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RF和微波開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題

作者: 時(shí)間:2009-07-05 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
無(wú)線通信產(chǎn)業(yè)的巨大成長(zhǎng)意味著對(duì)于無(wú)線設(shè)備的元器件和組件的測(cè)試迎來(lái)了大爆發(fā),包括對(duì)組成通信系統(tǒng)的各種IC和微波單片集成電路的測(cè)試。這些測(cè)試通常需要很高的頻率,普遍都在GHz范圍。本文討論了射頻和測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題,包括不同的開(kāi)關(guān)種類(lèi),開(kāi)關(guān)卡規(guī)格,和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問(wèn)題。

  射頻開(kāi)關(guān)和低頻開(kāi)關(guān)的區(qū)別

  將一個(gè)信號(hào)從一個(gè)頻點(diǎn)轉(zhuǎn)換到另一個(gè)頻點(diǎn)看起來(lái)挺容易的,但要達(dá)成極低的信號(hào)損耗該如何實(shí)現(xiàn)呢?設(shè)計(jì)低頻和直流(DC)信號(hào)的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)都需要考慮它們特有的參數(shù),包括接觸電位、建立時(shí)間、偏置電流和隔離特性等。

  高頻信號(hào),與低頻信號(hào)類(lèi)似,需要考慮其特有的參數(shù),它們會(huì)影響開(kāi)關(guān)過(guò)程中的信號(hào)性能,這些參數(shù)包括VSWR(電壓駐波比)、插入損耗、帶寬和通道隔離等等。另外,硬件因素,比如端接、連接器類(lèi)型、繼電器類(lèi)型,也會(huì)極大的影響這些參數(shù)。

  開(kāi)關(guān)種類(lèi)和構(gòu)造

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/261243.htm
   圖1高頻機(jī)電繼電器


    圖2單通道blocking矩陣和non-blocking矩陣


     圖3層疊開(kāi)關(guān)架構(gòu)


     圖4多重開(kāi)關(guān)(圖示為一個(gè)雙重開(kāi)關(guān))

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