方法研究文章進(jìn)入方法研究技術(shù)社區(qū)

微波通信天線選擇與優(yōu)化方法研究

簡(jiǎn)述微波天線在通信中應(yīng)用的廣泛性和重要性，在對(duì)第一菲涅爾區(qū)、衰落因子和相對(duì)余隙等重要因素詳細(xì)分析的基礎(chǔ)上，提出選擇微波天線時(shí)應(yīng)注意的問題，并提出采用分集接收、自適應(yīng)均衡、阻抗匹配和避雷保護(hù)等技術(shù)改善微波天線的性能，進(jìn)而提出微波天線選擇的優(yōu)化方案。
關(guān)鍵字：方法研究優(yōu)化選擇天線微波通信

基于灰度共生矩陣的圖像分割方法研究

所謂圖像分割就是指把圖像分成各具特性的區(qū)域，并提取出感興趣目標(biāo)的技術(shù)和過程。它是數(shù)字圖像處理中的關(guān)鍵技術(shù)之一，是進(jìn)一步進(jìn)行圖像識(shí)別、分析和理解的基礎(chǔ)。目前圖像分割方面現(xiàn)有的算法非常多，將它們進(jìn)行分類的
關(guān)鍵字：灰度方法研究矩陣圖像分割

短溝道MOSFET散粒噪聲測(cè)試方法研究

近年來隨著介觀物理和納米電子學(xué)對(duì)散粒噪聲研究的不斷深入，人們發(fā)現(xiàn)散粒噪聲可以很好的表征納米器件內(nèi)部電子傳輸特性。由于宏觀電子元器件中也會(huì)有介觀或者納米尺度的結(jié)構(gòu)，例如缺陷、小孔隙和晶粒等，因而也會(huì)
關(guān)鍵字： MOSFET 噪聲測(cè)試方法研究

基于C++TCL PLI聯(lián)合仿真下的芯片驗(yàn)證方法研究

0 引言
當(dāng)今社會(huì)，芯片技術(shù)與人們的生活密切相關(guān)，在各種電子產(chǎn)品中都有芯片的身影，而且，它們往往是電子產(chǎn)品關(guān)鍵的核心技術(shù)。制造芯片的流程非常復(fù)雜而且資源投入巨大，保證芯片的設(shè)計(jì)質(zhì)量非常重要。驗(yàn)證工
關(guān)鍵字： TCL PLI 聯(lián)合仿真方法研究

基于符號(hào)模擬的電路中錯(cuò)誤診斷方法研究

錯(cuò)誤診斷是在邏輯芯片中預(yù)測(cè)潛在錯(cuò)誤點(diǎn)的過程。為了快速有效地診斷電路中的錯(cuò)誤，提出一種將符號(hào)模擬技術(shù)應(yīng)用到基于區(qū)域模型的錯(cuò)誤診斷法上的新思想，具體方法是通過對(duì)要診斷的電路進(jìn)行區(qū)域劃分，然后利用符號(hào)模擬方法依據(jù)兩種測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)對(duì)各個(gè)區(qū)域候選者進(jìn)行可疑度的等級(jí)排序，從而對(duì)電路中所含錯(cuò)誤進(jìn)行判斷。可疑度越高的區(qū)域，其作為錯(cuò)誤候選者的可能性越大。該方法利用符號(hào)模擬技術(shù)，不需要對(duì)向量空間進(jìn)行窮盡的列舉，因而在空間和時(shí)間上是有效的。
關(guān)鍵字：符號(hào) 電路方法研究模擬

一種新穎的電力變壓器故障診斷方法研究

本文在傳統(tǒng)方法的基礎(chǔ)上，提出了一種新的基于聯(lián)合時(shí)頻分析的故障診斷方法。該方法首先根據(jù)濾波后的沖擊信號(hào)得到差異電流信號(hào)，然后對(duì)差異信號(hào)進(jìn)行聯(lián)合時(shí)頻分析，得到時(shí)頻分布圖。不同的時(shí)頻分布圖反映不同的故障特征，不同的故障反映在時(shí)頻分布圖上也是不同的。通過建立故障時(shí)頻分布圖數(shù)據(jù)庫(kù)，就可以實(shí)現(xiàn)電力變壓器故障的自動(dòng)定位、識(shí)別。由于該方法完全由計(jì)算機(jī)完成，較傳統(tǒng)方法準(zhǔn)確性高，應(yīng)用前景更為廣闊。
關(guān)鍵字：電力變壓器故障診斷方法研究

基于改進(jìn)的遺傳算法軟硬件劃分方法研究

隨著芯片集成度的飛速發(fā)展，集成電路的設(shè)計(jì)已經(jīng)進(jìn)入了片上系統(tǒng)(Soc，System on chip)的時(shí)代。傳統(tǒng)的軟硬件分開設(shè)計(jì)的方法已經(jīng)不在適合Soc設(shè)計(jì)的需要，而軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)技術(shù)很好解決了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)方法所不能解決的問題。軟硬件劃分方法是軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)中的一個(gè)關(guān)鍵問題，從基于多目標(biāo)的遺傳算法出發(fā)，主要做了兩方面的改進(jìn)：一方面引入小生境技術(shù)，進(jìn)一步優(yōu)化了算法；另一方面是引入精英保持策略，保證了算法的收斂性。
關(guān)鍵字：算法軟硬件方法研究

