如何用SmartPRO 6000糾正NAND Flash燒錄過程位反轉

摘要：關于使用燒錄器燒錄Nand Flash，一直都是很多用戶頭疼的難點，他們強調已經(jīng)使用了正確的壞塊管理方案，也制定了規(guī)范的操作流程，但是燒錄的良品率還是無法提高，只能每天眼睜睜看著一盤盤“廢品”被燒錄器篩選出來!

近日某電子科技有限公司的客戶郵件反饋：使用我們的SmartPRO 6000F-Plus燒錄MICRON廠家的TSOP48封裝的Nand Flash MT29F2G08ABAEA，不良率比較高，甚至達到了10%的燒錄不良率，而燒錄SAMSUNG廠家的TSOP48封裝的K9F1G08U0E這顆芯片就不會有這種狀況，由此可以確定燒錄器與燒錄座本身固件是沒有問題的，所以客戶懷疑應該是芯片算法有問題，需要我們重新優(yōu)化下。

燒錄器的功能很簡單、很專一，那就是把數(shù)據(jù)完完整整、重復地復制到每一顆芯片上，復制成功了就提示Pass，復制失敗了就提示Fail;SmartPRO 6000F-Plus是一臺全心專注于高品質、高效率的Flash專用燒錄編程器;目前為止，有廣泛的、優(yōu)秀的燒錄客戶群，軟件、硬件和算法都是客戶批量生產(chǎn)驗證過的，非常成熟。

那問題究竟出在哪里呢，讓我們繼續(xù)看吧!

先友情提醒一下，我們的燒錄軟件做有一個監(jiān)控“電子眼”(操作日記)，時刻記錄著客戶對每顆芯片的燒錄情況;客戶有任何違規(guī)操作或者燒錄異?，F(xiàn)象，我們都可以迅速重返到“案發(fā)現(xiàn)場”，找到問題的根源;

我們第一時間讓客戶把操作日記發(fā)過來，從操作日記上看，客戶反饋的現(xiàn)象確實存在，日志也幫助我們很快找到了這種異常：

但是這種現(xiàn)象并不是因為燒錄器造成，而是芯片本身存在的工藝差異原因導致的;可能有人就會馬上反駁，明顯地出現(xiàn)如此高的燒錄不良率，編程器原廠就沒有任何責任，而是一句話就把問題推到芯片原廠?不要著急，繼續(xù)往下看。

首先，我們普及一下Nand Flash的一個特性：位反轉;Nand Flash由于本身硬件的內在特性，會導致(極其)偶爾的出現(xiàn)位反轉的現(xiàn)象。所謂的位反轉(bit flip)，指的是原先Nand Flash中的某個位變化了，即要么從1變成0了，要么從0變成1了。而出現(xiàn)這種怪異的現(xiàn)象因素很多，主要是由以下一些原因或者效應所導致的：漂移效應(Drifting Effects)、編程干擾所產(chǎn)生的錯誤(Program-Disturb Errors)、讀操作干擾產(chǎn)生的錯誤(Read-Disturb Errors);所以芯片原廠都是要求用戶使用對應的ECC校驗去解決這些位反轉問題。

這種偶爾隨機出現(xiàn)的位反轉現(xiàn)象，對使用燒錄器燒錄Nand Flash的用戶確實帶來了頭痛的麻煩，因為只要對芯片完成燒錄之后，緊接著進行校驗處理，若校驗數(shù)據(jù)與源數(shù)據(jù)不同，燒錄器立馬就會提示報錯，造成的直接后果就是不良品率一直居高不下;拿我們客戶的案例分析，打開芯片數(shù)據(jù)手冊查詢到：MT29F2G08ABAEAWP需求ECC糾錯算法：Minimum required ECC，4-bit ECC per 528 bytes;K9F1G08U0E需求ECC糾錯算法：ECC regnirement，1 bit / 528bytes。所以這兩個都有一定的概率出現(xiàn)位反轉現(xiàn)象，而MT29F2G08ABAEAWP不良率較高，是因為MT29F2G08ABAEAWP出現(xiàn)偶爾隨機的位反轉的概率比K9F1G08U0E高好幾倍。

對于專業(yè)的燒錄廠家，對位反轉現(xiàn)象當然也有專業(yè)的處理辦法，今天就介紹一下我們SmartPRO 6000F-Plus特殊處理位反轉的辦法：“允許容錯位”。

在對芯片作校驗的時候，如果出現(xiàn)的位翻轉的位數(shù)少于或者等于在“允許容錯位”設置的數(shù)值，則燒錄器認為校驗正常，提示燒錄成功;當然，用戶設置的數(shù)值也必須是在自己使用的ECC計算方案糾正位數(shù)之內。提高燒錄良品率，只需在燒錄器上設置一個數(shù)值即可解決;后來客戶反饋燒錄一切正常，良品率也大大提高了，甚至幾乎達到了100%，解決了大批量生產(chǎn)上的問題!