NI將于4月主辦第二屆“設(shè)計、驗證及測試論壇”
美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布主辦第二屆“設(shè)計、驗證及測試論壇” (Design Validation Test Forum,即DVTF 2005)。延承2004年第一屆DVTF的成功之勢,本屆論壇將于2005年4月15日在上海國際會議中心舉行,NI誠邀行業(yè)內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的多家優(yōu)秀企業(yè),如英特爾(Intel)、科梁科技(AEETEK)等共同參與,為廣大測試測量行業(yè)的工程技術(shù)人員提供一個絕佳的學(xué)習(xí)與交流平臺。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/4498.htm主辦商負(fù)責(zé)人,NI中國分公司技術(shù)市場經(jīng)理朱君女士表示:“虛擬儀器技術(shù)一直與最尖端的商業(yè)科技密不可分,為工程師們和科學(xué)家們提供更強(qiáng)大的工具,完成測試測量和自動化工作。在此次活動中,NI攜手其他行業(yè)先鋒共同展示最新技術(shù),希望能夠提供一個學(xué)習(xí)的平臺來幫助用戶解決實際應(yīng)用中的挑戰(zhàn)。”
此次論壇將分為熱點技術(shù)專題與實時應(yīng)用專題同時進(jìn)行。10余場內(nèi)容豐富的專題研討會,現(xiàn)場的產(chǎn)品展示,與各參展商和行業(yè)內(nèi)人士的面對面交流,必將使您不虛此行,絕對是不容錯過的行業(yè)盛會!
熱點技術(shù)專題為設(shè)計、測試以及自動化行業(yè)的軟/硬件工程師、以及希望學(xué)習(xí)測試測量行業(yè)發(fā)展趨勢和最新技術(shù)的專業(yè)人士而度身定制,專題包括:最新總線標(biāo)準(zhǔn)—PCI Express, 了解如何運(yùn)用這一技術(shù)來減少測試工作的時間,并解決新的應(yīng)用問題;運(yùn)用Microsoft.NET技術(shù)來開發(fā)測試及測量應(yīng)用;運(yùn)用了LabVIEW和FPGA的NI最新RIO技術(shù),使您自定義測量硬件電路,等。實時應(yīng)用專題針對希望搭建一個具有魯棒性、可靠性和確定性的測量、控制及自動化系統(tǒng)的專業(yè)人士,在這一主題的論壇中,您將了解到NI及其它行業(yè)專家為測量及控制系統(tǒng)所提供的實時平臺。
多年來,NI依托其旗艦產(chǎn)品LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境和全系列的模塊化硬件,為世界各地的用戶提高生產(chǎn)效率并降低成本。此次NI中國聯(lián)合其他行業(yè)先鋒舉辦技術(shù)論壇,也是為了更好地服務(wù)于本地用戶,提供最大限度的支持。本次活動由《電子產(chǎn)品世界》雜志承辦,請登陸www.edw.com.cn/dvtf.htm,或致電010-68578429報名參與。
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