一種3G無線網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量管理方法研究

為了評(píng)價(jià)3G無線網(wǎng)絡(luò)――UTRAN(UMTS Terrestrial Radio Access Network，陸地?zé)o線接入網(wǎng))網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量，提出了一個(gè)UTRAN網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量評(píng)價(jià)指標(biāo)體系。在該指標(biāo)體系的基礎(chǔ)之上，將模糊數(shù)學(xué)理論引入網(wǎng)絡(luò)管理領(lǐng)域，根據(jù)模糊綜合評(píng)價(jià)算法建立了UTRAN網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量模糊綜合評(píng)價(jià)模型。最后應(yīng)用此模型，對(duì)UTRAN試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了模糊綜合評(píng)價(jià)，得到了UTRAN網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量的量化評(píng)價(jià)結(jié)果。
關(guān)鍵字：方法研究質(zhì)量管理無線網(wǎng)絡(luò) 3G 一種

基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究

基站發(fā)射系統(tǒng)是移動(dòng)通信系統(tǒng)的重要組成部分，其性能優(yōu)劣對(duì)整體移動(dòng)通信質(zhì)量的影響至關(guān)重要。根據(jù)移動(dòng)網(wǎng)運(yùn)行質(zhì)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果分析，造成移動(dòng)通信質(zhì)量指標(biāo)下降的主要原因來自天饋線系統(tǒng)（約占一半以上），而在天饋線系統(tǒng)中
關(guān)鍵字：測(cè)試方法研究匹配系統(tǒng) 發(fā)射基站網(wǎng)絡(luò)

單片機(jī)系統(tǒng)RAM的測(cè)試方法研究

在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對(duì)
關(guān)鍵字：方法研究測(cè)試 RAM 系統(tǒng) 單片機(jī)

基于并聯(lián)技術(shù)的三相功率因數(shù)校正方法研究

引言
電力電子裝置的廣泛應(yīng)用，給公用電網(wǎng)造成嚴(yán)重污染，諧波和無功問題日益受到重視。為了減輕電力污染的危害程度，許多國(guó)家紛紛制定了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，如國(guó)際電工委員會(huì)的諧波標(biāo)準(zhǔn)IEEE555―2和IEC―1000―3―2等。
關(guān)鍵字：校正方法研究因數(shù) 功率技術(shù) 三相基于電源

路面破損圖像實(shí)時(shí)檢測(cè)方法研究

摘要：提出一種路面破損圖像實(shí)時(shí)檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)方法。對(duì)高速采集的路面圖像去模糊后再進(jìn)行裂紋特征分析，設(shè)計(jì)了一種基于鄰域像素灰度值比較的特征快速提取方法，利用鄰域相關(guān)及連貫性等知識(shí)智能去除虛假裂紋，從而提取真
關(guān)鍵字：路面方法研究圖像實(shí)時(shí)檢測(cè)

FLASH存儲(chǔ)器的測(cè)試方法研究

1．引言隨著當(dāng)前移動(dòng)存儲(chǔ)技術(shù)的快速發(fā)展和移動(dòng)存儲(chǔ)市場(chǎng)的高速擴(kuò)大，F(xiàn)LASH型存儲(chǔ)器的用量迅速增長(zhǎng)。FLASH芯片由于其便攜、可靠、成本低等優(yōu)點(diǎn)，在移動(dòng)產(chǎn)品中非常適用。市場(chǎng)的需求催生了一大批FLASH芯片研發(fā)、
關(guān)鍵字： FLASH 存儲(chǔ)器測(cè)試方法研究

嵌入式系統(tǒng)降低功耗的方法研究

嵌入式系統(tǒng)降低功耗的方法研究,摘要低功耗嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)的能量消耗問題是近幾年來在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn)，它嚴(yán)重制約著嵌入式系統(tǒng)的應(yīng)用及發(fā)展。本文以降低嵌入式系統(tǒng)所耗電能為目標(biāo)，提出了嵌入式系統(tǒng)降低功耗的綜合措施，并對(duì)
關(guān)鍵字：方法研究功耗降低系統(tǒng) 嵌入式

高速工業(yè)平縫機(jī)轉(zhuǎn)速測(cè)量方法研究

摘要：針對(duì)寬調(diào)速范圍高速工業(yè)平縫機(jī)無刷直流電機(jī)的轉(zhuǎn)速測(cè)量方法進(jìn)行研究。分析了脈沖計(jì)數(shù)法與脈沖周期法的原理與實(shí)現(xiàn)，測(cè)量精度與轉(zhuǎn)速的關(guān)系，提出在不同的速度段采用不同的速度測(cè)量方法，以保證在整個(gè)調(diào)速范圍內(nèi)都
關(guān)鍵字：工業(yè) 方法研究平縫機(jī) 轉(zhuǎn)速測(cè)量

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