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一種基于DDS的電路板檢測(cè)儀信號(hào)源設(shè)計(jì)

作者: 時(shí)間:2010-11-24 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  3.2 硬件驗(yàn)證

  為了能夠更清晰地分析電路,采用DE2-70開發(fā)板結(jié)合SignalTapⅡ型嵌入式邏輯分析儀對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行實(shí)時(shí)的硬件驗(yàn)證。首先對(duì)頂層電路圖做部分修改,主要是進(jìn)行管腳設(shè)定。將修改后的頂層文件下載到DE2-70中,通過SignalTapⅡ型嵌入式邏輯分析儀實(shí)時(shí)觀測(cè)輸出波形,如圖7所示。SignalTapⅡ所能顯示的被測(cè)信號(hào)的時(shí)間長(zhǎng)度為T,計(jì)算公式如下:

  式中:N為SignalTapⅡ的緩存中存儲(chǔ)的采樣點(diǎn)數(shù),Ts為SignalTapⅡ采樣時(shí)鐘的周期。由圖7和式(3)可得出表1所示結(jié)論。

  產(chǎn)生誤差的主要原因有兩方面,一是截?cái)嗾`差,ROM查找表的地址輸入是相位累加器的高11位;二是正弦波量化引入的誤差,將正弦信號(hào)量化為二進(jìn)制數(shù)必然引起誤差。

  4 結(jié)語

  通過對(duì)電路的功能仿真和硬件驗(yàn)證,可以看出DDS可以有效地產(chǎn)生所需波形信號(hào)。較傳統(tǒng)的信號(hào)發(fā)生器,可以減小體積、降低功耗、提高可靠性和靈活性并縮短了開發(fā)周期,具有較高的實(shí)用價(jià)值。


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評(píng)論


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