新聞中心

EEPW首頁 > 電源與新能源 > 設(shè)計應(yīng)用 > 受控的大電流─緊湊型汽車動力系統(tǒng)

受控的大電流─緊湊型汽車動力系統(tǒng)

作者: 時間:2012-02-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
所有的2模塊,全部使用如高加速壽命測試(HALT)和組件壽命終止試驗(yàn)之類的分析來進(jìn)行完整鑒定,在設(shè)計周期的各個關(guān)鍵點(diǎn)進(jìn)行完全失效模式效應(yīng)分析研究,以確保它們符合相關(guān)的汽車標(biāo)準(zhǔn)。功率半導(dǎo)體的熱接觸和電接觸采用了壓接技術(shù),該技術(shù)能夠延長使用壽命且具有高負(fù)載循環(huán)能力。系統(tǒng)和半導(dǎo)體組件都是在高科技生產(chǎn)工藝下制造的,包括下線功能測試。如果需要,會進(jìn)行100%的老化測試,以確保產(chǎn)品的高品質(zhì)。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/231160.htm

3新穎的技術(shù)

影響功率系統(tǒng)效率和可靠性的因素有很多。為了實(shí)現(xiàn)能量、成本和空間效率的最大化,以及高可靠性,在設(shè)計和制造功率系統(tǒng)的過程中,將最好的硅元件、封裝、布局、熱性能以及控制結(jié)合起來是重要的。如果設(shè)計者依靠現(xiàn)成的組件,這通常是困難的。能夠優(yōu)化硅元件的選擇并能夠?yàn)橄到y(tǒng)的最優(yōu)性能將其連接起來是重要的。

許多系統(tǒng)供應(yīng)商關(guān)注單一的技術(shù),如MOSFET或IGBT,或可能專注于單一電壓應(yīng)用。然而,現(xiàn)今系統(tǒng)需求的很大差異,使得能夠從最廣泛的半導(dǎo)體技術(shù)中選出一個最適合應(yīng)用的技術(shù)是很重要的。此外,在設(shè)計過程中還必須考慮到許多取決于半導(dǎo)體技術(shù)的問題以及它們之間的關(guān)系,以確保硬件為應(yīng)用而進(jìn)行了優(yōu)化,這一點(diǎn)也是重要的。由于賽米控是功率半導(dǎo)體的主要制造商,它可以超越一些領(lǐng)域的界限,如溫度和尺寸大小。例如,公司生產(chǎn)的IGBT和MOSFET驅(qū)動器產(chǎn)量非常大,并由此開發(fā)了優(yōu)化過的專用集成電路(ASIC),大大減少了元件的數(shù)量,提高了可靠性,同時顯著減小了尺寸。

當(dāng)前的電力電子發(fā)展目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)更高的電流密度、系統(tǒng)集成度和更高的可靠性。同時,要求低成本、標(biāo)準(zhǔn)化接口以及靈活的模塊化系列產(chǎn)品的呼聲也越來越多。賽米控通過使用在輔助和負(fù)載連接方面使用彈簧觸點(diǎn)而引領(lǐng)了潮流。

經(jīng)典模塊設(shè)計的可靠性,對于許多開發(fā)中的電力電子應(yīng)用來說是不夠的。例如,這些模塊都受限于其承受被動溫度循環(huán)的能力。因此,必須開發(fā)能夠適應(yīng)現(xiàn)代應(yīng)用高可靠性要求的新技術(shù)。

功率模塊壽命的一個主要限制是焊錫疲勞的問題。在傳統(tǒng)的結(jié)構(gòu)中,這是功率模塊使用壽命終結(jié)的一個原因,特別是在較高的溫度波動下,這在大多數(shù)應(yīng)用中是很突出的。已開發(fā)出幾種新技術(shù)來消除所有焊錫層。與傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)相比,每種技術(shù)都提供一個小的優(yōu)勢,但結(jié)合在一起,帶來了巨大的效益。

由更高的溫度和更寬的溫度變動幅度導(dǎo)致的最顯著問題是焊層的脫落。在最新的系統(tǒng)中,通過使用燒結(jié)技術(shù)而非焊接來將半導(dǎo)體芯片與陶瓷基板相連,此問題已得到徹底解決。這意味著更高的運(yùn)行溫度和更高的可靠性會成為可能。燒結(jié)鍵合是一個薄銀層,與焊點(diǎn)相比具有優(yōu)越的熱阻,空洞很少也很小。它不受制于影響焊點(diǎn)的脫落現(xiàn)象,從而熱阻小,幾萬次功率循環(huán)后仍舊保持小阻值。銀的高熔點(diǎn)還可以防止過早的材料疲勞。



評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