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VXI總線在通用裝備測試系統(tǒng)中的應(yīng)用

作者: 時(shí)間:2012-07-02 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

vpp規(guī)定廠家為用戶提供儀器驅(qū)動(dòng)器的同時(shí),必須提供儀器的軟面板。儀器的軟面板是不依賴于任何開發(fā)環(huán)境的可執(zhí)行程序。它取代了傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器的前面板,在計(jì)算機(jī)屏幕上顯示用于控制儀器的各種按鍵、旋鈕和儀器輸出信息等。軟面板有兩個(gè)作用,一是幫助用戶檢測系統(tǒng)的通訊接口和儀器是不確配置和正常工作;二是幫助用戶熟悉儀器的主要功能。

在cvi環(huán)境中,使用用戶界面文件(.uir)來制作軟面板。開發(fā)軟面板時(shí)先直接在用戶界面上生成所需的各種按鍵、旋鈕和輸出信息框,然后再用事件驅(qū)動(dòng)的方式編程。在制作用戶界面時(shí)要符合vpp-7規(guī)范,如軟面板主窗口的右上部標(biāo)顯示vxiplugplay標(biāo)識(shí),左上部標(biāo)明廠家,窗口上部標(biāo)明儀器名稱和模塊號(hào)等。軟面板制作完成后,對應(yīng)按鍵、旋鈕等用戶控制部件的功能生成相應(yīng)的回調(diào)函數(shù)。函數(shù)的實(shí)現(xiàn)方法與制作驅(qū)動(dòng)器的方法是相似的,不過需要將顯示給用戶的結(jié)果顯示到軟面板的合適位置上。

4的發(fā)展
隨著微電子、計(jì)算機(jī)及數(shù)字信號(hào)處理(dsp)等先進(jìn)技術(shù)越來越多地應(yīng)用到測試技術(shù)中,未來發(fā)展有如下兩種趨勢。

4.1集成儀器
儀器與計(jì)算機(jī)技術(shù)的深層次結(jié)合將產(chǎn)生全新的儀器結(jié)構(gòu)概念,包括現(xiàn)有的虛擬儀器、卡式儀器及和mms為基礎(chǔ)的模塊式儀器和新出現(xiàn)的集成儀器。集成儀器將基于“信息的數(shù)據(jù)采集(adc)、信號(hào)的分析與處理(dsp)、輸出(dac)及顯示”的結(jié)構(gòu)模式。利用這個(gè)通用的硬件平臺(tái),調(diào)用不同的測試軟件就可構(gòu)成不同功能的儀器,因此“軟件就是儀器”。由于硬件平臺(tái)是通用的,故可非常方便地將多種測試功能集成集于一體,實(shí)現(xiàn)多功能集成儀器。例如,一臺(tái)基于高速數(shù)據(jù)采集的數(shù)字化儀,如果對采集的數(shù)據(jù)通過分析軟件進(jìn)行定標(biāo)和數(shù)據(jù)點(diǎn)的顯示,就構(gòu)成一臺(tái)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的示波器;如果對采集的數(shù)據(jù)利用軟件進(jìn)行fft變換,則構(gòu)成一臺(tái)頻譜儀。在系統(tǒng)構(gòu)成上,將廢除由硬件積木單元實(shí)現(xiàn)的激勵(lì)和響應(yīng)的監(jiān)測,而采用由中的計(jì)算機(jī)從數(shù)學(xué)上合成所希望的激勵(lì)波形。響應(yīng)信號(hào)則利用高速數(shù)據(jù)采集技術(shù)進(jìn)行采集,然后將采集的數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)字處理和分析,從而得到測試結(jié)果。

4.2集成測試環(huán)境
測試軟件不管是對單臺(tái)儀器還是對測試系統(tǒng)都是十分重要的,而且也是未來發(fā)展競爭的焦點(diǎn)。國外專家預(yù)言“測試設(shè)備的未來屬于軟件”。未來的測試軟件能根據(jù)某種規(guī)范和屏幕上的某種圖形進(jìn)行測試,將描述與測試生成模塊和數(shù)據(jù)提取自動(dòng)化工具相結(jié)合,并將工具納入文件編制中。未來的測試環(huán)境除生成測試程序外,還將應(yīng)用其它領(lǐng)域的技術(shù),如人工智能測試技術(shù)。人工智能專家系統(tǒng)的應(yīng)用,將充分利用計(jì)算機(jī)的“智能”,把最優(yōu)秀的測試專家的思維過程固化到測試程序的軟件中,把某種復(fù)雜的程序與計(jì)算機(jī)修正程序結(jié)合起來,從而大大提高測試系統(tǒng)的能力。人工智能測試技術(shù)除大量用于復(fù)雜測試的修正因子處理外,還將應(yīng)用于現(xiàn)代裝備系統(tǒng)的故障檢測與維修。

充分利用通用集成測試儀器和集成測試環(huán)境,建立通用的儀器平臺(tái)和測試系統(tǒng)平臺(tái),為各種功能的測試儀器和測試系統(tǒng)的二次開發(fā)將打下硬件和系統(tǒng)軟件的基礎(chǔ)。最終用戶只需在這個(gè)高水平平臺(tái)的基礎(chǔ)上開發(fā)一定的應(yīng)用軟件就能構(gòu)成實(shí)用儀器和實(shí)用測試系統(tǒng),從而加快研制周期,降低研制成本,提高產(chǎn)品質(zhì)量。其中,高速、高分辨率的數(shù)據(jù)采集和數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)是未來測試儀器平臺(tái)和測試系統(tǒng)平臺(tái)的關(guān)鍵技術(shù)。


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