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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測(cè)試方法

電磁兼容設(shè)計(jì)原理及測(cè)試方法

  • 摘要：針對(duì)當(dāng)前嚴(yán)峻的電磁環(huán)境，分析了電磁干擾的來源，通過產(chǎn)品開發(fā)流程的分解，融入電磁兼容設(shè)計(jì)，從原理圖設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)、元器件選型、系統(tǒng)布線、系統(tǒng)接地等方面逐步分析，總結(jié)概括電磁兼容設(shè)計(jì)要點(diǎn)，最后，介紹了
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陶瓷濾波器測(cè)試方法

  • 陶瓷濾波器按幅頻特性分為帶阻濾波器（又稱陷波器）、帶通濾波器（又稱濾波器）兩類。主要用于選頻網(wǎng)絡(luò)、中頻調(diào)諧、鑒頻和濾波等電路中，達(dá)到分隔不同頻率電流的目的。具有Q值高，幅頻、相 頻特性好，體積小、信噪比
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CCD攝像機(jī)測(cè)試方法

  • 測(cè)試攝像機(jī)主要測(cè)試晰度和色彩還原性、照度、逆光補(bǔ)償，其次是測(cè)其球型失真、耗電量、最低工作電壓，下面先把清晰度和色彩還原性以及照度、逆光補(bǔ)償?shù)臏y(cè)量步驟先介紹一下?！　? . 清晰度的測(cè)量　　多個(gè)攝像機(jī)進(jìn)行測(cè)
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電源紋波分析及測(cè)試方法

  • 一、什么叫紋波？紋波（ripple）的定義是指在直流電壓或電流中，疊加在直流穩(wěn)定量上的交流分量。它主要...
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電源效率測(cè)量方法秘籍

  • 本文將向大家介紹測(cè)量開關(guān)電源轉(zhuǎn)換效率的兩種不同方法。第一種方法使用一個(gè)瓦特表和兩個(gè)萬用表；第二種方法介...
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單色LED的檢測(cè)測(cè)試方法

  • 一、主體思路：
    因?yàn)榘l(fā)光二極體具有單向?qū)щ娦?，所以我們使?R times; 10k 檔可測(cè)出其正、反向電阻。一般正向電阻應(yīng)小於 30k 歐姆，反向電阻應(yīng)大於 1M 歐姆。若正、反向電阻均為零，說明內(nèi)部擊穿短路。若正、反向
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基于架構(gòu)與基于流程的DFT測(cè)試方法之比較

  • ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式RAM、多時(shí)鐘域、復(fù)位線和嵌入式IP的測(cè)
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信號(hào)完整性的測(cè)試方法

  • 信號(hào)完整性的測(cè)試手段很多，涉及的儀器也很多，因此熟悉各種測(cè)試手段的特點(diǎn)，以及根據(jù)測(cè)試對(duì)象的特性和要求，選用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試手段，對(duì)于選擇方案、驗(yàn)證效果、解決問題等硬件開發(fā)活動(dòng)，都能夠大大提高效率，起到事半功
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接地電阻的測(cè)試方法

  • 一、接地電阻測(cè)試要求：
    a. 交流工作接地，接地電阻不應(yīng)大于4Omega;；
    b. 安全工作接地，接地電阻不應(yīng)大于4Omega;；
    c. 直流工作接地，接地電阻應(yīng)按計(jì)算機(jī)系統(tǒng)具體要求確定；
    d. 防雷保護(hù)地的接地電阻不應(yīng)大于
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LED光電性能測(cè)試的主要方面

交流穩(wěn)壓電源動(dòng)態(tài)指標(biāo)的測(cè)試方法

  • 摘要：根據(jù)原電子工業(yè)部批準(zhǔn)發(fā)布實(shí)施的SJ/T10542標(biāo)準(zhǔn)，介紹交流穩(wěn)壓電源幾項(xiàng)主要?jiǎng)討B(tài)指標(biāo)及其測(cè)試方法。關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)指標(biāo)測(cè)試方法Test of Dynamic Index about AC Regulated Power Supply Abstract: According t
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交流穩(wěn)壓電源的電磁兼容性要求與測(cè)試方法

  • 摘要：EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項(xiàng)重要指標(biāo)要求?；趯?duì)交流穩(wěn)壓電源使用價(jià)值的要求，其EMC性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級(jí)的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外，更重要的是要為其負(fù)載（對(duì)EMI敏感的電子設(shè)備
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無線話筒的實(shí)用測(cè)試方法

  • 現(xiàn)代文化生活中，很多場(chǎng)合都有可能用到無線話筒。然而，人們對(duì)無線話筒的選擇和使用仍然有很多誤區(qū)，如有效工作距離，人們總認(rèn)為射頻功率越大，其工作距離就越遠(yuǎn)，可實(shí)際工作中往往發(fā)現(xiàn)并非如此。另外，廠商發(fā)布的技
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G652D光纖宏彎損耗測(cè)試方法

  • 　　光纖宏彎損耗測(cè)試，在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測(cè)得的宏彎損耗應(yīng)不超過0.1dB?！　《?中描述：為了保證彎曲損耗易于測(cè)量和測(cè)量準(zhǔn)確度，可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代
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