首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> emvision

應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測(cè)系統(tǒng)

  • 　　近日，應(yīng)用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測(cè)SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng)，它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點(diǎn)。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強(qiáng)的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI)，他們具有卓越的2納米物理精度，能提供無(wú)與倫比的成像質(zhì)量，其每秒一個(gè)缺陷的檢測(cè)速度也設(shè)定了新的基準(zhǔn)。 　　應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門總經(jīng)理Ronen Benzion表示：“45納米
  • 關(guān)鍵字： 測(cè)試  測(cè)量  應(yīng)用材料  EMVision  G4  SEM  測(cè)量工具  
共1條 1/1 1

emvision介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條emvision!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)emvision的理解，并與今后在此搜索emvision的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473