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測試測量技術(shù)發(fā)展趨勢

作者:徐赟 NI中國技術(shù)市場工程師 時間:2009-06-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  趨勢二:多核/并行測試帶來機(jī)遇和挑戰(zhàn)

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/95265.htm

  多核時代的來臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢,雙核乃至八核的商用PC現(xiàn)在已隨處可見。得益于PC架構(gòu)的定義的儀器,用戶可以在第一時間享受到多核處理器為自動化測試應(yīng)用帶來的巨大性能提升。

  要充分發(fā)揮多核的性能優(yōu)勢,就必須創(chuàng)建多線程的應(yīng)用程序,例如我們可以將自動化測試程序的數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)記錄乃至用戶界面部分創(chuàng)建不同的線程,從而分配到不同的核上來并行運(yùn)行。不過,這種并行的開發(fā)理念使得習(xí)慣于傳統(tǒng)串行開發(fā)方式的工程師難以適應(yīng),尤其是當(dāng)核的數(shù)目越來越多……

  挑戰(zhàn)和機(jī)遇往往是并存的,作為圖形化語言的代表,在設(shè)計(jì)當(dāng)初就考慮到了并行處理的需求,從 5.0開始支持多線程到現(xiàn)在已有10多年的歷史。通過自動的程序多線程化(見圖2),開發(fā)人員可以無需考慮底層的實(shí)現(xiàn)機(jī)制,就可以高效地享用多核技術(shù)所帶來的益處。

  無論是歐南天文臺極大望遠(yuǎn)鏡高達(dá)2700萬次乘加運(yùn)算的鏡面控制,到Tokamak核聚變裝置的實(shí)時處理運(yùn)算,還是NASA的飛機(jī)安全性測試和TORC汽車控制快速原型設(shè)計(jì),多核技術(shù)都為這些應(yīng)用帶來了巨大的性能和吞吐量的提升,隨著多核技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展,提升的幅度將更為可觀。

  趨勢三:基于FPGA的自定義儀器將更為流行

  隨著設(shè)計(jì)和測試的要求越來越高,F(xiàn)PGA(現(xiàn)場可編程門陣列)技術(shù)正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中,這也就是我們所說的基于FPGA的自定義儀器。

  FPGA的高性能和可重復(fù)配置特性一直是硬件設(shè)計(jì)工程師們的最愛,而對于測試工程師而言,又何嘗不想擁有硬件級的確定性和并行性呢?像諸如實(shí)時系統(tǒng)仿真、高速內(nèi)存測試等應(yīng)用都需要用到FPGA來確保響應(yīng)的實(shí)時性和高速的數(shù)據(jù)流入和流出,F(xiàn)PGA的IP核更可以為工程師植入自主知識產(chǎn)權(quán)的算法提供契機(jī)。然而,苦于對硬件設(shè)計(jì)知識的缺乏和對VHDL或Verilog語言編程的恐懼,許多測試工程師對于FPGA技術(shù)望而卻步。



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