R&S總裁強調LTE終端認證測試不容忽視

　　2月18日，在巴塞羅納的2009年移動通信世界大會期間，羅德與施瓦茨公司（R&S)總裁兼首席運營官萊赫先生參加了由中國移動，沃達豐，Verizon無線主辦的“全球LTE產業(yè)峰會”。作為測試儀表廠家的唯一代表，萊赫先生做了“LTE FDD和TDD(TD-LTE)終端認證及測試解決方案“的公開演講。他首先回顧了終端認證測試在保證GSM/WCDMA成功運營過程中的經驗，強調了終端認證測試應成為LTE未來成功發(fā)展的重要基礎，介紹了R&S公司在LTE國際標準化中所做出的貢獻，尤其是在3GPP, GCF, LSTI, NGMN等組織發(fā)揮的積極作用。同時討論了LTE成功商用過程中還需要進一步完善的工作。詳細介紹了R&S公司領導LTE的測試解決方案，以及公司將在LTE未來發(fā)展中的產品規(guī)劃。這一發(fā)言充分顯示了R&S公司對LTE發(fā)展的突出貢獻，以及對LTE未來發(fā)展的信心。

　　來自全球超過200名LTE產業(yè)界的高層領導參加了這次會議。在與會發(fā)言當中，充分展示了全球最大運營商對LTE發(fā)展及試驗的承諾和清楚的發(fā)展路標，以及未來LTE FDD和TDD單芯片的終端前景。關鍵的完整產業(yè)鏈的發(fā)展，具有眾多廠商和運營商支持的良好產業(yè)生態(tài)前景。發(fā)言同時充分表達了全球終端認證的重要基礎性作用。