新聞中心

EEPW首頁 > 元件/連接器 > 設(shè)計應(yīng)用 > 電解電容芯子干枯失效的可靠性研究及應(yīng)用

電解電容芯子干枯失效的可靠性研究及應(yīng)用

作者:李帥,項永金,張秀鳳(格力電器(合肥)有限公司,合肥 230088) 時間:2021-11-25 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:針對電解電容使用過程中用戶反饋電解電容壓力閥出現(xiàn)開裂現(xiàn)象,經(jīng)對大量失效電解電容分析,確認是電解電容單體失效導(dǎo)致。結(jié)合失效樣品的失效現(xiàn)象、失效原因及失效機理分析,分析結(jié)果表明:電解電容遇到較大紋波電流引起發(fā)熱,使電解液的粘度逐漸增大且等效串聯(lián)電阻增大,發(fā)熱量增加沖破防爆閥最終促使芯子干枯。經(jīng)過對電解電容結(jié)構(gòu)分析、關(guān)鍵參數(shù)分析、模擬實驗驗證,確認電解電容在電解液、橡膠塞材質(zhì)及尺寸、導(dǎo)針結(jié)構(gòu)方面存在匹配性及性能參數(shù)問題,最終通過提升電液參數(shù)及密封性能進行把關(guān),從器件本身提高單體器件的可靠性。

對電路的主要作用有:隔直流、去耦、耦合、濾波、儲能、自舉等,對避免保護電路過電壓擊穿有不可或缺的作用,是維護電路穩(wěn)定工作的基石。失效會導(dǎo)致整個電控電路功能紊亂,最終導(dǎo)致電路失效。本文從器件結(jié)構(gòu)、核心關(guān)鍵參數(shù)方面進行分析,整改方案思路可以為同類型失效分析整改提供借鑒和參考。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/202111/429890.htm

1   事件背景

空調(diào)控制器使用X、Y 廠家同型號的電解電容時,在使用X廠家電解電容時,用戶經(jīng)常反饋主板通電現(xiàn)象,核實故障原因為電解電容鼓包導(dǎo)致,主要集中在1 個月內(nèi)失效,屬于早期故障,該問題已經(jīng)嚴重影響售后質(zhì)量。焊接失效原因及失效機理分析

1)外觀核實,發(fā)現(xiàn)鼓包、底部防爆閥有電解液滲出痕跡、套管表面有受高溫燙傷破損異?,F(xiàn)象(如圖1)。

2)失效器件參數(shù)檢測分析:標稱容量47 μF±20%/450 V,實際容值測試容量:317.3 nF,損耗3.4,容值小,都不符合標準要求。

3)X 光觀察未發(fā)現(xiàn)內(nèi)部不良,芯子內(nèi)部鋁箔位置無偏移,鉚接位置正確,內(nèi)部結(jié)構(gòu)無異常。

image.png

圖1 不良品電解電容

4)解剖異常樣品電容核實發(fā)現(xiàn)內(nèi)部電解紙干燥,電解液揮發(fā),且有電解液滲出現(xiàn)象。纏繞芯包的膠帶熱縮,底部外殼防爆閥打開;解剖展開電解紙,發(fā)現(xiàn)內(nèi)部正負鋁箔電解紙無破損,內(nèi)部無爆點及過電損傷痕跡(表1)。

表1 X廠家失效電解電容解剖

1637804957172616.png

image.png image.png

image.png

image.png image.png image.png

image.png image.png image.png

image.png image.png image.png

5)陽極箔清洗后,采用TV 特性儀進行鋁箔耐壓檢測,陽極箔耐壓標準:660 V 以上,實測陽極耐壓達679 V,陽極箔性能符合產(chǎn)品質(zhì)量標準。

綜上,從樣品本身分析,未發(fā)現(xiàn)明顯缺陷;從樣品的失效形式上看,屬于發(fā)熱過大造成失效。主要表現(xiàn)為PET 套管耐高溫在200 ℃以上,異常樣品套管已出現(xiàn)破洞,說明外部溫度過高,燙破套管;纏繞芯包的膠帶溶點在160 ℃以上,膠帶已熱溶收縮,說明樣品使用過程內(nèi)部溫度過高,但樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)無異常,內(nèi)部無擊穿。一般都是使用過程遇到較大紋波電流引起發(fā)熱,超過樣品所能承受的紋波電流,使內(nèi)部發(fā)熱量過大,不足以應(yīng)對因電網(wǎng)電壓波動等情況帶來的紋波電流(因目前國內(nèi)各個區(qū)域使用電網(wǎng)存在一定的差異性),而此方面因素是無法預(yù)測的,在長期經(jīng)過一定的高壓脈沖后產(chǎn)品特性發(fā)生了變化,加劇了電介質(zhì)的電老化與熱老化,電解液的粘度逐漸增大且等效串聯(lián)電阻增大,發(fā)熱量增加沖破防爆閥,最終促使形成上述現(xiàn)象。

表2 X、Y廠家電解電容參數(shù)測試對比

1637805172111258.png

3   電解電容可靠性分析

該型號電解電容同步使用的Y 廠家未發(fā)現(xiàn)異常,同比參考Y 廠家與X 廠家電解電容相關(guān)參數(shù)的核實對比優(yōu)化。

3.1 常規(guī)參數(shù)對比(如表2)

