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RFID被動(dòng)式電子標(biāo)簽制程良率探討

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40納米良率大降　張忠謀：4Q一定解決

  • 　　近期半導(dǎo)體業(yè)界再度傳出臺(tái)積電40納米制程良率大降至40%，導(dǎo)致繪圖芯片大客戶恩威迪亞(NVIDIA)、超微(AMD)出貨計(jì)畫順延，臺(tái)積電董事長張忠謀29日對(duì)此證實(shí)指出，臺(tái)積電40納米制程確實(shí)遇到設(shè)備腔體接合(chamber matching)問題，恐影響臺(tái)積電第4季毛利率約2個(gè)百分點(diǎn)，但張忠謀信心滿滿地保證，新的問題可在第4季解決，2009年底40納米制程占營收比重將達(dá)10%。此外，臺(tái)積電亦調(diào)高2009年資本支出至27億美元，強(qiáng)化投資力道。 　　盡管目前臺(tái)積電40納米制程已占單季營收比重4%，是晶圓
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臺(tái)積電40nm制程良率再遇麻煩，一度降至40%

  • 　　臺(tái)積電40nm制程良率最近似乎又遇到了麻煩，據(jù)臺(tái)積電公司的主席張忠謀稱，10月初開始該公司40nm制程的良率降至40%左右，公司計(jì)劃于年底前解決 這次良率下降的問題。由于這次良率下降事件發(fā)生的時(shí)間段與AMD HD5800/5700系列以及Nvidia Fermi架構(gòu)顯卡上市熱賣的時(shí)間段重合，因此預(yù)計(jì)市場上的有關(guān)顯卡產(chǎn)品的供貨可能會(huì)受到一定的影響。 　　近幾個(gè)月以來有關(guān)臺(tái)積電40nm制程良率的負(fù)面新聞一直不絕于耳，在7月份的2009股東會(huì)議上，臺(tái)積電主席張忠謀曾透露稱其40nm制程的良率相比二季度已經(jīng)
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制程良率介紹

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