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存儲(chǔ)器
存儲(chǔ)器 文章 進(jìn)入存儲(chǔ)器技術(shù)社區(qū)
基于K9WBG08U1M的大容量存儲(chǔ)器介紹
- 基于K9WBG08U1M的大容量存儲(chǔ)器介紹,O 引言隨著航空航天航海等技術(shù)的發(fā)展,無(wú)論是星載還是艦載方面的技術(shù)要求,都迫切希望有一種能夠在惡劣環(huán)境(高溫、低溫、振動(dòng))下正常工作,并且易于保存的大容量視頻記錄設(shè)備,以滿足數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)方面的要求。早期的
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基于FPGA的抗SEU存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
- 基于FPGA的抗SEU存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn),O 引言隨著我國(guó)航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展,衛(wèi)星的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。然而,太空環(huán)境復(fù)雜多變,其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子,它們對(duì)運(yùn)行于其中的電子器件會(huì)產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。輻射效應(yīng)對(duì)電子器件的影響不可忽視
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抗SEU存儲(chǔ)器的FPGA設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
- 抗SEU存儲(chǔ)器的FPGA設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn),O 引言 隨著我國(guó)航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展,衛(wèi)星的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。然而,太空環(huán)境復(fù)雜多變,其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子,它們對(duì)運(yùn)行于其中的電子器件會(huì)產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。輻射效應(yīng)對(duì)電子器件的影響不可
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一種OTP存儲(chǔ)器片上時(shí)序信號(hào)產(chǎn)生電路的設(shè)計(jì)
- 摘要:設(shè)計(jì)了一種用于OTP存儲(chǔ)器的片上時(shí)序信號(hào)產(chǎn)生電路。由地址變化探測(cè)電路和脈沖寬度調(diào)整電路組成。地址變化檢測(cè)電路檢測(cè)地址信號(hào)的變化,再由脈沖寬度調(diào)整電路產(chǎn)生一個(gè)寬度適中的時(shí)序信號(hào),用于內(nèi)部時(shí)序控制。其具
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單片機(jī)的存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)繪圖設(shè)計(jì)
- 本文提出了一種從存儲(chǔ)器導(dǎo)出數(shù)據(jù),并運(yùn)用MATLAB進(jìn)行數(shù)據(jù)進(jìn)制轉(zhuǎn)換、繪圖的方法,繪制的圖形能很好地復(fù)現(xiàn)模擬信號(hào)源信號(hào),對(duì)單片機(jī)調(diào)試分析具有一定幫助。1 理論分析A/D轉(zhuǎn)換器是連接模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)的橋梁,現(xiàn)有單片
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單片機(jī)系統(tǒng)存儲(chǔ)器的測(cè)試方法研究
- 在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中,存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過(guò)測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來(lái)的破壞問(wèn)題。本文針對(duì)
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存儲(chǔ)器介紹
什么是存儲(chǔ)器
存儲(chǔ)器(Memory)是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的記憶設(shè)備,用來(lái)存放程序和數(shù)據(jù)。計(jì)算機(jī)中的全部信息,包括輸入的原始數(shù)據(jù)、計(jì)算機(jī)程序、中間運(yùn)行結(jié)果和最終運(yùn)行結(jié)果都保存在存儲(chǔ)器中。它根據(jù)控制器指定的位置存入和取出信息。
存儲(chǔ)器的構(gòu)成
構(gòu)成存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)介質(zhì),目前主要采用半導(dǎo)體器件和磁性材料。存儲(chǔ)器中最小的存儲(chǔ)單位就是一個(gè)雙穩(wěn)態(tài)半導(dǎo)體電路或一個(gè)CMOS晶體管或磁性材 [ 查看詳細(xì) ]
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