DDR測試技術(shù)介紹與工具分析
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前文提到過，DDR信號不同于其他信號，其數(shù)據(jù)信號是雙向的，讀信號和寫信號同時出現(xiàn)在信號線上。人們很難判斷當前捕獲到的數(shù)據(jù)是讀信號還是寫數(shù)據(jù)，這就給測試效率會很低，也比較容易出錯。有了泰克公司的DDR自動測試軟件選項如DDRA和DPOJET，就可使上述信號采集和分析問題迎刃而解，而且可以加速驗證過程。本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/193939.htm
DDRA的功能特性包括但不限于：
1.新的自動配置向?qū)?，引導用戶簡便地完成設(shè)置和測試配置;
2.可識別和分析整個采集中的所有讀/寫突發(fā);
3.為讀和寫繪制DQS和DQ眼圖;
4.使用Pass/Fail極限執(zhí)行JEDEC一致性測試;
5.使用片選判定多排測量;
6.簡便地在一致性測試工具和分析/調(diào)試工具之間切換;
7.使用Pass/Fail信息、統(tǒng)計測量結(jié)果和測試設(shè)置信息，自動生成合并報告。
DDRA不是一種獨立式工具，可直接與泰克強大的抖動、眼圖和定時分析工具DPOJE連接，完成更多測量項目：
1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時間測量;
2.高級抖動、眼圖測量和Pass/Fail測試;
3.多個顯示和繪圖選項;
4.報告生成器等。
對于DDR的數(shù)字調(diào)試和驗證，泰克的TLA7000系列邏輯分析儀+Nexus分析軟件和NEXVu插卡式DIMM夾具提供了世界領(lǐng)先的DDR2/3存儲器數(shù)據(jù)采集、分析和協(xié)議檢驗及調(diào)試解決方案。
圖4：泰克最新的解決方案加快和改善了DDR2/3的數(shù)字驗證和調(diào)試步驟。
泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夾具探測解決方案layout符合JEDEC規(guī)范，可探測存儲器IC信號，邏輯分析儀連接位置超出了普通DIMM高度，DIMM內(nèi)部帶有隔離電阻，降低探頭負載效應(yīng)，可實現(xiàn)最大的信號完整性堪稱業(yè)界最佳的IC顆粒數(shù)字信號測量方法。
泰克提供的最新DDR3邏輯分析儀模塊TLA7BBx是唯一可以捕獲所有DDR3速度的邏輯分析儀，提供了足夠高的定時分辨率，支持全面調(diào)試。同時提供了足夠靈活的觸發(fā)狀態(tài)機，只觸發(fā)相關(guān)事件。其通道數(shù)量可以擴充，且足夠高，可以捕獲所有要求的信號。
搭載的Nexus存儲器支持套件有效提高了數(shù)據(jù)分析性能，檢驗和調(diào)試存儲器系統(tǒng)操作(包括數(shù)據(jù)有效窗口、讀/寫數(shù)據(jù)操作、DDR命令和模式寄存器初始化)，可迅速簡便地識別協(xié)議違規(guī)。
將上述設(shè)備、工具和軟件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器，泰克提供了一個全面了解系統(tǒng)特點的平臺驗證系統(tǒng)(如圖5)。這是業(yè)界唯一能夠捕獲和分析所有DDR3速度的解決方案，在所有通道上一直提供了高達20ps的定時分辨率，支持選擇性時鐘輸入，只存儲實用數(shù)據(jù)，并且數(shù)字/模擬相關(guān)聯(lián)，可查看整個系統(tǒng)情況。
圖5：泰克的DDR平臺驗證系統(tǒng)可全面了解系統(tǒng)特點。
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