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柵極導(dǎo)電層Au 遷移導(dǎo)致放大器失效原因分析
- 柵極導(dǎo)電層Au 遷移導(dǎo)致放大器失效原因分析,針對限幅低噪聲放大器使用過程中出現(xiàn)輸出不穩(wěn)定現(xiàn)象,利用掃描電鏡和能譜儀對場效應(yīng)管柵極表面的金屬缺失層和柵源之間的金屬堆積物進行微觀分析,尋找放大器工作不正常的原因。結(jié)果表明:場效應(yīng)管柵極Au層的電遷移,使導(dǎo)線局部電阻增大,溫度升高,導(dǎo)致Au 的熱遷移加重,引起導(dǎo)線出現(xiàn)孔洞和柵源中間堆積金屬顆粒,使柵極導(dǎo)線出現(xiàn)開路和柵源極間產(chǎn)生不穩(wěn)定接觸,最終導(dǎo)致場效應(yīng)管的工作參數(shù)漂移和放大器工作不正常。
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用MAX2648 5GHz LNA設(shè)計獲得高頻穩(wěn)定性
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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放大器(lna)介紹
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