新聞中心

EEPW首頁(yè) > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種基于電荷泵的CMOS圖像傳感器

一種基于電荷泵的CMOS圖像傳感器

作者: 時(shí)間:2009-11-17 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
0 引 言
(CIS)使用標(biāo)準(zhǔn)的工藝制造,與電荷耦合器件(CCD)相比,具有低功耗、高集成度和功能靈活的特點(diǎn),在便攜式及其它特殊環(huán)境中有巨大的應(yīng)用前景。近些年對(duì)CMOS的研究中,動(dòng)態(tài)范圍(DR)一直是一個(gè)熱點(diǎn)。CMOS圖像傳感器中的動(dòng)態(tài)范圍被定義為最大非飽和信號(hào)與無(wú)光照條件下的噪聲標(biāo)準(zhǔn)差的比值。動(dòng)態(tài)范圍是圖像傳感器中非常重要的指標(biāo),對(duì)圖像的質(zhì)量有很大的影響,提高動(dòng)態(tài)范圍可以提高圖像的對(duì)比度和分辨率。已經(jīng)有多種方案被提出來(lái)提高動(dòng)態(tài)范圍:Chen Xu等在像素單元中使用PMOS作為重置(Reset)開(kāi)關(guān),并使用互補(bǔ)的源極跟隨器將信號(hào)調(diào)整至軌對(duì)軌,但這個(gè)結(jié)構(gòu)占用了許多像素中的面積,減小了感光面積百分比(Fill Factor),同時(shí)PMOS管的載流子的低移動(dòng)率,延長(zhǎng)了充電時(shí)間,降低了傳感器的幀率;S Yang等在中提出基于條件重置的多采樣技術(shù)提高動(dòng)態(tài)范圍,但是這種方法在一次圖像采集操作中需要多個(gè)充電周期和積分周期,同樣降低了傳感器的幀率;O Yadid-Pecht等在中提出了一種包含兩列信號(hào)鏈的有源像素傳感器,它可以同時(shí)讀取兩個(gè)圖像,包括短積分時(shí)間和長(zhǎng)積分時(shí)間,但是這種方法并不能有效地獲取場(chǎng)景的明暗信息,同時(shí)很難擴(kuò)展到同時(shí)采集多于兩個(gè)圖像。在此提出了基于的CMOS圖像傳感器,使用一個(gè)簡(jiǎn)單的抬高重置脈沖信號(hào)的幅值,使像素單元中的充電節(jié)點(diǎn)電壓達(dá)到電源電壓;同時(shí)調(diào)整源極跟隨器的參數(shù),拓展充電節(jié)點(diǎn)電壓在積分周期擺動(dòng)范圍的下界,這兩種方案可以有效地提高充電節(jié)點(diǎn)電壓的擺幅,從而提高了傳感器的動(dòng)態(tài)范圍。重置脈沖信號(hào)幅值的提高也減小了充電的時(shí)間常數(shù),縮短了充電時(shí)間,從而可以提高圖像采集的幀率。

1 像素單元部分的考慮
像素陣列是CMOS圖像傳感器中最重要的組成部分,現(xiàn)在大多數(shù)像素單元使用有源像素單元結(jié)構(gòu),如圖1所示。PD通常是N+/P-well形成的二極管,反向偏置PD,作為傳感器中的感光元件。在充電周期,重置脈沖Vreset_p是高電平,M1導(dǎo)通,電源對(duì)PD充電;在積分周期,Vreset_p降為低電平,M1截止,由于入射光的照射,PD產(chǎn)生反向光電流,對(duì)PD進(jìn)行放電;節(jié)點(diǎn)N的電壓VN隨之下降,VN下降的斜率與入射光的光強(qiáng)成正比。當(dāng)積分周期結(jié)束時(shí),行選信號(hào)Vrow_s產(chǎn)生一個(gè)脈沖導(dǎo)通M3,VN經(jīng)源極跟隨器輸出至后處理電路。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/188515.htm

傳感器中的動(dòng)態(tài)范圍可以表示為:


式中:q為單位電荷量;Cload為充電節(jié)點(diǎn)電容;Nwell為最大井容量(Well Capacity),表示為VN×Cload;ndark為無(wú)光照情況下像素的暗電流;Vnoise為像素噪聲標(biāo)準(zhǔn)差,包括固定模式噪聲(FPN)和1/f噪聲。從式(1)可以看出,在Cload不變的情況下,VN在充電周期的最大值決定了Nwell,而VN在積分周期的最小值決定Ndark的最小值,因此VN的電壓擺幅直接影響了傳感器的動(dòng)態(tài)范圍。
在傳統(tǒng)的像素單元設(shè)計(jì)中,Vreset_p的幅值為電源電壓Vdd,因此VN的擺動(dòng)范圍為:

