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NXP將推出50種采用SiGe:C BiCMOS工藝技術(shù)的射頻/微波產(chǎn)品

  •   恩智浦半導(dǎo)體(NXP Semiconductors)近日宣布推出一系列采用最新SiGe(硅鍺)工藝技術(shù)開發(fā)、針對高頻無線電應(yīng)用的新產(chǎn)品,旨在滿足行業(yè)對更強(qiáng)大、高性價(jià)比和高集成度硅基技術(shù)日益增長的需求。恩智浦將在2010年底前推出超過50種采用SiGe:C技術(shù)的產(chǎn)品,其QUBiC4 SiGe:C工藝技術(shù)可提供高功率增益和優(yōu)良的動態(tài)范圍,專為滿足現(xiàn)實(shí)生活中無線、寬帶通信、網(wǎng)絡(luò)和多媒體市場領(lǐng)域的高頻應(yīng)用需要而設(shè)計(jì)。2010年5月25日至27日在加利福尼亞州阿納海姆舉行的“2010年IEEE MT
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可設(shè)定10~100秒的長時(shí)間C-MOS定時(shí)電路

  • 電路的功能若要用555芯片組成長時(shí)間定時(shí)電路,R用高阻值,便可加長CR時(shí)間常數(shù),但是,由于內(nèi)部比較器的輸入偏流較大,難以充電到門限電壓,比較器無法驅(qū)動,為此,本電路采用了偏流非常小的C-MOS定時(shí)器芯片,選用高阻
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移動倡議綠色無線接入 C-RAN體現(xiàn)5大優(yōu)勢

  • 2010年4月23日,由中國移動研究院主辦的無線接入網(wǎng)綠色演進(jìn)(C-RAN)國際研討會在北京舉行。中國移動研究院副院長...
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根據(jù)μc/Os-Ⅱ就緒表算法在ARM架構(gòu)上的改動

  • 根據(jù)μc/Os-Ⅱ就緒表算法在ARM架構(gòu)上的改動, μc/Os-Ⅱ的就緒表設(shè)置、清除、查找算法,是高效的、跨平臺的程序。它使用了兩個(gè)查找數(shù)組OSMapTbl[8]和OSUnMapTbl[256],以提高查找就緒表的速度,盡快獲取就緒任務(wù)的最高優(yōu)先級。   Cortex-M3是ARM公司較新的一
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μc/Os-Ⅱ就緒表算法在ARM架構(gòu)上的改動

  • μc/Os-Ⅱ就緒表算法在ARM架構(gòu)上的改動, Cortex-M3推出時(shí),筆者就認(rèn)定它是單片機(jī)過渡到ARM的有力工具,其小存儲量使得它更適合用小型實(shí)時(shí)系統(tǒng)。在學(xué)習(xí)μC/OS-Ⅱ的過程中,發(fā)現(xiàn)其就緒表操作算法經(jīng)過改動或許更好,于是就做了本文所述的試驗(yàn)。
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EPA通信協(xié)議在μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

  • EPA通信協(xié)議在μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),本文提出了一種基于μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)的EPA通信協(xié)議的實(shí)現(xiàn)方案。簡要介紹了EPA通信協(xié)議和模型,針對在以μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)為平臺實(shí)現(xiàn)EPA設(shè)備通信的需求,提出了設(shè)計(jì)思路及其構(gòu)建方法,并在實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)上得到應(yīng)用。
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基于μc/OS-II的多傳感器測控系統(tǒng)研究


  • 摘要:移植典型的實(shí)時(shí)嵌入式操作系統(tǒng)μc/OS-II到SPCE061高性能處理器平臺,結(jié)合工程項(xiàng)目對于溫度濕度氧濃度的要求,構(gòu)建了實(shí)時(shí)嵌入式多傳感器測控系統(tǒng)。介紹了硬件電路的設(shè)計(jì),研究了實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)任務(wù)分配和移植技
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μC/OS-II在壓力測控系統(tǒng)中的應(yīng)用

  • μC/OS-II在壓力測控系統(tǒng)中的應(yīng)用,本文將嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng) µC/OS-II應(yīng)用到壓力測控裝置進(jìn)行工業(yè)控制,詳細(xì)敘述了將將嵌入式操作系統(tǒng)嵌入到 SOC構(gòu)架的單片機(jī) C8051F041上的方法,并在該基礎(chǔ)上,結(jié)合 PID控制算法,加入了比例控制算法,提高了系統(tǒng)的快速響應(yīng),提高了系統(tǒng)軟件的可靠性和實(shí)時(shí)控制性能。
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LPC2292芯片的μC/OS-II硬件抽象層構(gòu)建

基于LPC2292和μC/OS-II的無線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 選用LPC2292作為控制器,以μC/OS-II構(gòu)建軟件平臺,采用GPRS作為無線通信手段,并用溫濕度傳感器構(gòu)成采集單元采集環(huán)境溫濕度信息,通過GPRS和控制中心交互,設(shè)計(jì)了一種無線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的軟硬件實(shí)現(xiàn)方法。該系統(tǒng)以模塊化完成,其實(shí)現(xiàn)方法具有一定的通用性。
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μC/OSII嵌入式操作系統(tǒng)在機(jī)電控制中的應(yīng)用

  • μC/OSII嵌入式操作系統(tǒng)在機(jī)電控制中的應(yīng)用, 引言
    今天,嵌入式系統(tǒng)已滲透到日常生活的方方面面,帶來的工業(yè)年產(chǎn)值已超過1萬億美元,在工業(yè)控制、消費(fèi)電子等領(lǐng)域的應(yīng)用范圍不斷擴(kuò)大,而機(jī)電控制是嵌入式系統(tǒng)技術(shù)的一個(gè)典型應(yīng)用,采用嵌入式的機(jī)器人、SONY
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基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的低功耗開發(fā)

  • 基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的低功耗開發(fā), 隨著嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用的日益廣泛,如何實(shí)現(xiàn)嵌入式系統(tǒng)的低功耗開發(fā)已經(jīng)成為嵌入式應(yīng)用發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)之一,是近幾年來人們在嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn)。嵌入式系統(tǒng)正被廣泛應(yīng)用于移動性較強(qiáng)的產(chǎn)品中去
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基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測試系統(tǒng)

  • 基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測試系統(tǒng), 1 引言  Modbus 協(xié)議最初由Modicon 公司開發(fā)出來,1979 年末該公司成為施耐德自動化 (Schneider Automation)部門的一部分?,F(xiàn)在Modbus 協(xié)議已經(jīng)是工業(yè)領(lǐng)域全球最流行的協(xié) 議。Modbus 協(xié)議為應(yīng)用層報(bào)文傳輸協(xié)議
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半導(dǎo)體C-V測量基礎(chǔ)

  •   通用測試   電容-電壓(C-V)測試廣泛用于測量半導(dǎo)體參數(shù),尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外,利用C-V測量還可以對其他類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析,包括雙極結(jié)型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導(dǎo)體器件。   這類測量的基本特征非常適用于各種應(yīng)用和培訓(xùn)。大學(xué)的研究實(shí)驗(yàn)室和半導(dǎo)體廠商利用這類測量評測新材料、新工藝、新器件和新電路。C-V測量對于產(chǎn)品和良率增強(qiáng)工程師也是極其重要的,
  • 關(guān)鍵字: 吉時(shí)利  C-V測試  半導(dǎo)體  MOSFET  MOSCAP  
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