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NI:射頻集成度趨高 PXI方案顯優(yōu)勢(shì)

作者: 時(shí)間:2014-06-19 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/259401.htm

近年來(lái)電子技術(shù)創(chuàng)新突飛猛進(jìn),各種新器件、新工藝、新材料等等推動(dòng)著消費(fèi)電子、汽車電子、智能醫(yī)療等領(lǐng)域的快速革新,反過(guò)來(lái)這些新興應(yīng)用進(jìn)一步加快 了半導(dǎo)體技術(shù)的再創(chuàng)新。每個(gè)時(shí)代都有特定的時(shí)代標(biāo)志的產(chǎn)品,進(jìn)入到智能化設(shè)備時(shí)代,作為基礎(chǔ)和輔助的電子測(cè)試測(cè)量技術(shù)又會(huì)發(fā)生什么顛覆性的創(chuàng)新?下面我們一起從中國(guó)地區(qū)規(guī)模最大、最具影響力的 PXI技術(shù)和應(yīng)用專業(yè)論壇上尋找答案。

在PXI TAC 上, 中國(guó)與無(wú)線通信市場(chǎng)開(kāi)發(fā)經(jīng)理 姚遠(yuǎn) 先生圍繞無(wú)線技術(shù)的最新發(fā)展展開(kāi)討論,針對(duì)漸趨復(fù)雜的無(wú)線測(cè)試和不同無(wú)線設(shè)備的測(cè)試方案,深入探討了如何通過(guò) PXI測(cè)試策略的優(yōu)化來(lái)提升測(cè)試效率。

“從平板電腦、智能手機(jī)、可穿戴設(shè)備到各種智能移動(dòng)設(shè)備,科技正以前所未有的迅猛速度發(fā)展,智能聚合的時(shí)代正以新的思維推動(dòng)測(cè)試測(cè)量?jī)x器的快速更迭。 雖然傳統(tǒng)儀器也可以集成性能更好的組件,但是其更新速度慢于移動(dòng)設(shè)備的發(fā)展速度。而NI 主推的模塊化PXI平臺(tái),按需配置的高靈活性特征則可有效解決這一問(wèn)題,而且基于開(kāi)放的軟件平臺(tái),相比傳統(tǒng)儀器更具優(yōu)勢(shì)和性價(jià)比,特別是在快速更新?lián)Q代的 消費(fèi)電子領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)明顯”。NI 中國(guó)與無(wú)線通信市場(chǎng)開(kāi)發(fā)經(jīng)理 姚遠(yuǎn) 如是表述。

  

  NI 中國(guó)與無(wú)線通信市場(chǎng)開(kāi)發(fā)經(jīng)理 姚遠(yuǎn)

以 NI PXI 方案應(yīng)對(duì)射頻測(cè)試難點(diǎn)

如今,小型手持通信設(shè)備設(shè)計(jì)面臨的主要挑戰(zhàn)是,如何適應(yīng)多種移動(dòng)通信模式和頻帶的并存以及適用于小型手持設(shè)備的無(wú)線應(yīng)用程序。為解決這一挑戰(zhàn),許多國(guó) 際原廠諸如高通、博通等都推出了聚合型的射頻基帶芯片,在單一設(shè)備上集成多種無(wú)線協(xié)議是非常明顯的產(chǎn)業(yè)趨勢(shì)。趨高的射頻前端器件產(chǎn)品導(dǎo)致了待測(cè)設(shè)備 復(fù)雜度不斷提升,對(duì)應(yīng)的測(cè)試復(fù)雜度也不斷提升,這對(duì)測(cè)試儀器提出了新的挑戰(zhàn)。

特別是隨著無(wú)線通信技術(shù)的發(fā)展,無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議越來(lái)越多元化,設(shè)備復(fù)雜度與日俱增。像WLAN,從最早的 802.11 標(biāo)準(zhǔn)演化出 802.11a/b/g/n,再到現(xiàn)在的802.11ac標(biāo)準(zhǔn),只經(jīng)歷了短短數(shù)年時(shí)間。通信技術(shù)的快速革新同樣對(duì)測(cè)試系統(tǒng)提出了更高的要求。

  

  NI中國(guó)射頻與無(wú)線通信市場(chǎng)開(kāi)發(fā)經(jīng)理 姚遠(yuǎn)強(qiáng)調(diào),單一設(shè)備上集成多種無(wú)線協(xié)議是產(chǎn)業(yè)趨勢(shì)。

姚遠(yuǎn)先生表示,工程師們正面臨著不斷提升的各種測(cè)試需求,搭建一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)來(lái)解決當(dāng)今的測(cè)試挑戰(zhàn)已不再是一個(gè)簡(jiǎn)單的任務(wù)。相反,這需要對(duì)擴(kuò)展測(cè)試需求 的合理評(píng)估以及一個(gè)有效的測(cè)試架構(gòu),以便長(zhǎng)期使用。尤其是消費(fèi)電子產(chǎn)品具有規(guī)模經(jīng)濟(jì)和較快的創(chuàng)新周期,測(cè)試這些消費(fèi)電子產(chǎn)品的儀器系統(tǒng)在持續(xù)運(yùn)用先進(jìn)的技 術(shù)的同時(shí)還必須要維持較低的成本。因此選擇一個(gè)合適的測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái),成為測(cè)試工程師們至關(guān)重要的任務(wù)。