式(2)顯示Vreset_p的幅值限制了VN的電壓上界。如果提高Vreset_p的幅值,那么VN的電壓上界也會(huì)隨之上升,當(dāng)Vreset_p≥Vdd+Vthn時(shí),VN的值在充電后將達(dá)到最大值Vdd。因?yàn)樾枰獙reset_p的幅值抬高超過(guò)電源電壓至少Vthn,因此,在這里使用一個(gè)電路抬高Vreset_p的幅值,這樣就可以在充電周期使VN的電壓達(dá)到Vdd。當(dāng)Vreset_p的幅值超過(guò)Vdd+Vthn時(shí),M1進(jìn)入線性區(qū),此時(shí)它的導(dǎo)通電阻為:


式中:Vg1為M1的柵極電壓,即Vreset_p的幅值,它與Ron成反比,當(dāng)Vg1提高很大時(shí),Ron將大大減小。在充電電路中,充電時(shí)間常數(shù)τ=RonCload,隨著Ron變小,時(shí)間常數(shù)也隨之減小,因此當(dāng)Vg1很大時(shí),充電周期將大大縮短,從而提高了傳感器的幀率。從式(2)可看出VN的下界由M2的柵源電壓Vgs2和電流源的飽和電壓VIds(sat)決定,當(dāng)偏置電流Ibias不變時(shí),Vlds(sat)的變化很小,可以不予考慮。如果可以減小Vgs2,就可以降低VN的電壓下限。根據(jù)M2的柵源電壓等式:


可看出,增大M2的寬長(zhǎng)比(W/L):可以降低Vgs2。由于布局中使用工藝中的最小長(zhǎng)度,MOS管的長(zhǎng)度L不變,因此增大M2的寬度W可以降低Vgs2。從式(4)中也可以看到減小源極跟隨器的偏置電流Ibiad同樣可以降低Vgs2。根據(jù)像素單元中布局的實(shí)際情況適當(dāng)?shù)卦龃驧2的寬度,同時(shí)根據(jù)二次采樣電路中的負(fù)載情況適當(dāng)?shù)販p小偏置電流,可以有效地降低Vgs2,從而降低VN的電壓下界。

2 電荷泵部分的考慮
為了產(chǎn)生一個(gè)高于電源電壓的高電平,采用一個(gè)基本的電荷泵電路抬高電壓,如圖2(a)所示。

這個(gè)電路使用了兩個(gè)非重疊的、反相的時(shí)鐘clk和clk~,幅值為電源電壓Vdd兩個(gè)NMOS器件M1和M2以交叉耦合的方式連接,交替導(dǎo)通,導(dǎo)通時(shí)分別拉動(dòng)相應(yīng)節(jié)點(diǎn)N1或N2至輸入電壓Vin_c。時(shí)鐘脈沖交替加在電容C1和C2上,在NMOS截止的一邊,相應(yīng)電容的電壓泵至Vdd+Vin_c,同時(shí)這一邊的PMOS導(dǎo)通,輸出這個(gè)電壓至Vout_c。在一些時(shí)鐘周期以后,節(jié)點(diǎn)N1和N2有反相的、幅值為Vdd+Vin_c的時(shí)鐘脈沖,兩個(gè)PMOS交替導(dǎo)通,使輸出Vout_c一直為Vdd+Vin-c本文中,Vin_c設(shè)為Vdd由于NMOS的閾值電壓的影響,Vout_c=2Vdd-Vthn。輸出波形如圖2(b)所示。電荷泵的輸出Vout_c在經(jīng)歷最初的大約1μs的時(shí)間以后達(dá)到穩(wěn)定,穩(wěn)定值約為5.8 V。圖中的小插圖是輸出電壓穩(wěn)定以后的紋波電壓.它的擺幅約為30 mV。由于這個(gè)電壓在充電周期加在像素單元中的重置開(kāi)關(guān)的柵極上,導(dǎo)通重置開(kāi)關(guān)使充電節(jié)點(diǎn)電壓達(dá)到電源電壓,因此當(dāng)充電節(jié)點(diǎn)電壓已經(jīng)達(dá)到電源電壓以后,柵極電壓上的紋波不再影響充電節(jié)點(diǎn)電壓,所以電荷泵輸出端的電容C3不必做得很大,以減小紋波電壓的擺幅。


上一頁(yè) 1 2 下一頁(yè)

關(guān)鍵詞: CMOS 電荷泵 圖像傳感器

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專(zhuān)區(qū)

關(guān)閉