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EEPW首頁 >> 主題列表 >> ieee1149

基于JTAG的調(diào)試器、接口及控制器等經(jīng)典設(shè)計匯總

  • 　　JTAG(JointTestActionGroup，聯(lián)合測試行動組)是一種國際標(biāo)準測試協(xié)議(IEEE1149.1兼容)。標(biāo)準的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。JTAG的主要功能有兩種，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題，另一類用于Debug，對各類芯片以及其外圍設(shè)備進行調(diào)試。本文介紹基于JTAG的調(diào)試器及接口設(shè)計，供大家參考。 　　基于Flash和JTAG接口的FPGA多配置系統(tǒng) 　　本文選用大容
  • 關(guān)鍵字： CPLD  IEEE1149.1  CPU  

用下行鏈路實現(xiàn)遠程邊界掃描測試

  • 將內(nèi)部IEEE1149架構(gòu)與集成在產(chǎn)品中的通信端口鏈接起來，供外界使用。一段時間以來，工程師們按照IE...
  • 關(guān)鍵字： 下行鏈路    邊界掃描  IEEE1149  

基于IEEE1149．4的測試方法研究

  • 根據(jù)混合信號邊界掃描測試的工作機制，提出了符合1149．4標(biāo)準的測試方法，并用本研究室開發(fā)的混合信號邊界掃描測 ...
  • 關(guān)鍵字： IEEE1149．4  測試方法  

基于CPLD的IEEE1149.1 USB下載電纜設(shè)計

  • 引言隨著片上系統(tǒng)(SoC，SystemonChip)時代的到來，包括復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD，ComplexProgrammab...
  • 關(guān)鍵字： FPGA  CPLD  USB下載電纜  IEEE1149.1  

嵌入式邊界掃描(05-100)

  • 　　邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級測試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
  • 關(guān)鍵字： 測試測量  IEEE1149.1  

邊界掃描測試技術(shù)(04-100)

  • 　　最近出現(xiàn)的系統(tǒng)級接口器件，為設(shè)計人員把用于制造測試的邊界掃描測試從板級擴展到系統(tǒng)級提供了靈活條件。 　　擴展到系統(tǒng)級的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)是提供單點接入到多掃描鏈，以支持隔離的診斷能力。這可以用于CPLD和FPGA系統(tǒng)內(nèi)配置的最佳化，以及編程閃存時存儲器讀/寫周期的最佳化。 　　它也支持板到板內(nèi)連測試(用于背投內(nèi)連失效診斷)到端口連接器引腳級。另一個優(yōu)點是在產(chǎn)品裝運前提供系統(tǒng)測試，這包括固件檢驗和簡化固件更新。 　　擴展邊界掃描到系統(tǒng)級提供執(zhí)行嵌入式測試結(jié)構(gòu)(即器件級BIST)的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，這可在EPGA、A
  • 關(guān)鍵字： 嵌入式  IEEE1149.1  
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ieee1149介紹

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