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USB3.0的物理層接收端的測(cè)試方法

作者: 時(shí)間:2010-02-24 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  眼圖與抖動(dòng)測(cè)試

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/106228.htm

  在的TX的眼圖和抖動(dòng)測(cè)試中,測(cè)量的是待測(cè)試信號(hào)經(jīng)過參考測(cè)試信道后TP1點(diǎn)的眼圖和抖動(dòng)。如下圖4中的Reference test channel即為參考測(cè)試信道,在規(guī)范中定義了long channel、short channel和3米電纜三種參考測(cè)試信道。如果使用long channel或者較長(zhǎng)電纜,信號(hào)到達(dá)時(shí)衰減比較大,眼圖已經(jīng)閉合,芯片使用了CTLE均衡器對(duì)信號(hào)進(jìn)行均衡后(CTLE均衡器介紹見本文最后一部分),信號(hào)眼圖的質(zhì)量將大大改善,所以要求測(cè)試儀器分析出CTLE均衡器處理后信號(hào)的眼圖和抖動(dòng)。

  

 

  圖4:的TX的眼圖測(cè)試點(diǎn)(來自USB3.0規(guī)范)

  如下圖5所示,左邊的眼圖是靠近TX近端測(cè)量到的眼圖;中間的眼圖是通過兼容性信道(參考測(cè)試信道)后測(cè)量的眼圖,可見眼圖的張開程度較小,抖動(dòng)較大;右邊的眼圖是仿真CTLE均衡后的眼圖,可見眼高和抖動(dòng)都得到改善。

  

 

  圖5:USB3.0的Transmitter測(cè)試在近端、遠(yuǎn)端和均衡后的眼圖對(duì)比

  眼圖和抖動(dòng)測(cè)試中信號(hào)源需要發(fā)出特別的測(cè)試碼型,對(duì)于眼圖測(cè)試,需要CP0碼型(擾碼的D0.0),對(duì)于抖動(dòng)測(cè)試,需要CP0碼流或者CP1碼流(D10.2),前者用于確定性抖動(dòng)Dj的測(cè)量,后者用于隨機(jī)抖動(dòng)Rj的測(cè)量。眼高必須從連續(xù)的1百萬個(gè)比特疊加的眼圖中測(cè)量,SDA813Zi示波器完成1百萬比特的眼圖僅需2秒,速度是同類示波器的10-50倍以上。抖動(dòng)為10e-12誤碼率時(shí)抖動(dòng)的峰峰值(即總體抖動(dòng)Tj)。

  擴(kuò)頻時(shí)鐘測(cè)試(Spread Spectrum Clock Test)

  擴(kuò)頻時(shí)鐘經(jīng)常使用在計(jì)算機(jī)主板的電路上,用于減小電磁輻射。在USB3.0中,需要測(cè)試擴(kuò)頻時(shí)鐘的調(diào)制頻率和頻偏,測(cè)試時(shí)DUT發(fā)送出CP1碼型的數(shù)據(jù)流(CP1碼型為D10.2,即0101連續(xù)跳變的碼型,相當(dāng)于頻率2.5GHz的時(shí)鐘),規(guī)范要求擴(kuò)頻時(shí)鐘的調(diào)制頻率為30-33KHz之間,頻偏在0ppm到-5000ppm之間。如下圖6為示波器測(cè)量擴(kuò)頻時(shí)鐘的結(jié)果。

  

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