USB3.0的物理層接收端的測試方法
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差分電壓擺幅測試
本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/106228.htm差分電壓擺幅測試的目的是驗(yàn)證信號峰峰值是否在0.8-1.2V之間。測試中Device Under Test(簡稱DUT)需要發(fā)送出測試碼型CP8(CP是Compliance Pattern的簡寫，在USB3的物理層測試中，各項(xiàng)測試需要不同的測試碼型，USB3.0規(guī)范中定義了各種測試碼流，USB3.0的芯片廠商提供了軟件接口來配置其發(fā)送數(shù)據(jù)的碼型)，CP8由50-250個連續(xù)的1和50-250個連續(xù)的0重復(fù)交替組成，而且消除了去加重，其波形相當(dāng)于50-250分頻的時鐘。在這些測試中，把USB3.0測試夾具去嵌后測量結(jié)果更精確。
去加重比值測試
為了把5Gbps速率的數(shù)據(jù)傳送較遠(yuǎn)的距離，USB3.0的發(fā)送端使用了去加重技術(shù)，這項(xiàng)測試可以測量DUT的去加重程度是否滿足規(guī)范要求(要求在-3dB到-4dB之間)。測試時DUT發(fā)送出CP7碼流，CP7碼型由50-250個連續(xù)的1和50-250個連續(xù)的0重復(fù)交替組成，而且是添加了去加重的信號波形。圖3為某USB3.0芯片的去加重測量結(jié)果，該芯片采用了-3.47dB的去加重。
圖3：某USB3.0芯片的去加重比值測量
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