電池充電系統(tǒng)提升觸電防護(hù)，善用數(shù)字隔離器成關(guān)鍵（二）

至于加強(qiáng)型隔離等級的驗(yàn)證與維護(hù)則須分成三方面來實(shí)行。首先是材料與尺寸必須加以估算，而電氣測試也必須施行。測試項(xiàng)目包括會導(dǎo)致過熱或是災(zāi)難性絕緣失效的熱循環(huán)、有限壽命測試，以及電氣過載等。隔離功能的整合性則是在每個環(huán)境或是測試之后以電壓承受測試進(jìn)行檢查。IEC60747型式測試的內(nèi)容總結(jié)于表 1當(dāng)中。

　　其次，當(dāng)元件依據(jù)其尺寸與型式測試而獲得驗(yàn)證之后，接著就會檢查每個元件的絕緣整合性，因?yàn)檫@些元件是根據(jù)電壓承受測試而生產(chǎn)。在IEC60747-5-5或是同類型的認(rèn)證狀況中，部分的放電絕緣品質(zhì)測試也需要在每個元件上執(zhí)行。

　　最后由認(rèn)證機(jī)構(gòu)施行定期查核，以便確認(rèn)材料與尺寸沒有被修改，所有的組裝線測試都有利用校正過的設(shè)備適當(dāng)執(zhí)行。有些型式測試會以抽樣方式週期性的重復(fù)執(zhí)行，并且由審查員加以檢閱。

　　滿足各種隔離標(biāo)準(zhǔn)　加強(qiáng)型絕緣設(shè)計獲青睞

　　先前的討論都專注在最廣為應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)，不同的標(biāo)準(zhǔn)對于元件層級則可能會有不同的要求。這些要求甚至?xí)趩我粯?biāo)準(zhǔn)中隨版本的不同而改變。關(guān)于這點(diǎn)，隨著 IEC朝向統(tǒng)一方案的方向發(fā)展而已經(jīng)漸漸的不再是問題。這很可能需要很長的時間才能達(dá)成，因?yàn)楦鱾€獨(dú)立的標(biāo)準(zhǔn)委員會仍然存在有顯著的獨(dú)立性。

　　系統(tǒng)層級標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的統(tǒng)一化趨勢，就是可供使用的元件層級標(biāo)準(zhǔn)，例如IEC60747-5-5。如果有這樣一個因應(yīng)元件而存在的標(biāo)準(zhǔn)，那么它就能夠加以應(yīng)用，而非如同前述「元件層級的要求」中第二點(diǎn)所提到的系統(tǒng)層級標(biāo)準(zhǔn)的特定要求。目前這個標(biāo)準(zhǔn)只適用于光耦合器，不能應(yīng)用在較新的數(shù)位隔離器；然而VDE已經(jīng)建立了VDE0884-10標(biāo)準(zhǔn)的草案，能夠?qū)EC60747-5-5標(biāo)準(zhǔn)的絕緣測試應(yīng)用在數(shù)位隔離器上。

　　新的標(biāo)準(zhǔn)都設(shè)定了對于加強(qiáng)型絕緣的高標(biāo)準(zhǔn)，其中包括有在10kV或是更高位準(zhǔn)的浪涌測試。現(xiàn)今非常薄的絕緣層都將無法通過這項(xiàng)測試，且對于許多的光耦合器與數(shù)位隔離器在加強(qiáng)型絕緣的驗(yàn)證上而言，此項(xiàng)測試已被證實(shí)是具有鑑別性的測試。無法符合這些要求的元件通常會倒煺回可以應(yīng)用在基本絕緣的 IEC60747-5-2標(biāo)準(zhǔn)，如此一來應(yīng)用市場將無法擴(kuò)大。對于隔離系統(tǒng)的設(shè)計廠商而言，這又是一個令人感到混淆的問題點(diǎn)，因?yàn)樗麄冋J(rèn)為 IEC60747-5驗(yàn)證會自動的提供加強(qiáng)型狀態(tài)。IEC委員會目前正在致力于修訂IEC60747-5-5標(biāo)準(zhǔn)，使其包含數(shù)位隔離器。下一個統(tǒng)一化的標(biāo)準(zhǔn)在未來將能夠適用于所有的IEC系統(tǒng)層級標(biāo)準(zhǔn)，并有助于消除混亂的情況。

　　總結(jié)而言，在資料隔離器當(dāng)中的加強(qiáng)型絕緣，其設(shè)計與驗(yàn)證是為了要替雙重絕緣系統(tǒng)提供保護(hù)功能，同時以單一隔離屏障提供可達(dá)成的資料發(fā)送性能。在外部，元件的沿面距離與空隙需求必須相當(dāng)于基本絕緣需求的兩倍。在內(nèi)部，絕緣功能須符合固態(tài)絕緣需求，包括穿越絕緣的最小距離，或在保護(hù)狀態(tài)下接受廣泛的型式測試及組裝線測試。加強(qiáng)型絕緣等級是經(jīng)由測試而非詳細(xì)的結(jié)構(gòu)要求進(jìn)行驗(yàn)證而獲得，這樣將可使絕緣技術(shù)上的創(chuàng)新在進(jìn)行驗(yàn)證時不須針對每項(xiàng)新技術(shù)重新編寫標(biāo)準(zhǔn)。