新聞中心

EEPW首頁(yè) > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > PDMA在測(cè)試SDRAM控制器中的應(yīng)用

PDMA在測(cè)試SDRAM控制器中的應(yīng)用

作者: 時(shí)間:2011-12-28 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

4 RTL仿真

完成RTL級(jí)的設(shè)計(jì)后,我們利用Cadence公司的仿真工具VerilogXL對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行了功能仿真。仿真的環(huán)境是基于PCI的,所以其仿真順序如下:

(1)配置PCI配置空間的IO Base 及 Mem o ry Base寄存器;
(2)寫PCI配置空間54H,58H等寄存器,配置 芯片的參數(shù);
(3)寫PCI配置空間的命令寄存器(offset==04h),使能該設(shè)備;
(4)訪問(wèn)PCI IO空間中的配置寄存器,設(shè)定各個(gè)通道的配置參數(shù);
(5)寫入相應(yīng)的命令,啟動(dòng)訪問(wèn)內(nèi)新路子;
(6)檢測(cè)PDMA的狀態(tài)寄存器,根據(jù)設(shè)定的條件(正常結(jié)束或者發(fā)生錯(cuò)誤)退出仿真程序;
(7)打開(kāi)波形文件,檢查是否有錯(cuò)誤發(fā)生。

圖5是由PCI發(fā)起的一次寫IO寄存器訪問(wèn)的仿真波形,PDMA的配置數(shù)據(jù)就是通過(guò)若干這樣的操作完成的。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/149930.htm

相對(duì)而言,我們更關(guān)注PDMA是如何訪問(wèn)Memory的。圖6是由一個(gè)PDMA發(fā)起的寫讀模式下的訪問(wèn)時(shí)序。GROUP1的信號(hào)是由PDMA發(fā)起的內(nèi)部Memory總線信號(hào)組,而GROUP2的信號(hào)是 Memory和內(nèi)存芯片間的符合jedec標(biāo)準(zhǔn)的總線協(xié)議。從圖中我們可以清楚地看到總線協(xié)議的轉(zhuǎn)換過(guò)程,及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有違反協(xié)議的情況發(fā)生。


5 上板的方法和過(guò)程

在完成功能仿真后,使用Synopsys綜合工具 FPGA compiler對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行綜合,并選用XILINX公司的VERTEX1600E系列為目標(biāo)器件,生成相應(yīng)的網(wǎng)表文件,下載到FPGA上進(jìn)行。綜合的結(jié)果如表3所示。平臺(tái)是一臺(tái)PC機(jī),帶有PCI標(biāo)準(zhǔn)接口的測(cè)試卡和PCI讀寫軟件。上板測(cè)試過(guò)程如下:


(1)下載bit文件到FPGA中;
(2)配置SDRAM控制器;
(3)置PDMA寄存器;
(4)啟動(dòng)PDMA訪問(wèn);
(5)讀回PDMA的狀態(tài)位。

測(cè)試時(shí)需要輸入相應(yīng)的測(cè)試向量,一個(gè)好的軟件界面可以大大減輕硬件工程師編寫、輸入測(cè)試向量的工作量。表4是一個(gè)測(cè)試向量的內(nèi)容和結(jié)果,像這樣的測(cè)試要進(jìn)行多次以提高故障覆蓋率并統(tǒng)瞥IP的性能。


6 實(shí)驗(yàn)結(jié)論

經(jīng)過(guò)不斷調(diào)試和改進(jìn),PDMA能夠按照功能寄存器的配置準(zhǔn)確發(fā)起Memory訪問(wèn),并能夠及時(shí)報(bào)告SDRAM控制器的操作錯(cuò)誤。該測(cè)試平臺(tái)不僅適用于驗(yàn)證SDRAM控制器的設(shè)計(jì),而且在經(jīng)過(guò)很小的改動(dòng)后可以配置成支持對(duì)性能更好的DDR存儲(chǔ)控制器的測(cè)試驗(yàn)證。靈活的配置方式使之成為一個(gè)通用的測(cè)試平臺(tái),對(duì)不同的Memory控制器的測(cè)試只需用軟件對(duì)相應(yīng)的配置寄存器進(jìn)行配置即可,硬件基本不用進(jìn)行改動(dòng),大大節(jié)約了設(shè)計(jì)時(shí)間,提高了設(shè)計(jì)的成功率和效益。


上一頁(yè) 1 2 下一頁(yè)

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