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ADC／DAC精度計(jì)算器教程

精度計(jì)算器（ACCU）有助于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用電路的設(shè)計(jì)和分析。它計(jì)算理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的直流精度。該程序適用于HP? 50g計(jì)算器或免費(fèi)的PC模擬器。精度計(jì)算器（ACCU）有助于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用電路的設(shè)計(jì)和分析。它計(jì)算理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的直流精度。該程序適用于HP? 50g計(jì)算器或免費(fèi)的PC模擬器。介紹Steve Edwards是一位經(jīng)驗(yàn)豐富的模擬設(shè)計(jì)工程師，他編寫(xiě)了幾個(gè)計(jì)算器來(lái)自動(dòng)執(zhí)行重復(fù)性任務(wù)。這些工具正在共享，以幫助其他模擬設(shè)計(jì)工程師選擇、指定和表征模擬電路。我們將總結(jié)一個(gè)這樣的工具的功能，即精度計(jì)算器。精度計(jì)
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采用創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)進(jìn)行ADC和音頻測(cè)試的高性能信號(hào)源

摘要要測(cè)試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號(hào)發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。有些參考設(shè)計(jì)（例如ADMX1002）利用高性能精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)簡(jiǎn)化了這一任務(wù)，這些轉(zhuǎn)換器具有出色的精度和分辨率水平。1此外，加入一種創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真算法可以進(jìn)一步增強(qiáng)測(cè)試信號(hào)的保真度，從而以低成本的小尺寸實(shí)現(xiàn)出色的低失真信號(hào)。簡(jiǎn)介隨著精密模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和高保真音頻設(shè)備（CODEC、MEMS麥克風(fēng)等）不斷發(fā)展，越來(lái)越需要在自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)中生成高性能的音頻和任意信號(hào)。要描述、驗(yàn)
關(guān)鍵字：數(shù)字預(yù)失真技術(shù) ADC 音頻測(cè)試高性能信號(hào)源

如何利用傳感器和ADC的比率特性來(lái)提高精度

大多數(shù)傳感器本質(zhì)上都是模擬的，因此必須數(shù)字化后才可用于當(dāng)前的電子系統(tǒng)中。這篇應(yīng)用筆記的內(nèi)容涵蓋了比率傳感器的基本原理及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的配合使用。尤其是，本文還將說(shuō)明如何利用傳感器和ADC的比率特性來(lái)提高精度，同時(shí)減少元件數(shù)目，降低成本，節(jié)省電路板空間。大多數(shù)傳感器本質(zhì)上都是模擬的，因此必須數(shù)字化后才可用于當(dāng)前的電子系統(tǒng)中。這篇應(yīng)用筆記的內(nèi)容涵蓋了比率傳感器的基本原理及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的配合使用。尤其是，本文還將說(shuō)明如何利用傳感器和ADC的比率特性來(lái)提高精度，同時(shí)減少元件數(shù)目，降低成本，節(jié)
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FPGA與ADC數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸出的接口

現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)輸出的接口是一項(xiàng)常見(jiàn)的工程設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。本文簡(jiǎn)要介紹各種接口協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn)，并提供有關(guān)在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)方案中使用LVDS的應(yīng)用訣竅和技巧。接口方式和標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸出的接口是一項(xiàng)常見(jiàn)的工程設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。此外，ADC使用多種多樣的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)樣式和標(biāo)準(zhǔn)，使這項(xiàng)挑戰(zhàn)更加復(fù)雜。對(duì)于通常在200 MHz以下的低速數(shù)據(jù)接口，單倍數(shù)據(jù)速率(SDR) CMOS非常普遍：發(fā)送器在一個(gè)時(shí)鐘沿傳送數(shù)據(jù)，接收器在另一個(gè)時(shí)鐘沿接收數(shù)據(jù)。這種方式
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基于熱敏電阻的溫度檢測(cè)系統(tǒng)的優(yōu)化與評(píng)估

正如本系列文章《基于熱敏電阻的溫度測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)和電路配置》所討論的，設(shè)計(jì)和優(yōu)化基于熱敏電阻的應(yīng)用解決方案涉及到不同挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)包括上一篇文章中討論過(guò)的傳感器選擇和電路配置，其他挑戰(zhàn)有測(cè)量?jī)?yōu)化——包括ADC配置和選擇外部元件，同時(shí)確保ADC在規(guī)格范圍內(nèi)運(yùn)行以及系統(tǒng)優(yōu)化，從而實(shí)現(xiàn)目標(biāo)性能并確定與ADC和整個(gè)系統(tǒng)相關(guān)的誤差源。熱敏電阻系統(tǒng)優(yōu)化通過(guò)熱敏電阻配置器和誤差預(yù)算計(jì)算器等易于使用的工具，客戶(hù)可以輕松配置系統(tǒng)中的熱敏電阻，包括接線(xiàn)和連接圖。該工具以比率式配置設(shè)計(jì)具有激勵(lì)電壓的熱敏電阻系統(tǒng)。它還允許客
關(guān)鍵字：熱敏電阻 ADC 數(shù)字濾波器嵌入式診斷

