面向未來的測試解決方案

　　以往，通常只有兩種自動測試方法：在線測試（ICT）和功能性測試。

　　隨著過去幾年內(nèi)PC性能的大幅提升，涌現(xiàn)出了大量新技術，為生產(chǎn)過程提供了大量可選的解決方案?，F(xiàn)在，測試過程覆蓋了產(chǎn)品制造過程的各個階段，包括了從PCB預檢到完整的功能性測試及加速壽命試驗。但是哪種方法才是正確的測試方案，以及什么階段采用這種方案呢？

　　涌現(xiàn)出的大量技術，例如自動光學檢測（AOI）和飛針測試（Flying Probe），已經(jīng)相當成熟，并且都被應用于一定的測試領域，但是這兩種平臺都有其局限性。通常而言，采用AOI方法仍然需要較高的操作水平或編程支持。這主要是因為需要對模型間可接受的差異進行不斷的調(diào)校。許多廠家已經(jīng)采用了光學檢測技術，其中有些取得了不同程度的成功，但是有些則沒那么幸運。實際上該技術對工藝均產(chǎn)生了促進作用，但代價不同。也就是說，盡管AOI是對檢測工藝非常好的一種補充技術，但是它僅能夠提供部分測試方案。

　　同樣，第三代飛針測試系統(tǒng)也提供了非常卓越的測試功能，是現(xiàn)在最接近于傳統(tǒng)在線測試系統(tǒng)的技術。盡管該技術無需專用的測試夾具，控制了測試成本，但是這通常是以犧牲測試時間為代價的。

　　因此，傳統(tǒng)的I

CT和功能性測試解決方案仍然是許多制造商的首選方案。

　　傳統(tǒng)的測試解決方案可能會涉及到多個測試階段（如圖1），需要占用很大的空間和人力資源…

　　集成

　　過去20年內(nèi)的技術進步為我們提供了VXI、PCI等平臺，以及最近興起的PXI平臺。新涌現(xiàn)出的技術，例如PXI Express和LXI尚未達到成熟階段。所有這些擴展技術的發(fā)展都依賴于PC性能的提升。

　　通過對基本的PC控制器平臺進行擴展，采用PXI和PXI Express技術，許多主流廠家已經(jīng)推出了各種插卡，并且每天都會有新功能和新類型的插卡出現(xiàn)。盡管有時候這些插卡具有專用的功能，但需要使用專用的硬件。

　　PXI技術集成了全功能的在線測試平臺，并具有功能上的靈活性，能夠為許多測試問題提供理想的解決方案，尤其是其生產(chǎn)能力、平臺的將來擴展靈活性，并且最有效地利用了寶貴的空間。

　　基于一種解決方案集成測試流程（如圖2），會產(chǎn)生可觀的節(jié)約。

　　采用多功能測試系統(tǒng)具有很多優(yōu)點。例如，當產(chǎn)品壽命結束或產(chǎn)品發(fā)生變化，需要對測試平臺進行改造時，無需重新構建嶄新的平臺，而僅僅需要改進或增加系統(tǒng)的測試資源即可。

　　在采用了.NET代碼的現(xiàn)代測試語言之后，軟件不兼容的問題將成為歷史?，F(xiàn)在許多PXI卡都提供與.NET兼容的代碼，但是有些卻并不提供……。現(xiàn)在有些工具可以將原來的.DLL、IVI-C或 IVI-COM驅(qū)動轉(zhuǎn)換為.NET兼容的驅(qū)動，從而可以將之前及現(xiàn)在的新軟件混合使用。

　　運行來自于不同測試語言的測試代碼，并在一個程序中執(zhí)行，例如Visual Basic、C#、Teststand或Labview，可生成程序的最終功能。由于無需重新編寫以前項目的代碼，所以充分利用了編程工程師的時間。

　　多架構

　　“多架構”是測試圈內(nèi)聽到越來越多的一句行話，但是它究竟是什么意思呢？

　　通過將在線式測試和功能性測試平臺集成到一個僅采用單機柜的集成式解決方案，從而實現(xiàn)測試過程的流水作業(yè)。由于流水線式測試過程能夠節(jié)約成本、測試時間和寶貴的空間，所以驟然成為了升級至這種平臺類型的重要原因。

　　多功能

　　若要求將繁忙的生產(chǎn)部門所必需的所有測試資源都集成到單臺測試系統(tǒng)，確實是個苛刻的要求。許多情況下，一種折中的辦法是系統(tǒng)中包括頻率計數(shù)器、函數(shù)發(fā)生器、數(shù)字萬用表（DMM）和精密信號源作為核心硬件。在需要時，是否能夠增加專用資源的能力也是一項重要因素。

　　所需的就是要有一套兼容的硬件，可方便地集成到一個解決方案。PXI卡則能滿足這方面的要求。采用如上所述的軟件工具，集成軟件驅(qū)動，就基本上可以在需要時隨時滿足功能要求。

　　并行測試是許多廠家聲稱具備的一項功能，但是它通常需要對兩組測試路由進行時間分割或順序切換?，F(xiàn)在，隨著PC性能的大幅提升，新技術可以提供真正的并行測試能力。測試序列可以是相同代碼的兩個實例，或者不同的例程，但是可以同時執(zhí)行。

　　由于邏輯器件會出現(xiàn)頻繁的電壓下降，所以就很難找到能夠提供必要測試能力的“現(xiàn)成”資源。為了提供最大的覆蓋范圍，數(shù)字測試硬件現(xiàn)在就需要覆蓋所有流行的邏輯器件，從1.8 V直到3.3 V，再到傳統(tǒng)的5 V TTL及更高?？炷Ｊ剿俾适欠浅ｊP鍵的，“Per Pin”存儲器是必需的，若需更精確還需要“Pin Face”，需要好的工具進行信號分析。這種要求可能很苛刻，也許并非那么苛刻。

　　全新的解決方案

　　Aeroflex已經(jīng)對其屢獲殊榮的新5800系列測試系統(tǒng)進行了改進。除了在此之前具備的完全兼容21槽PXI背板、集成式以及三種結構的特點之外，在此基礎之上，該系統(tǒng)現(xiàn)在又新增了數(shù)字硬件，從而兼容在線式測試解決方案。

　　現(xiàn)在，5800系統(tǒng)成為了分散式測試平臺的一個真正替代產(chǎn)品，它以單機柜PXI解決方案的形式組合了最佳的模擬和數(shù)字測試硬件。該系統(tǒng)的三種結構形式（臺式、落地式或機架式）可完全滿足測試要求。當需要多邏輯通路進行升級時，可從臺式轉(zhuǎn)換為機架安裝式。靈活的接口可直接通過電纜連接專用的測試夾具，或者利用各種定制或?qū)Ｓ玫?SPAN onmouseover="javascript:setVal('轉(zhuǎn)換器'); companyAdEvent.show(this,'companyAdDiv',[5,18])" onmouseout="companyAdEvent.out('companyAdDiv')">轉(zhuǎn)換器進行連接，例如Virginia面板、Mac面板等。

　　開放式軟件架構幾乎能夠和任何 .NET兼容代碼混合用于測試序列中。Aeroflex的測試程序AIDE（Aeroflex集成式設計環(huán)境）吸取了當前測試語言的精華，能夠調(diào)用其它語言的代碼，例如VB、Labview或 C#，從而運行以前的程序。此外，如果需要其它測試程序，例如NI Teststand，也可以利用AIDE代碼。

　　現(xiàn)在，與功能齊全的硬件平臺相結合形成了一款真正開放的軟件架構，測試經(jīng)理終于有一套完備的多架構、多功能測試方案可以利用了。