新聞中心

EEPW首頁 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > RF和微波開關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題

RF和微波開關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題

作者: 時(shí)間:2009-07-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/261243.htm
  相位失真——隨著測(cè)試系統(tǒng)尺寸的擴(kuò)大,從相同的信號(hào)源出來的信號(hào)可能會(huì)通過不同的途徑傳送至DUT,導(dǎo)致了相位失真。這個(gè)指標(biāo)通常被稱之為傳輸延遲。對(duì)一個(gè)給定的傳導(dǎo)介質(zhì),延遲是與信號(hào)路徑長(zhǎng)度成正比的。不同的信號(hào)路徑長(zhǎng)度將會(huì)導(dǎo)致信號(hào)相位移動(dòng),導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。要減少相位失真,要保證信號(hào)路經(jīng)長(zhǎng)度的相同。

  總結(jié)

  討論并理解/系統(tǒng)購建中的各種設(shè)計(jì)參數(shù)有利于保證信號(hào)和系統(tǒng)的完整性。(作者為美國吉時(shí)利公司資深應(yīng)用工程師DaleCigoy)

上一頁 1 2 3 下一頁

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