改善你的ADC SNR性能指標(biāo)，試試這款濾波器！

獲得ADC的最佳SNR性能并不僅僅是給ADC輸入提供低噪聲信號(hào)的問(wèn)題，提供一個(gè)低噪聲基準(zhǔn)電壓是同等重要。雖然基準(zhǔn)噪聲在零標(biāo)度沒(méi)有影響，但是在全標(biāo)度，基準(zhǔn)上的任何噪聲在輸出代碼中都將是可見(jiàn)的。對(duì)于某個(gè)給定的ADC，在零標(biāo)度測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍(DR)之所以通常比在全標(biāo)度或接近全標(biāo)度測(cè)量的信噪比(SNR)高出幾個(gè)dB，原因即在于此。在ADC的SNR有可能超過(guò)140dB的過(guò)采樣應(yīng)用中，提供一個(gè)低噪聲基準(zhǔn)電壓是特別重要。如欲實(shí)現(xiàn)這種水平的SNR，即使是最好的低噪聲基準(zhǔn)也需要一些幫助以降低其噪聲電平。能夠降低基準(zhǔn)噪聲的替
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什么是A/D轉(zhuǎn)換器（ADC）

1、概述　　D/A轉(zhuǎn)換器（Digital to Analog Converter）——能把數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電子器件（簡(jiǎn)稱(chēng)為DAC）。　　A/D轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter）——能把模擬量轉(zhuǎn)換成相應(yīng)數(shù)字量的電子器件（簡(jiǎn)稱(chēng)為ADC）。　　A/D轉(zhuǎn)換器把模擬量轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，以便于單片機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。A/D轉(zhuǎn)換一般要經(jīng)過(guò)采樣、保持、量化及編碼4個(gè)過(guò)程。在實(shí)際電路中，有些過(guò)程是合并進(jìn)行的，如采樣和保持，量化和編碼在轉(zhuǎn)換過(guò)程中是同時(shí)實(shí)現(xiàn)的?！　∧壳皢纹腁DC芯片較多，對(duì)設(shè)計(jì)者來(lái)
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Teledyne e2v 就 “了解ADX4 IP可在任何輸入頻率和溫度下提高ADC的射頻性能” 發(fā)布演示視頻

本視頻教程闡述了如何創(chuàng)建一個(gè)Vivado工程，以及如何基于VHDL設(shè)計(jì)案例和EV12AQ600-ADX-EVM演示板，在Kintex Ultrascale FPGA上實(shí)現(xiàn)ADX4 IP。本教程還介紹了加載FPGA比特流、使用Vivado檢索ADX4 IP處理的采樣數(shù)據(jù)以及使用Python圖形用戶(hù)界面(GUI)分析SFDR性能的所有步驟。?更多信息，請(qǐng)點(diǎn)擊下面的鏈接：視頻：https://v.qq.com/x/page/x33447iyn93.htmlADX4 IP Teledyne SP Dev
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Teledyne e2v：通過(guò)雜散抑制IP，立即將寬帶ADC的動(dòng)態(tài)性能提高約10 dBFS

● 新的EV12AQ600/605-ADX4器件選項(xiàng)具有集成的ADX4許可證密鑰，可提高高達(dá)6.4 GS/s（單通道模式）的峰值運(yùn)行時(shí)的動(dòng)態(tài)性能。● ADX4 - 與Xilinx Kintex? Ultrascale? FPGA兼容的后處理算法可在寬帶應(yīng)用中提供高達(dá)10 dBFS的SFDR動(dòng)態(tài)雜散抑制和接近1個(gè)有效位的額外分辨率?！?nbsp;時(shí)間交錯(cuò)雖然提供了概念上易于理解的采樣率提升，但在擴(kuò)展分辨率和寬帶寬下很難實(shí)現(xiàn)。為EV12AQ600/5提供即時(shí)、無(wú)需設(shè)計(jì)
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Teledyne e2v：通過(guò)雜散抑制IP，立即將寬帶ADC的動(dòng)態(tài)性能提高約10 dBFS

新的EV12AQ600/605-ADX4器件選項(xiàng)具有集成的ADX4許可證密鑰，可提高高達(dá)6.4 GS/s（單通道模式）的峰值運(yùn)行時(shí)的動(dòng)態(tài)性能。ADX4 - 與Xilinx Kintex? Ultrascale? FPGA兼容的后處理算法可在寬帶應(yīng)用中提供高達(dá)10 dBFS的SFDR動(dòng)態(tài)雜散抑制和接近1個(gè)有效位的額外分辨率。時(shí)間交錯(cuò)雖然提供了概念上易于理解的采樣率提升，但在擴(kuò)展分辨率和寬帶寬下很難實(shí)現(xiàn)。為EV12AQ600/5提供即時(shí)、無(wú)需設(shè)計(jì)的動(dòng)態(tài)性能增強(qiáng) Teledyne
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燦芯半導(dǎo)體推出高精度16位SAR ADC

