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電磁兼容外場(chǎng)測(cè)試中的干擾抵消技術(shù)(下)*

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作者:葛壽兵 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第23研究所 龔成 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第50研究所 時(shí)間:2009-05-22 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  測(cè)試口徑面位置被測(cè)信號(hào)與干擾信號(hào)功率電平。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/94656.htm

  被測(cè)信號(hào)與干擾信號(hào)距自適應(yīng)測(cè)試距離7.5m,被測(cè)信號(hào)放置在0o位置,干擾信號(hào)放置9.4o的位置,測(cè)試結(jié)果如表1。

  表1 測(cè)試結(jié)果1

  在被測(cè)信號(hào)源關(guān)閉,干擾信號(hào)源打開(kāi)的情況下,自適應(yīng)輸出端口的信號(hào)功率電平如表2。

  表2 測(cè)試結(jié)果2



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