d-lte 文章 進(jìn)入d-lte技術(shù)社區(qū)
HSDPA、WiMAX和LTE關(guān)鍵技術(shù)比較與分析
- HSDPA,WiMAX和LTE是目前的技術(shù)熱點(diǎn),本文從調(diào)制、重傳、組網(wǎng)方式以及技術(shù)成熟度等幾個(gè)方面對三者進(jìn)行分析和比較,并給出相應(yīng)的結(jié)論。
- 關(guān)鍵字: ARQ機(jī)制 調(diào)制技術(shù) 資源調(diào)度機(jī)制 LTE WiMAX HSDPA
基于FPGA的USB側(cè)音測距信號(hào)發(fā)生器設(shè)計(jì)
- 隨著我國航天技術(shù)的不斷進(jìn)步,深空測距技術(shù)受到越來越多的關(guān)注。在深空測距系統(tǒng)中,中頻信號(hào)發(fā)生器對系統(tǒng)性能有著重要的意義。在USB(統(tǒng)一S頻段)系統(tǒng)中,原有的模擬電路實(shí)現(xiàn)的發(fā)射模塊存在性能不完善、輸入動(dòng)態(tài)范圍小、可控性能差、不能適應(yīng)中心頻率大范圍變化、體積大等問題,為了解決上述問題,可在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化通用數(shù)字調(diào)制信號(hào)發(fā)生器的平臺(tái)上,通過外圍的控制電路,實(shí)現(xiàn)對載波中心頻率、輸出功率、調(diào)相指數(shù)、測距音通/斷控制等參數(shù)的改變。
- 關(guān)鍵字: PLD USB 測距 D/A FPGA
TD-LTE綜合測試儀表關(guān)鍵模塊的研究與實(shí)現(xiàn)
- 在對OFDM調(diào)制以及FPGA、DSP、中頻接口進(jìn)行深入研究的基礎(chǔ)上,提出了一種TD-LTE系統(tǒng)中下行鏈路基帶信號(hào)發(fā)送的實(shí)現(xiàn)方案,在系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思路和硬件資源上進(jìn)行了優(yōu)化。在實(shí)際的硬件環(huán)境下,通過大量測試,驗(yàn)證了該方案的可行性和有效性。
- 關(guān)鍵字: TD-LTE 基帶信號(hào)發(fā)送 FPGA
基于ARM與FPGA控制的LTC2207在寬帶頻率特性測試儀數(shù)據(jù)采集中的應(yīng)用
- 引言數(shù)據(jù)采集技術(shù)是一種流行且實(shí)用的電子技術(shù)。它廣泛應(yīng)用于信號(hào)檢測、信號(hào)處理、儀器儀表等領(lǐng)域。近年來,隨著數(shù)字化技術(shù)的不斷發(fā)展,數(shù)據(jù)采集技術(shù)也呈現(xiàn)出速度更高、通道更多、數(shù)據(jù)量更大的發(fā)展趨勢。本
- 關(guān)鍵字: A/D LTC2207 FPGA 數(shù)據(jù)采集技術(shù)
多通道A/D轉(zhuǎn)換控制模塊的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 控制信號(hào)中的模擬量傳輸正逐步改為數(shù)字量傳輸,各種非數(shù)字化設(shè)備也必將逐步為數(shù)字化智能產(chǎn)品所取代。但是,在實(shí)際生產(chǎn)現(xiàn)場依然有大量的數(shù)據(jù)是模擬量,例如壓力、液位、溫度等,必須通過A/D轉(zhuǎn)換才能將這些數(shù)據(jù)送到控制系統(tǒng)進(jìn)行分析處理。為滿足實(shí)際需要,本文提出利用MC143150 Neuron芯片和12位串行模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADS7844開發(fā)與設(shè)計(jì)多通道A/D轉(zhuǎn)換控制模塊,實(shí)現(xiàn)了多個(gè)模擬量信號(hào)的并行采集、分析與處理功能,具有精度高和性能可靠等特點(diǎn)。
- 關(guān)鍵字: 多通道 A/D 控制模塊
