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電解電容芯子干枯失效的可靠性研究及應(yīng)用

• 針對電解電容使用過程中用戶反饋電解電容壓力閥出現(xiàn)開裂現(xiàn)象，經(jīng)對大量失效電解電容分析，確認是電解電容單體失效導(dǎo)致。結(jié)合失效樣品的失效現(xiàn)象、失效原因及失效機理分析，分析結(jié)果表明：電解電容遇到較大紋波電流引起發(fā)熱，使電解液的粘度逐漸增大且等效串聯(lián)電阻增大，發(fā)熱量增加沖破防爆閥最終促使芯子干枯。經(jīng)過對電解電容結(jié)構(gòu)分析、關(guān)鍵參數(shù)分析、模擬實驗驗證，確認電解電容在電解液、橡膠塞材質(zhì)及尺寸、導(dǎo)針結(jié)構(gòu)方面存在匹配性及性能參數(shù)問題，最終通過提升電液參數(shù)及密封性能進行把關(guān)，從器件本身提高單體器件的可靠性。
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