- 便攜式超聲設備及SHARC 2147x處理器的應用分析,浮點數字信號處理已成為精密技術的一貫需求,航空、工業(yè)機器和醫(yī)療保健等領域要求較高精度的應用通常都有這個需求。醫(yī)療超聲設備是目前在用的最復雜的信號處理機器之一,并且逐漸向便攜式領域擴展。其面臨的挑戰(zhàn)在于
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處理器 應用 分析 2147x SHARC 超聲 設備及 便攜式
- IC智能卡作為信息時代的新型高技術存儲產品,具有容量大、保密性強以及攜帶方便等優(yōu)點,被廣泛應用于社會生活的各個領域。通常所說的IC卡,是把含有非揮發(fā)存儲單元NVM或集成有微控制器MCU等的IC芯片嵌裝于塑料基片而
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分析 機理 失效 智能卡 IC
- 1 引言
目前通信領域正處于急速發(fā)展階段,由于新的需 求層出不窮,促使新的業(yè)務不斷產生,因而導致頻率資源越來越緊張。在有限的帶寬里要傳輸大量的多媒體數據,提高頻譜利用率成為當前至關重要的課題,否則將
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原理 分析 解調 調制 相位 QAM 連續(xù)
- 幅度分離電路 典型的幅度分離電路如圖8 - 2所示。它是由一只晶體管和電容C、 電阻RB、 RC構成。輸入信號是檢波后的視頻全電視信號, 通常峰峰值在2V左右。輸出的信號是復合同步信號, 為簡單起見, 圖中只畫出了行同步
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原理 分析 工作 電路 分離 幅度
- 1 、失效模式:
產品中相同結構手插件 LED 的失效位號隨機分布,失效比例高的 LED 集中在近離 PCB 板面的 LED 。 LED 的結構參考 figure 1 。
2 、失效機理:
組裝時的機械應力導致 LED 引腳移
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分析 圖解 失效 應力 機械 LED
- 一、地的分類工程師在設計電路時,為防止各種電路在電路正常工作中產生互相干擾,使之能相互兼容地有效工作。根據電路的性質,將電路中“零電位”———“地”分為不同的種類,比
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電路設計 分析
- 各國電信運營商都在積極推進和建設FTTx網絡。在FTTx網絡的應用過程中,也帶來了接入層網絡和接入層設備供電的變革,并引發(fā)了業(yè)界對FTTx終端設備后備供電保障的思考和大討論。1. FTTx帶給接入層網絡的變革1.1 接入層網
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保障 分析 供電 后備 終端設備 FTTx
- 摘要:DMF5005N是日本東芝公司生產的點陣式圖形液晶顯示模塊。它具有體積小、重量輕、低電壓、低功耗等特點。文中介紹了它的整體結構,并對控制器T6963C、行和列驅動器T6A40和T6A39的工作原理和功能進行了詳細地分析
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電路 分析 模塊 液晶顯示 點陣 圖形 DMF5005N
- PEMFC氫能發(fā)電機發(fā)出的是變化范圍較大的直流電,必須經過穩(wěn)壓、逆變等轉換后,獲得穩(wěn)定的輸出電壓后才能應用于負載。在PEMFC發(fā)電機的控制系統(tǒng)電源采用自發(fā)電供電時,電源系統(tǒng)需要適應發(fā)電機的輸出特性。控制系統(tǒng)正常
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設計 分析 電源 控制系統(tǒng) PEMFC 基于
- 1 概述隨著現代通信設備的迅速發(fā)展,特別是微電子技術的發(fā)展,伴隨著各種電源的發(fā)展,各種各樣的 PWM型直流變換器集成控制器也不斷出現,這使開關穩(wěn)壓電源的元件數量大幅度減少。這不但使開關穩(wěn)壓電源的可靠性提高,而且還
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分析 芯片 PWM 控制器 電源
- 分析基于ADI的心電監(jiān)護儀綜合系統(tǒng)的設計原理,如果單獨的做ECG監(jiān)護儀的話,采用ADI的這個方案,無疑是比較合理的。但我們公司的產品是多參數的醫(yī)療監(jiān)護儀,可以監(jiān)測ECG,人體呼吸,導聯脫落檢測,血壓,血氧等五項生理參數。ECG測量部分的方塊圖如下所示:人體呼
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ADI 分析 心電監(jiān)護儀 系統(tǒng)
- LED燈具有節(jié)能、環(huán)保的優(yōu)勢,在燈具產業(yè)的發(fā)展已成為主要趨勢。由于LED所使用的技術及產品屬性已與傳統(tǒng)燈具大不相同,因此現行的一般燈具安全標準規(guī)范顯然已不適用.那么LED燈具有哪些技術及特性呢?我們將和你一起解
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LED 分析 燈具 安規(guī)要求
- 引言目前,在嵌入式處理器芯片中,以ARM7為核心的處理器是應用較多的一種。它具有多種工作模式,并且支持兩種不同的指令集(標準32位ARM指令集和16位Thumb指令集)。mu;C/OSII是專為嵌入式應用設計的搶占式、多任務
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優(yōu)化 方法 分析 過程 ARM7 中斷 C/OSII
- Feist解釋說,上一代FPGA設計套件采用單維基于時序的布局布線引擎,通過模擬退火算法隨機確定工具應在什么地方布置邏輯單元。使用這類工具時,用戶先輸入時序,模擬退火算法根據時序先從隨機初始布局種子開始,然后在
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多維 布局 分析
- :EL檢測儀,又稱太陽能組件電致發(fā)光缺陷檢測儀,是跟據硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺陷檢測及生產工藝監(jiān)控的專用測試設備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光,測試儀下
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缺陷 分析 EL 組件 電池 晶體
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