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這幾種調(diào)試接口區(qū)別(JTAG、SWD、RDI、Jlink、Ulink、STlink)

  • 01?JTAG協(xié)議JTAG(Joint Test Action Group,聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測試。現(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如ARM、DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線:TMS、?TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。相關(guān)JTAG引腳的定義為:· TMS:測試模式選擇,TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式;· TCK:測試時鐘輸入;· TDI:測試
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JTAG/SWD/ISP/SWIM詳解單片機(jī)的四種燒寫方式

  •   單片機(jī)是一種可編程控制器,搭好硬件電路后,可以利用程序?qū)崿F(xiàn)很多非常復(fù)雜的邏輯功能,與純硬件電路相比,簡化了硬件外圍的設(shè)計、方便了邏輯的設(shè)計、豐富了邏輯的輸出。不同廠家的單片機(jī)需要不同編程IDE來實現(xiàn)編程。在學(xué)習(xí)單片機(jī)之前,要先清楚單片機(jī)程序是如何燒寫到單片機(jī)內(nèi)部的,在燒寫的過程中需要用到什么工具?因為不通用的燒寫工具可能價格較貴,比如說Micorchip單片機(jī)使用的ICD系列編程器,單臺價格在600-1000元人民幣之間。今天和大學(xué)來認(rèn)識一下單片機(jī)最常用的四種燒寫方式和所使用到的工具?! ?.使用JT
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H-Jtag V1.0 燒寫NOR Flash

一文讀懂STM32的基本系統(tǒng)

  •   STM32的基本系統(tǒng)主要涉及下面幾個部分:  一、電源  1)、無論是否使用模擬部分和AD部分,MCU外圍出去VCC和GND,VDDA、VSSA、Vref(如果封裝有該引腳)都必需要連接,不可懸空;  2)、對于每組對應(yīng)的VDD和GND都應(yīng)至少放置一個104的陶瓷電容用于濾波,并接該電容應(yīng)放置盡量靠近MCU; 3)、用萬用表測試供電電壓是否正確。調(diào)試時最好用數(shù)字電源供電,以便過壓或過流燒壞板子。電壓最好一步一步從進(jìn)線端測試到芯片供電端?! 《?、復(fù)位、啟動選擇  1)、Boot引腳與JTAG無關(guān)。其僅是
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JTAG和支持JTAG的CPU

  •   通常所說的JTAG大致分兩類,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;一類用于Debug。一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。  一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。  下面是一個設(shè)置AT91M40800的命令序列,關(guān)閉中斷,設(shè)置CS0-CS3, 并進(jìn)行
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玩不轉(zhuǎn)JTAG接口,就別想煉就為嵌入式開發(fā)大神?

  •   通常所說的大致分兩類,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;一類用于Debug;一般支持的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。  一個含有 Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力,要使用這些功能,還需要軟件的配合,具體實現(xiàn)的功能則由具體的軟件決定。例如下
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電子工程師必須知道的JTAG知識,你都知道嗎?

  •   JTAG(Joint Test AcTIon Group,聯(lián)合測試行動組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。   JTAG是最基本的通訊協(xié)議之一,大家可以理解為與RX TX或者USB的道理是一樣的,只是一種通訊手段,但與RX TX以及USB有很重大的不同,那就是這個JTAG協(xié)議是最底層的,說的通俗一點(diǎn),一般來說,手機(jī)里邊,CPU是老大,對吧?但在JTAG
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JLink和JTAG接口引腳定義和使用方法

  •   JTAG各類接口針腳定義、含義   一、引腳定義   Test Clock Input (TCK) -----強(qiáng)制要求1   TCK在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。TCK為TAP的操作提供了一個獨(dú)立的、基本的時鐘信號,TAP的所有操作都是通過這個時鐘信號來驅(qū)動的。   Test Mode SelecTIon Input (TMS) -----強(qiáng)制要求2   TMS信號在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。TMS信號用來控制TAP狀態(tài)機(jī)的轉(zhuǎn)換。通過TM
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玩不轉(zhuǎn)JTAG接口,就別想煉就為嵌入式開發(fā)大神?

  •   通常所說的JTAG大致分兩類,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;一類用于Debug;一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。  一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力,要使用這些功能,還需要軟件的配合,具體實
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嵌入式開發(fā)arm技術(shù)JTAG接口解讀

  •   通常所說的大致分兩類,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;一類用于Debug;一般支持的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊?! ∫粋€含有 Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力,要使用這些功能,還需要軟件的配合,具體實現(xiàn)的功能則由具體的軟件決
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合理使用JTAG和IMPACT幫助你調(diào)試FPGA不能啟動的問題

  • 合理使用JTAG和IMPACT幫助你調(diào)試FPGA不能啟動的問題-本來想著把GTX后面兩篇博文找時間寫了,但是最近實在是忙,一直在搭圖像處理的AXI框架和整FPGA-DSP雙平臺的板子,下面先和大家分享一下調(diào)試心得。
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FPGA實戰(zhàn)開發(fā)技巧(9)

  • FPGA實戰(zhàn)開發(fā)技巧(9)-FPGA配置方式靈活多樣,根據(jù)芯片是否能夠自己主動加載配置數(shù)據(jù)分為主模式、從模式以及JTAG模式。典型的主模式都是加載片外非易失( 斷電不丟數(shù)據(jù)) 性存儲器中的配置比特流,配置所需的時鐘信號( 稱為CCLK) 由FPGA內(nèi)部產(chǎn)生,且FPGA控制整個配置過程
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嵌入式開發(fā)arm技術(shù)JTAG接口解讀

  •   通常所說的JTAG大致分兩類,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;一類用于Debug;一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊?! ∫粋€含有JTAG Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力,要使用這些功能,還需要軟件的配合,具體實
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你的設(shè)計為什么出問題?也許是嵌入式JTAG接口惹的禍

  •   通常所說的JTAG大致分兩類,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;一類用于Debug;一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。   一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,TImers,GPIO等等的寄存器。   上面說的只是JTAG接口所具備的能力,要使用這些功能,還需要軟件的配合,具體
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jtag介紹

  JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測試行為組織)”的詞頭字母的簡寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細(xì) ]

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