PIC單片機(jī)與16位串行D/A轉(zhuǎn)換原理
- 下面介紹了基于PIC單片機(jī)與16位串行D/A轉(zhuǎn)換的原理: 1.基本原理 D/A轉(zhuǎn)換器相當(dāng)于一種譯碼電路,它將數(shù)字輸入傳換為模擬輸出: 其中,D是數(shù)字輸入,VR是模擬
- 關(guān)鍵字: D/A轉(zhuǎn)換器 PIC單片機(jī) 模擬輸出
正確理解A/D轉(zhuǎn)換器的輸入
- 正確理解A/D轉(zhuǎn)換器的輸入,許多嵌入式應(yīng)用都會(huì)用到A/D轉(zhuǎn)換器。然而,如果錯(cuò)誤連接了A/D轉(zhuǎn)換器輸入端的電路,就會(huì)無意識(shí)的破壞A/D轉(zhuǎn)換的測量。
- 關(guān)鍵字: A/D 轉(zhuǎn)換器 S/H
電力數(shù)據(jù)采集A/D轉(zhuǎn)換器的選擇方案
- 當(dāng)今社會(huì)對電能質(zhì)量的要求越來越高,國家還專門制定了電能質(zhì)量的國家標(biāo)準(zhǔn)。因此,電能質(zhì)量的測量越來越得到電力用戶的重視。電能測量時(shí),從電網(wǎng)的數(shù)據(jù)采集結(jié)果對其精度的影響起著致關(guān)重要的作用,而這其中影響最大的是把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),往往A/D芯片的技術(shù)參數(shù)和指標(biāo)就決定了整個(gè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的性能指標(biāo)。本文就電能測量ADC的選擇作了綜述。
- 關(guān)鍵字: ADC A/D 數(shù)據(jù)采集 系統(tǒng)
一種采用二次曲率補(bǔ)償?shù)膸痘鶞?zhǔn)源
- 帶隙基準(zhǔn)源廣泛應(yīng)用于各類集成電路之中。在現(xiàn)代集成電路日益發(fā)展的今天,帶隙基準(zhǔn)源扮演了極其重要的角色。在A/D,D/A轉(zhuǎn)換器以及一些模擬和數(shù)字電路中,帶隙基準(zhǔn)源起著至關(guān)重要的作用,它的溫度特性和抗噪聲能力直接決定了整體電路的精度和性能。因此,提高帶隙基準(zhǔn)源的精度是十分重要的。
- 關(guān)鍵字: 帶隙基準(zhǔn)源 集成電路 VBE A/D D/A
LTE終端射頻測試的重要指標(biāo)及其測試項(xiàng)目
- LTE 終端射頻測試項(xiàng)目分為4 大部分,即發(fā)射機(jī)指標(biāo)、接收機(jī)指標(biāo)、性能要求、信道狀態(tài)信息上報(bào)。雖然LTE 信號(hào)結(jié)構(gòu)與UMTS 不同,但是LTE 終端射頻測試需求基本上來自于UMTS 已定義好的射頻需求,只有少部分新增測試項(xiàng)。
- 關(guān)鍵字: 終端射頻測試 LTE 發(fā)射機(jī) 接收機(jī) 信道狀態(tài)信息
TD-LTE創(chuàng)新技術(shù):聚焦“超寬帶+無縫覆蓋體驗(yàn)”
- 移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)建設(shè)的最終目標(biāo)是以最優(yōu)的網(wǎng)絡(luò)性價(jià)比提供最優(yōu)的用戶體驗(yàn),既充分利用頻譜資源部署、建設(shè)網(wǎng)絡(luò),同時(shí)又能更好地滿足網(wǎng)絡(luò)不同發(fā)展階段的網(wǎng)絡(luò)覆蓋要求和用戶容量需求。因此,在TDD產(chǎn)業(yè)的創(chuàng)新技術(shù)方面,中國移動(dòng)和設(shè)備商一直致力于提升網(wǎng)絡(luò)容量和用戶感知,鋪設(shè)一張可作為全球樣板的LTE精品網(wǎng)絡(luò)。
- 關(guān)鍵字: TD-LTE 創(chuàng)新技術(shù) 中國移動(dòng) 超寬帶 無縫覆蓋
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