓許多工程師感到混淆的問題點(diǎn)。

　　其次，假如該元件是光耦合器，那么就必須採(cǎi)用IEC60747-5-5標(biāo)準(zhǔn)。這是一項(xiàng)嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)，專門針對(duì)加強(qiáng)型絕緣光耦合器的驗(yàn)證所設(shè)計(jì)，并且具有一系列的型式測(cè)試與壽命測(cè)試，而且在每個(gè)測(cè)試之后會(huì)接續(xù)隔離承受驗(yàn)證測(cè)試。

　　第叁，隔離器可被當(dāng)成是半導(dǎo)體元件。這個(gè)類別的元件具有類似于IEC60747-5-5需求的全套型式測(cè)試。這個(gè)方案適用于數(shù)位隔離器，因?yàn)楣怦詈掀鳂?biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需求乃是特別針對(duì)光耦合器的結(jié)構(gòu)所制訂。

　　至于加強(qiáng)型隔離等級(jí)的驗(yàn)證與維護(hù)則須分成叁方面來實(shí)行。首先是材料與尺寸必須加以估算，而電氣測(cè)試也必須施行。測(cè)試項(xiàng)目包括會(huì)導(dǎo)致過熱或是災(zāi)難性絕緣失效的熱循環(huán)、有限壽命測(cè)試，以及電氣過載等。隔離功能的整合性則是在每個(gè)環(huán)境或是測(cè)試之后以電壓承受測(cè)試進(jìn)行檢查。IEC60747型式測(cè)試的內(nèi)容總結(jié)于表1當(dāng)中。

　　其次，當(dāng)元件依據(jù)其尺寸與型式測(cè)試而獲得驗(yàn)證之后，接著就會(huì)檢查每個(gè)元件的絕緣整合性，因?yàn)檫@些元件是根據(jù)電壓承受測(cè)試而生產(chǎn)。在IEC60747-5-5或是同類型的認(rèn)證狀況中，部分的放電絕緣品質(zhì)測(cè)試也需要在每個(gè)元件上執(zhí)行。

　　最后由認(rèn)證機(jī)構(gòu)施行定期查核，以便確認(rèn)材料與尺寸沒有被修改，所有的組裝線測(cè)試都有利用校正過的設(shè)備適當(dāng)執(zhí)行。有些型式測(cè)試會(huì)以抽樣方式週期性的重復(fù)執(zhí)行，并且由審查員加以檢閱。

　　滿足各種隔離標(biāo)準(zhǔn)　加強(qiáng)型絕緣設(shè)計(jì)獲青睞

　　先前的討論都專注在最廣為應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)，不同的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于元件層級(jí)則可能會(huì)有不同的要求。這些要求甚至?xí)趩我粯?biāo)準(zhǔn)中隨版本的不同而改變。關(guān)于這點(diǎn)，隨著IEC朝向統(tǒng)一方案的方向發(fā)展而已經(jīng)漸漸的不再是問題。這很可能需要很長(zhǎng)的時(shí)間才能達(dá)成，因?yàn)楦鱾€(gè)獨(dú)立的標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)仍然存在有顯著的獨(dú)立性。

　　系統(tǒng)層級(jí)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的統(tǒng)一化趨勢(shì)，就是可供使用的元件層級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，例如IEC60747-5-5。如果有這樣一個(gè)因應(yīng)元件而存在的標(biāo)準(zhǔn)，那么它就能夠加以應(yīng)用，而非如同前述「元件層級(jí)的要求」中第二點(diǎn)所提到的系統(tǒng)層級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的特定要求。目前這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)只適用于光耦合器，不能應(yīng)用在較新的數(shù)位隔離器；然而VDE已經(jīng)建立了VDE0884-10標(biāo)準(zhǔn)的草案，能夠?qū)EC60747-5-5標(biāo)準(zhǔn)的絕緣測(cè)試應(yīng)用在數(shù)位隔離器上。

　　新的標(biāo)準(zhǔn)都設(shè)定了對(duì)于加強(qiáng)型絕緣的高標(biāo)準(zhǔn)，其中包括有在10kV或是更高位準(zhǔn)的浪涌測(cè)試?，F(xiàn)今非常薄的絕緣層都將無法通過這項(xiàng)測(cè)試，且對(duì)于許多的光耦合器與數(shù)位隔離器在加強(qiáng)型絕緣的驗(yàn)證上而言，此項(xiàng)測(cè)試已被證實(shí)是具有鑑別性的測(cè)試。無法符合這些要求的元件通常會(huì)倒煺回可以應(yīng)用在基本絕緣的IEC60747-5-2標(biāo)準(zhǔn)，如此一來應(yīng)用市場(chǎng)將無法擴(kuò)大。對(duì)于隔離系統(tǒng)的設(shè)計(jì)廠商而言，這又是一個(gè)令人感到混淆的問題點(diǎn)，因