動態(tài)測試 文章 進入動態(tài)測試技術社區(qū)
筑波科技與美商泰瑞達攜手ETS 開創(chuàng)化合物半導體IC的動態(tài)測試新紀元
- 圖 筑波科技華南區(qū)銷售總監(jiān)黃博彥Fred Huang、ETS動態(tài)測試方案筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(Teradyne)攜手合作,推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案,為半導體行業(yè)市場帶來突破性的競爭優(yōu)勢。半導體功能測試(FT)向來需要克服各種挑戰(zhàn),包括復雜的案例設計、執(zhí)行和系統(tǒng)維護、數(shù)據分析管理,以及對測試環(huán)境穩(wěn)定性的高度要求。如何以單一機臺實現(xiàn)CP與FT測試的一機多用,實現(xiàn)DUT批次特性驗證,產線大批量生產並兼顧「動態(tài)和靜態(tài)」測試,成為了業(yè)界關
- 關鍵字: 筑波 泰瑞達 ETS 化合物半導體 動態(tài)測試
基于PC/104的陀螺儀動態(tài)測試系統(tǒng)設計
- 0 引 言
陀螺儀是平臺穩(wěn)定系統(tǒng)的敏感測量元件,它敏感臺體的角運動信號,通過平臺伺服回路,建立平臺的穩(wěn)定基準。因此陀螺儀的性能直接影響到平臺穩(wěn)定系統(tǒng)的性能,對嚴格測試其動態(tài)性能指標具有重要的意義。 - 關鍵字: 104 陀螺儀 動態(tài)測試 系統(tǒng)設計
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動態(tài)測試介紹
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