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波士頓半導(dǎo)體推出Aetrium分選機(jī)直銷與服務(wù)

  • 　　波士頓半導(dǎo)體設(shè)備公司(BSE) 近日宣布，其在亞洲的現(xiàn)有銷售與服務(wù)機(jī)構(gòu)將立即開始在該地區(qū)提供Aetrium 分選機(jī)的銷售與服務(wù)。 BSE 最近收購了Aetrium Inc. 的測試分選機(jī)資產(chǎn)(其使用者與使用波士頓半導(dǎo)體設(shè)備公司現(xiàn)有自動化測試設(shè)備(ATE) 的公司及部門相同)。 BSE 龐大的亞洲銷售與服務(wù)團(tuán)隊(duì)力量將為Aetrium 分選機(jī)提供支援, 更可以加強(qiáng)該公司對亞洲地區(qū)關(guān)鍵半導(dǎo)體制造商及封測代工(OSAT) 客戶的支援?！　〔ㄊ款D半導(dǎo)體設(shè)備公司執(zhí)行副總裁Colin Scholefield 稱：「
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消費(fèi)類音視頻SoC系統(tǒng)的ATE測試

  • 消費(fèi)類領(lǐng)域的融合正在加速，在消費(fèi)類電腦以及通信應(yīng)用中，由于每個(gè)設(shè)備不斷地增添新的功能，它們之間的界線變得更加模糊。例如無線手機(jī)，僅此一個(gè)設(shè)備現(xiàn)已內(nèi)置數(shù)碼攝像機(jī)、視頻、因特網(wǎng)與電子郵件接入、多媒體消息、
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基于ATE測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻簡介

  • 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE(自動測試設(shè)備)中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被測
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基于ATE測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻

  • 　　圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE(自動測試設(shè)備)中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。
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基于ATE推動WiMAX射頻測試與特征描述

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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ATE促進(jìn)WiMAX射頻測試與特征描述

  • 事實(shí)證明，WiMAX收發(fā)器件有益于消費(fèi)電子市場的發(fā)展，它們在此找到了多種用途，其中包括把WiFi熱點(diǎn)連接到互聯(lián)網(wǎng)。為確保器件按預(yù)想的那樣工作，并且使它們迅速上市，器件制造商們需要先進(jìn)的多功能測試設(shè)備和同樣先進(jìn)的
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利用ATE測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻

  • 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動測試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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理解ATE SPI (串行外設(shè)接口)

  • 理解ATE SPI (串行外設(shè)接口)大多數(shù)Maxim? ATE設(shè)計(jì)都采用了一個(gè)串行接口，以便從外部控制器件。這種串行接口 ...
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Test Advantage通過收購Microstats拓展亞洲業(yè)務(wù)

  • Boston Semi Equipment Group（BSE 集團(tuán)）旗下公司 Test Advantage 今天宣布已經(jīng)收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設(shè)備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶群，以增強(qiáng) Test Advantage 在后端半導(dǎo)體市場的產(chǎn)品和服務(wù)。
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e絡(luò)盟新增Fluke多功能鉗表系列

  • e絡(luò)盟（前身為派睿電子）母公司Element14公司日前宣布，在其亞太地區(qū)銷售清單中推出業(yè)內(nèi)最新的鉗表系列。...
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利用ATE（自動測試設(shè)備）測試電源負(fù)載的數(shù)字可編

  • 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動測試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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ATE 8月高調(diào)亮相深圳

  • 　　中國目前唯一一個(gè)專注于工業(yè)組裝技術(shù)與裝備應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)展覽會--第三屆華南國際工業(yè)組裝技術(shù)與裝備展覽會（Assembly Technology Expo China-ATE），將在成功舉辦兩屆的基礎(chǔ)上，于2008 年8月26日至29日再次閃亮登陸深圳會展中心。 　　工業(yè)組裝產(chǎn)品技術(shù)在整車制造和汽車零部件、電子及通訊設(shè)備、家用電器、醫(yī)療設(shè)備和機(jī)械制造行業(yè)等領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。華南地區(qū)作為全球制造業(yè)增長最快的地區(qū)之一，在電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展、汽車制造等行業(yè)均遠(yuǎn)遠(yuǎn)領(lǐng)先于我國其他地區(qū)。數(shù)據(jù)分析顯示，華南地區(qū)
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利用多路輸出電源實(shí)現(xiàn)ATE系統(tǒng)的最大靈活性和經(jīng)濟(jì)性

  • ATE 系統(tǒng)設(shè)計(jì)師經(jīng)常要同時(shí)面對降低系統(tǒng)成本和提高系統(tǒng)靈活性的挑戰(zhàn)。本文講述 ATE 系統(tǒng)電源新的獨(dú)特性能和如何幫助 ATE 系統(tǒng)設(shè)計(jì)師從容應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。
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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

  • 　　邊界掃描廣泛應(yīng)用在板級測試和系統(tǒng)內(nèi)編程中。這些應(yīng)用典型地包含了具有邊界掃描能力的器件與群集器件測試之間的連接性測試，來驗(yàn)證與非邊界掃描器件(存儲器和邏輯器件)的連接性。 　　測試性和可實(shí)現(xiàn)測試覆蓋范圍是UUT(被測單元)特定的，并依賴于邊界掃描實(shí)現(xiàn)的水平。特別是在產(chǎn)品測試中，利用連接到UUT上的外設(shè)I/O進(jìn)行測試來擴(kuò)展邊界掃描測試覆蓋范圍。最近幾年，第3方邊界掃描工具的集成流行于板級產(chǎn)品測試設(shè)備，如內(nèi)電路測試器。往往這樣的集成，比獨(dú)立應(yīng)用的邊界掃描系統(tǒng)優(yōu)越性并不多。某些方案靠組合邊界掃描和ATE資源
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Gartner:08全球半導(dǎo)體設(shè)備開支將降9.9%

  • 　　據(jù)市場研究公司Gartner最新發(fā)表的研究報(bào)告稱，2008年全球半導(dǎo)體設(shè)備開支預(yù)計(jì)將達(dá)到403億美元，比2007年的448億美元減少9.9%。 　　Gartner半導(dǎo)體生產(chǎn)事業(yè)部副總裁KlausRinnen稱，2007年的特點(diǎn)是DRAM內(nèi)存不顧供過于求的現(xiàn)實(shí)繼續(xù)加大投資、NAND閃存開支增速減緩和代工廠商恢復(fù)開支的狀況令人失望。在2008年，我們預(yù)計(jì)隨著DRAM內(nèi)存市場將糾正資本開支的長期錯(cuò)誤，半導(dǎo)體主要設(shè)備市場的開支將減少。代工廠商開支增長速度減緩和由于擔(dān)心美國經(jīng)濟(jì)衰退而采取的謹(jǐn)慎態(tài)度都是造成20
  • 關(guān)鍵字： 半導(dǎo)體  NAND  閃存  IC自動測試設(shè)備  ATE  
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