NI為應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)和趨勢(shì)對(duì)儀器進(jìn)行了的全新定義,PXI平臺(tái)作為在工業(yè)制造和測(cè)試、國(guó)防和航空航天、射頻測(cè)試、實(shí)時(shí)仿真測(cè)試,嵌入式系統(tǒng)、機(jī)器監(jiān)測(cè) 等行業(yè) 和應(yīng)用領(lǐng)域被廣泛認(rèn)可的自動(dòng)化測(cè)試測(cè)量平臺(tái),不僅能夠滿足工程師們的更高靈活性、更高性能、更低成本的需求,其以軟件為核心的模塊化的結(jié)構(gòu),帶來(lái)更多傳統(tǒng) 儀器所不具備的優(yōu)勢(shì)與性能。

而且成本也是考量測(cè)試儀器的重要因素,對(duì)此,姚遠(yuǎn)先生表示,無(wú)論是在公司、工廠、還是大學(xué)、科研單位,標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)測(cè)試測(cè)量實(shí)驗(yàn)臺(tái)通常包括信號(hào)示波器, 數(shù)字萬(wàn)用表,可變成電流電源,函數(shù)發(fā)生器等。組建這樣一套儀器設(shè)備費(fèi)用是一筆不小的費(fèi)用。同時(shí),這樣的實(shí)驗(yàn)臺(tái)也有一定的局限性,占據(jù)很大的桌面或臺(tái)面空 間,儀器的界面不統(tǒng)一,需要分別操作,使用煩瑣,對(duì)測(cè)試工程師的要求也很高,而且不能做到與時(shí)俱進(jìn),不能滿足技術(shù)的更新要求。

姚遠(yuǎn)先生強(qiáng)調(diào),開(kāi)放軟件平臺(tái)和模塊化設(shè)備是 NI PXI 方案的兩大主要優(yōu)勢(shì),可以非常方便的更改儀器的配置,而且自動(dòng)化程度高、高,將多功能儀器整合為一體化平臺(tái),節(jié)省采購(gòu)成本,而采用非信令的測(cè)試方式 保障了測(cè)試精度與速度,這些優(yōu)勢(shì)都能夠有效幫助廠商應(yīng)對(duì)射頻測(cè)試的新挑戰(zhàn)。

而且,PXI技術(shù)自問(wèn)世以來(lái)經(jīng)過(guò)17年的發(fā)展已經(jīng)成為自動(dòng)化測(cè)試和控制的主流平臺(tái)。在中國(guó),伴隨著10年來(lái)PXI TAC的成功舉辦,PXI技術(shù)已經(jīng)廣泛被測(cè)試測(cè)量界的工程師所接受,也幫助中國(guó)的客戶成功面對(duì)了許多應(yīng)用挑戰(zhàn)。利用NI軟件定義的PXI測(cè)試設(shè)備,不僅可 以在同一平臺(tái)上進(jìn)行多種無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試,還可以幫助客戶測(cè)試下一代無(wú)線通信標(biāo)準(zhǔn)。無(wú)論是VST還是其他的射頻儀器,NI都在為客戶提供軟件定義的測(cè)試儀器,在NI軟件功能所支持頻段范圍內(nèi)的任何一個(gè)頻點(diǎn)上,測(cè)試廠商都可以做所需要的測(cè)試。

FPGA 等新技術(shù)強(qiáng)力助推

新時(shí)代的工程師對(duì)于科技充滿好奇。他們面對(duì)變化并且迅速適應(yīng)新技術(shù),因?yàn)樗麄兩钪O新技術(shù)帶來(lái)的好處。他們?nèi)粘K褂玫南M(fèi)電子產(chǎn)品的創(chuàng)新速度已經(jīng)超過(guò) 他們所使用的專業(yè)儀器。事實(shí)上,臺(tái)式測(cè)試測(cè)量?jī)x器的外形多年來(lái)一直沒(méi)有太大的變化。主要的部件——顯示屏、處理器、內(nèi)存、測(cè)量系統(tǒng)和旋鈕/按鈕均集成到一 個(gè)獨(dú)立運(yùn)行的設(shè)備中。在儀器發(fā)展成熟的當(dāng)代,新時(shí)代工程師自然也希望新技術(shù)能應(yīng)用于專業(yè)的儀器中,例如集成觸摸屏、移動(dòng)設(shè)備、云連接以及智能預(yù)測(cè)等多種功 能,提供比以往任何時(shí)代更為顯著的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。有哪些成熟的技術(shù)可以應(yīng)用在測(cè)試測(cè)量?jī)x器上呢?


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