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電磁兼容外場(chǎng)測(cè)試中的干擾抵消技術(shù)(下)*

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作者:葛壽兵 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第23研究所 龔成 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第50研究所 時(shí)間:2009-05-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  被測(cè)信號(hào)源與干擾信號(hào)源同時(shí)打開的情況下,自適應(yīng)輸出端口的的信號(hào)功率電平如表3。
  表3 測(cè)試結(jié)果3

  結(jié)語

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/94656.htm

  從測(cè)試結(jié)果看,盡管被測(cè)信號(hào)電平與干擾電平的幅度和距離均相當(dāng),但通過自適應(yīng)抵消技術(shù)后,實(shí)際測(cè)試到的合成電平與被測(cè)信號(hào)電平基本相符,抵消了干擾信號(hào),基本滿足了工程測(cè)試要求。

  參考文獻(xiàn):

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