矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071C的TDR測量性能介紹

最近幾年隨著多Gbps傳輸?shù)钠占?，?shù)字通信標(biāo)準(zhǔn)的比特率也在迅速提升。例如， USB 3.0的比特率達(dá)到 5 Gbps。比特率的提高使得在傳統(tǒng)數(shù)字系統(tǒng)中不曾見過的問題顯現(xiàn)了出來。諸如反射和損耗的問題會造成數(shù)字信號失真，導(dǎo)致出現(xiàn)誤碼。另外由于保證器件正確工作的可接受時(shí)間裕量不斷減少，信號路徑上的時(shí)序偏差問題變得非常重要。雜散電容所產(chǎn)生的輻射電磁波和耦合會導(dǎo)致串?dāng)_，使器件工作出現(xiàn)錯(cuò)誤。隨著電路越來越小、越來越緊密，這一問題也就越來越明顯。更糟糕的是，電源電壓的降低將會導(dǎo)致信噪比降低，使器件的工作更容易受到噪聲的影響。盡管這些問題增加了數(shù)字電路設(shè)計(jì)的難度，但是設(shè)計(jì)人員在縮短開發(fā)時(shí)間上受到的壓力絲毫沒有減輕。

　　隨著比特率的提高，盡管無法避免上述問題，但是使用高精度的測量儀器可以對此類問題進(jìn)行檢測和表征。以下是使用儀器處理這些問題時(shí)必須要遵守的測量要求:

　　a.在更寬的頻率范圍都要有很大的測量動態(tài)范圍

　　實(shí)現(xiàn)高動態(tài)范圍的一種方法是降低噪聲。如果儀器噪聲達(dá)到最低水平，就可以把很小的信號(例如串?dāng)_信號)測量出來。精確地測量高頻元器件也很關(guān)鍵，因?yàn)樗鼈兪菍?dǎo)致信號完整性問題的最常見原因。

　　b.激勵(lì)信號要能精確地同步起來

　　在測量多條微帶線之間信號的時(shí)序偏差時(shí)，精確同步的激勵(lì)信號更能保證精確的測量結(jié)果。

　　c.快速進(jìn)行測量并刷新儀表屏幕上顯示的測量結(jié)果能夠快速進(jìn)行測量并刷新所顯示的測量結(jié)果可以使產(chǎn)品的設(shè)計(jì)效率更高并提高生產(chǎn)吞吐量。

　　傳統(tǒng)上，基于采樣示波器的時(shí)域反射計(jì)(TDR)一直用于電纜和印刷電路板的測試。由于這種示波器的噪聲相對較大，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高動態(tài)范圍和快速測量具有一定難度，雖然通過取平均法可以降低噪聲，但是這會影響測量速度。示波器上用于測量時(shí)序偏差的多個(gè)信號源之間的抖動，也會導(dǎo)致測量誤差。此外，給TDR示波器設(shè)計(jì)靜電放電(ESD)保護(hù)電路非常困難，因此TDR示波器容易被ESD損壞。

　　這些問題只憑TDR示波器基本上很難解決，只有通過E5071C-TDR —基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)的TDR解決方案才能解決。