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示波器問題探討及力科HRO 6Zi的應(yīng)用

—— ——力科第三屆“精品工程”系列網(wǎng)絡(luò)視頻講座會系列之四
作者: 時間:2011-07-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  今天距離會議開始還有4天

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/121681.htm

  時間:2011年7月26日 10:00 - 12:00

  舉辦網(wǎng)址:http://webcast.ednchina.com/529/Content.aspx

  本次研討會我們將討論影響測量準(zhǔn)確度的一系列因素:半導(dǎo)體器件本身的影響因素如DC增益,偏置,非線性度,頻響曲線的線性度,通道之間的匹配,量化誤差等; 測試環(huán)境特別是探頭的因素,如探頭的地線,探頭的負(fù)載效應(yīng),探頭擺放的位置,地環(huán)路的干擾等以及算法本身的影響因素。這些影響因素中,最關(guān)鍵的也是最大的一個影響因素是量化誤差。 的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的高精度能夠減小量化誤差的影響,提供更高的信噪比,更大的動態(tài)范圍,給測量帶來更高的測量準(zhǔn)確度,因此在一系列的應(yīng)用中帶來了獨特的價值,如小電壓信號的測量,大電壓信號中的局部小信號測量,更精確的FFT測量,相位噪聲測量等。

  通過本次研討會,您不僅可以了解到那些因素會影響到的測量精度,同時您也將了解到示波器業(yè)內(nèi)唯一具有12位ADC的高精度實時數(shù)字示波器--的WaveRunner HRO 6Zi的測量精確度以及其在傳感器系統(tǒng)、醫(yī)療系統(tǒng)、射頻調(diào)制系統(tǒng)、電源測量系統(tǒng)中的應(yīng)用。



關(guān)鍵詞: 力科 示波器 HRO-6Zi

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