正負極鋁箔長度差異:產(chǎn)品設(shè)計陰極箔一定要比陽極箔長,陰極箔長一點對產(chǎn)品性能不會有影響;負極鋁箔面積比(正極鋁箔:負極鋁箔)X 廠家比Y 廠家小,正負極箔比不影響產(chǎn)品參數(shù),減短負箔后可增加占比;膠塞材料成分有差異:X 廠家電解電容膠塞硬度高于Y 廠家,差值在15 ~ 20;

性能參數(shù):電容測試參數(shù)對比ESR、漏電流測試參數(shù)差異比較大,初步分析電解液存在差異。

3.2 X、Y 廠家鉚接點對比,未發(fā)現(xiàn)異常,正負極都是按照要求5 的點鉚接。

3.3 鋁殼入膠深度:X 廠家鋁殼無入膠(如圖2),Y廠家有入膠深度(如圖3)。

image.png

圖2 X廠家入膠深度

image.png

圖3 Y廠家入膠深度

3.4 橡膠塞尺寸

對比X 廠家與Y 廠家引腳尺寸(表3),發(fā)現(xiàn)Y廠家弧度比X 廠家弧度半徑大2.46 mm;鋁殼束腰密封性能,由于X 光核實弧度一致,對比發(fā)現(xiàn)艾華的密封性比新元好。

1637805393224981.png

3.5 導(dǎo)針尺寸:焊接引腳(0.8 mm)長度X 廠家比Y廠家長0.7 mm 左右;Y 廠家與橡膠塞接觸比X 廠家多0.7 mm左右,使其充分接觸增加密封性(如表4、圖4)。

1637805457829502.png

image.png

圖4 電解電容導(dǎo)針外觀

4   電解電容優(yōu)化方案

●   性能核心參數(shù)對標Y 廠家優(yōu)化調(diào)整,如漏電流;

●   開發(fā)引入與Y 廠家同樣材料膠塞(硬度相同、材質(zhì)成分相同),開發(fā)完成后即可以對標Y 廠家調(diào)整縮腰深度、弧度、封口形貌;

●   導(dǎo)針長度對標Y 廠家加長。

5   整改效果驗證

5.1 對電解電容內(nèi)部電解液進行調(diào)整,電解電容測試漏電流數(shù)據(jù)明顯下降,X 廠家新制品對比X 廠家舊制品提升-88.99%,為Y 廠家的一半(如表5)。

表5 X廠家整改后性能參數(shù)測試

1637805578665985.png

5.2 新開發(fā)X 廠家電解電容橡膠塞材料已經(jīng)調(diào)整,將混合丁基膠改為丁基膠;相關(guān)尺寸測試如下。

1)新制品橡膠塞厚度增加:由3.78 mm 提升到5.11 mm;

2)橡膠塞弧度減?。喊霃接芍暗?.55 mm 提升到7.1 mm,在束腰時增加密封性能;

3)橡膠塞孔徑減?。河?.87 mm 提升到0.82 mm;

4)開發(fā)完成后,使用X 光觀察束腰更加緊密。

5.3 鉚接柱尺寸調(diào)整,提高鉚接柱與橡膠塞密封性:新制品鉚接柱直徑由2.00 mm 增加到2.17 mm;新制品鉚接柱長度由3.65 mm 提升到3.77 mm。

5.4 可靠性試驗驗證:對X 廠家電解電容整改后制品進行專項型式試驗,加電耐久、高溫實驗后測試容值變化率即漏電流都符合要求(表6)。

表6 可靠性試驗驗證

1637805672472934.png

6   可靠性整改總結(jié)及意義

通過對電解電容單體失效分析,從電解電容失效機理、失效因素、結(jié)構(gòu)可靠性、工藝等核實參數(shù)的收集,對比其他相關(guān)器件參數(shù),找出差異點,對產(chǎn)品單體結(jié)構(gòu)可靠性對比論證。從器件本身進行整改,改善后進行對比分析,整改后效果明顯。對電解電容失效分析方法提供分析思路,對分析評估類似失效電解電容可靠性有良好借鑒作用。

經(jīng)過此次整改,電解電容在引入開發(fā)時需對電解電容關(guān)鍵參數(shù)進行對比驗證,進行充分評估,并持續(xù)跟蹤收集整理生產(chǎn)過程數(shù)據(jù),以提高產(chǎn)品的可靠性。

參考文獻:

[1] 陳錦輝.關(guān)于紋波影響電容鼓包的分析研究[J].日用電器,2018(10):86-89.

[2] 周慧德.開關(guān)電源中鋁電解電容可靠性的研究[D].哈爾濱:哈爾濱工業(yè)大學,2010.

[3] 黃兆軍,范凌云.電解電容加速壽命試驗的研究與應(yīng)用探討[J].日用電器,2013(8):26-28,43.

[4] 項永金,李帥.鋁高壓電解電容陽極箔氯離子腐蝕失效分析與研究[J].電子產(chǎn)品世界,2020(12):37-41.

(本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年10月期)



評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