一站式定制芯片及IP供應(yīng)商——燦芯半導(dǎo)體日前宣布推出高精度16位逐次逼近型（16bit SAR）ADC。該IP首個(gè)測(cè)試芯片基于中芯國(guó)際55nm工藝流片成功，現(xiàn)已完成EVB測(cè)試，可提供給客戶(hù)進(jìn)行評(píng)估。該IP采樣率為1MHz, ENOB（有效位）可達(dá)14bit，通常情況下其DNL（微分線(xiàn)性誤差）介于-0.4LSB至0.47LSB之間，INL（積分線(xiàn)性誤差）居于-1.8LSB至2.2LSB之間，其典型功耗是4.25mA，性能指標(biāo)處于國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平。燦芯半導(dǎo)體深耕高精度12/14/16 bit SAR
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ADI新型Easy Drive SAR ADC 簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)并提供領(lǐng)先性能

亞德諾半導(dǎo)體（Analog Devices，ADI）推出新一代16至24位超高精度逐次漸近緩存器（SAR）模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）系列產(chǎn)品，可簡(jiǎn)化在儀器儀表、工業(yè)和醫(yī)療健康應(yīng)用領(lǐng)域中復(fù)雜的ADC設(shè)計(jì)。新型高性能SAR ADC系列采用ADI專(zhuān)利的Easy Drive技術(shù)和通用Flexi-SPI串行周邊接口（SPI），可因應(yīng)系統(tǒng)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)并擴(kuò)大直接兼容的配套產(chǎn)品選擇范圍。ADI的Easy Drive技術(shù)在保持組件性能的同時(shí)亦克服傳統(tǒng)系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，例如嚴(yán)格的布局指南及數(shù)字接口時(shí)序要求，以及復(fù)雜的配套產(chǎn)品選擇。通
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優(yōu)化邊緣節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)，加速人工智能應(yīng)用落地

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)(IoT) 正在醞釀廣泛的轉(zhuǎn)變，這種轉(zhuǎn)變不僅將使互聯(lián)機(jī)器間的相互檢測(cè)成為一種競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，還將使其成為必不可少的基本服務(wù)。工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)以邊緣節(jié)點(diǎn)為起始點(diǎn)，后者是檢測(cè)和測(cè)量的目標(biāo)切入點(diǎn)。這是物理世界與計(jì)算數(shù)據(jù)分析進(jìn)行交互的接口所在?；ヂ?lián)的工業(yè)機(jī)器可檢測(cè)大量的信息，進(jìn)而用于制定關(guān)鍵決策。這種邊緣傳感器可能遠(yuǎn)離存儲(chǔ)歷史分析的云服務(wù)器。它必須通過(guò)將邊緣數(shù)據(jù)聚合到互聯(lián)網(wǎng)的網(wǎng)關(guān)進(jìn)行連接。理想情況下，邊緣傳感器節(jié)點(diǎn)具有很小的規(guī)格尺寸，可在空間受限的環(huán)境中輕松進(jìn)行部署。解決邊緣節(jié)點(diǎn)的檢測(cè)、測(cè)量、解讀與連接挑戰(zhàn)數(shù)據(jù)可以
關(guān)鍵字： 202204 ADC 模擬信號(hào)鏈 OtoSense MEMS加速度計(jì)

Teledyne e2v半導(dǎo)體公司將EV12AQ600 ADC添加到其經(jīng)MIL-PRF-38535 Y級(jí)太空應(yīng)用認(rèn)證的高性能數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品組合中

領(lǐng)先的高可靠度半導(dǎo)體解決方案提供商Teledyne e2v近日宣布推出經(jīng)太空認(rèn)證的EV12AQ600，這是其擁有QML-Y太空認(rèn)證的高性能產(chǎn)品組合中最先進(jìn)、最通用的四核多通道ADC。QML Y認(rèn)證由美國(guó)航空航天局領(lǐng)導(dǎo)的工作組定義，并在最新版本的DLA MIL-PRF-38535的中正式發(fā)布。傳統(tǒng)的QML V認(rèn)證僅與傳統(tǒng)的密封裝配工藝。新一代裝配技術(shù)（如陶瓷上的倒裝芯片）兼容，后續(xù)的制造、篩選和鑒定流程沒(méi)有考慮在內(nèi)。可靠性對(duì)于進(jìn)入太空的產(chǎn)品至關(guān)重要，QML Y使得宇航系統(tǒng)制造商可以從這些最新技術(shù)中受益，同時(shí)
關(guān)鍵字： Teledyne e2v EV12AQ600 ADC 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器