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基于計數(shù)器的隨機單輸入跳變測試序列生成

作者: 時間:2010-09-01 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

基于計數(shù)器的隨機單輸入跳變測試序列生成

  首先將移位寄存器SR初始化為(0,0,0,…,0),用使能信號將觸發(fā)器(FF)置“1”,F(xiàn)F和SR都由公共的測試時鐘信號Clock所控制,在(n+1)時鐘周期內(nèi)SR產(chǎn)生的測試向量為:{(0,0,0,…,0),(1,0,0,…,0),(1,1,0,…,0),(1,1,1,…,0),…(1,1,1,…,1)}。在下一個時鐘信號到來時“與”門使SR的第一級為“0”,經(jīng)過n個時鐘脈沖后,SR的輸出為{(0,1,1,…,1),(0,0,1,…,1),(0,0,0,…,1),…,(0,0,0,…,0)},然后周而復始繼續(xù)重復以上過程。

  初始化后,在(2n+1)個時鐘周期內(nèi)Counter的輸出保持穩(wěn)態(tài),而SR產(chǎn)生(2n+1)個不同的測試向量,在信號Counter-Clock的作用下,SR與Counter作“對應位的異或運算”,可產(chǎn)生(2n+1)個單輸入變化(SIC)測試向量。可用于對集成電路的。

  3 實驗驗證

  為了驗證RSIC測試序列可以降低測試期間的功耗,用Xilinx公司的專用功耗分析工具——XPower對上述譯碼器進行功耗分析實驗。

  實驗中選用的FPGA是spartan3系列的xc3s400,其封裝形式為tq144,速度等級為-6,直流電源電壓為3.3 V,最大時鐘頻率為50 MHz。

  在不同時鐘頻率下,對CC4028譯碼器邏輯主電路分別施加如圖2所示的偽隨機全測試序列(MSIC)和如圖3所示的隨機單輸入跳變(RSIC)測試序列,測得的平均動態(tài)功耗如表1所示。

基于計數(shù)器的隨機單輸入跳變測試序列生成

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