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利用雙焊盤檢測電阻實現(xiàn)的高精度開爾文檢測

作者: 時間:2012-09-26 來源:網(wǎng)絡 收藏
-webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  圖3所示布局是對標準方案的一種顯著的改進,但是,在使用極低值電阻(0.5 mΩ或以下)時,焊盤上檢測點的物理位置以及流經電阻的電流對稱性的影響將變得更加顯著。例如,ULRG3-2512-0M50-FLFSL是一款固態(tài)金屬合金電阻,因此,電阻沿著焊盤每延伸一毫米,結果都會影響有效電阻。使用校準電流,通過比較五種定制封裝下的壓降,可以確定最佳檢測布局。

  測試PCB板

  圖4展示在測試PCB板上構建的五種布局模式,分別標記為A到E.我們盡可能把走線布局到沿著檢測焊盤延伸的不同位置的測試點,表示為圖中的彩點。各個電阻封裝為:

  1.基于2512建議封裝的標準4線電阻(見圖2(b))。檢測點對 (X and Y)位于焊盤外緣和內緣(x軸)。

  2.類似于A,但焊盤向內延伸較長,以便更好地覆蓋焊盤區(qū)(見圖2(a))。檢測點位于焊盤中心和末端。

  3.利用焊盤兩側以提供更對稱的系統(tǒng)電流通路。同時把檢測點移動到更中心的位置。檢測點位于焊盤中心和末端。

  4.與C類似,只是系統(tǒng)電流焊盤在最靠里的點接合。只使用了外部檢測點。

  5.A和B的混合體。系統(tǒng)電流流過較寬的焊盤,檢測電流流過較小的焊盤。檢測點位于焊盤的外緣和內緣。

  利用雙焊盤檢測電阻實現(xiàn)的高精度開爾文檢測

  圖4. 測試PCB板的布局。

  在模板上涂抹焊料,并在回流爐中使用回流焊接。使用的是ULRG3-2512-0M50-FLFSLT電阻。

  測試步驟

  測試設計如圖5所示。使20 A的校準電流通過各個電阻,同時使電阻保持在25°C.在加載電流后1秒內,測量產生的差分電壓,以防止電阻溫度升高1°C以上。同時監(jiān)控各個電阻的溫度,以確保測試結果均在25°C下測得。電流為20 A時,通過0.5 mΩ電阻的理想壓降為10 mV.

  利用雙焊盤檢測電阻實現(xiàn)的高精度開爾文檢測

  圖5. 測試設置。

  測試結果

  表1列出了采用圖4所示檢測焊盤位置測得的數(shù)據(jù)。

  表1. 測得電壓和誤差



關鍵詞: 雙焊盤 檢測電阻 高精度 開爾文檢測

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