測(cè)試測(cè)量技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)

　　現(xiàn)在，NI提供的R系列數(shù)據(jù)采集和FlexRIO產(chǎn)品家族將高性能的FPGA集成到現(xiàn)成可用的I/O 板卡上，供用戶(hù)根據(jù)應(yīng)用進(jìn)行定制和重復(fù)配置，同時(shí)配合LabVIEW FPGA直觀方便的圖形化編程，用戶(hù)能夠在無(wú)需編寫(xiě)底層VHDL代碼的情況下，快速地配置和編程FPGA的功能，用于自動(dòng)化測(cè)試和控制應(yīng)用(見(jiàn)圖3)。

　　前段時(shí)間，歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強(qiáng)大的粒子加速度器——大型強(qiáng)子對(duì)撞機(jī)(LHC)配備了超過(guò)120套帶有可重復(fù)配置I/O模塊的NI PXI系統(tǒng)，用于控制瞄準(zhǔn)儀的運(yùn)動(dòng)軌跡和監(jiān)測(cè)其實(shí)時(shí)位置，從而確保粒子在既定的路徑中運(yùn)作。為了保證極高的可靠性和精確性，F(xiàn)PGA成為其必備的測(cè)試和控制技術(shù)。

　　隨著對(duì)FPGA技術(shù)應(yīng)用復(fù)雜性的簡(jiǎn)化，可以預(yù)計(jì)，擁有高性能和靈活性的FPGA技術(shù)將越來(lái)越多地被應(yīng)用于未來(lái)的儀器系統(tǒng)中。

　　趨勢(shì)四：無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的爆炸性增長(zhǎng)

　　近年來(lái)無(wú)線通信標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展可謂是日新月異，從2000年前只有四五種的無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)到現(xiàn)在眾多新標(biāo)準(zhǔn)如雨后春筍般涌現(xiàn)。越來(lái)越多的消費(fèi)電子產(chǎn)品和工業(yè)產(chǎn)品都或多或少地集成了無(wú)線通信的功能，像蘋(píng)果公司最新的3G版iPhone手機(jī)，更是同時(shí)集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和藍(lán)牙等多種最新的無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)。這些都給無(wú)線技術(shù)的開(kāi)發(fā)和測(cè)試帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn)，測(cè)試技術(shù)如何跟上無(wú)線技術(shù)的發(fā)展成為工程師面臨的最大難題。通常傳統(tǒng)射頻儀器的購(gòu)買(mǎi)周期是5~7年，而新標(biāo)準(zhǔn)和新技術(shù)的推出周期卻是每?jī)赡暌惠啠?gòu)買(mǎi)的射頻測(cè)試設(shè)備由于其固件和功能的限定通常難以跟上新標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展速度。