新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設計應用 > 電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(下)*

電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(下)*

——
作者:葛壽兵 中國電子科技集團公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團公司第50研究所 時間:2009-05-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  采用M個陣元的自適應線陣,它的方向圖函數(shù)可表示為:

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/94656.htm

  (16)

  式中wi為各陣元的復加權系數(shù);d為相鄰單元間距。

  圖6給出了當自適應陣列方向圖最大增益指向q=0o的被測信號方向,方向圖零深對準q=q1的干擾信號方向,則測試點處的被測信號與干擾信號的幅度比為:

  (17)

  如果SIR高于15dB,則進入頻譜儀的干擾信號幅度遠小于被測信號,即可以忽略干擾信號的對測試結果的影響。



評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